[發(fā)明專利]地層密度和電阻率關(guān)系的確定方法和裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710811319.6
• 申請日: 2017-09-11
• 公開（公告）號: CN107807409B
• 公開（公告）日: 2019-08-06
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 胡祖志;何展翔;石艷玲;劉云祥;徐禮貴;楊輝
• 申請（專利權(quán)）人: 中國石油天然氣集團(tuán)公司;中國石油集團(tuán)東方地球物理勘探有限責(zé)任公司
• 主分類號: G01V11/00
• 分類號: G01V11/00
• 代理公司: 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127
• 代理人: 李輝;徐煥

1.一種地層密度和電阻率關(guān)系的確定方法，其特征在于，包括：

獲取目標(biāo)區(qū)域的測井?dāng)?shù)據(jù)和地質(zhì)分層數(shù)據(jù)；

按照第一間隔，從所述測井?dāng)?shù)據(jù)中獲取多個第一采樣點(diǎn)的電阻率數(shù)據(jù)和密度數(shù)據(jù)；

根據(jù)所述地質(zhì)分層數(shù)據(jù)，合并位于同一地層的第一采樣點(diǎn)的電阻率數(shù)據(jù)和密度數(shù)據(jù)，得到所述目標(biāo)區(qū)域中各個地層的第一數(shù)據(jù)體；

根據(jù)各個地層的第一數(shù)據(jù)體，構(gòu)建關(guān)于地層密度和電阻率關(guān)系的多個關(guān)系函數(shù)；

從所述多個關(guān)系函數(shù)中，確定出符合預(yù)設(shè)要求的關(guān)系函數(shù)，作為所述目標(biāo)區(qū)域的地層密度和電阻率關(guān)系；

其中，根據(jù)各個地層的第一數(shù)據(jù)體，構(gòu)建關(guān)于地層密度和電阻率關(guān)系的多個關(guān)系函數(shù)，包括：

根據(jù)各個地層的第一數(shù)據(jù)體，按照以下公式，構(gòu)建關(guān)于地層密度和電阻率關(guān)系的多個關(guān)系函數(shù)，其中，所述多個關(guān)系函數(shù)包括以下至少之一：第一關(guān)系函數(shù)、第二關(guān)系函數(shù)、第三關(guān)系函數(shù)：

y₂＝a₀+a₁x

y₃＝a₀+a₁x+a₂x²

上式中，y₁為多個關(guān)系函數(shù)中第一關(guān)系函數(shù)的擬合密度，y₂為多個關(guān)系函數(shù)中第二關(guān)系函數(shù)的擬合密度，y₃為多個關(guān)系函數(shù)中第三關(guān)系函數(shù)的擬合密度，x為電阻率的對數(shù)，a₀為第一擬合系數(shù)，a₁為第二擬合系數(shù)，a₃為第三擬合系數(shù)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一間隔為5米。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，從所述測井?dāng)?shù)據(jù)中，獲取多個第一采樣點(diǎn)的密度數(shù)據(jù)，包括：

確定所述測井?dāng)?shù)據(jù)中是否包括密度測井?dāng)?shù)據(jù)；

在所述測井?dāng)?shù)據(jù)中包括密度測井?dāng)?shù)據(jù)的情況下，根據(jù)所述密度測井?dāng)?shù)據(jù)，確定所述多個第一采樣點(diǎn)的密度數(shù)據(jù)；

在所述測井?dāng)?shù)據(jù)中不包括密度測井?dāng)?shù)據(jù)的情況下，根據(jù)聲波測井?dāng)?shù)據(jù)，確定所述多個第一采樣點(diǎn)的密度數(shù)據(jù)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，根據(jù)聲波測井?dāng)?shù)據(jù)，確定所述多個第一采樣點(diǎn)的密度數(shù)據(jù)，包括：

按照以下公式確定所述多個第一采樣點(diǎn)的密度數(shù)據(jù)：

den＝a(b/AC)^1/4

上式中，den為密度數(shù)據(jù)，AC為聲波測井?dāng)?shù)據(jù)，a為第一系數(shù)，b為第二系數(shù)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，從所述多個關(guān)系函數(shù)中，確定出符合預(yù)設(shè)要求的關(guān)系函數(shù)，包括：

根據(jù)所述多個關(guān)系函數(shù)，確定所述多個關(guān)系函數(shù)中各個關(guān)系函數(shù)的評價參數(shù)；

根據(jù)所述各個關(guān)系函數(shù)的評價參數(shù)，確定評價參數(shù)中數(shù)值最大的關(guān)系函數(shù)，作為所述符合預(yù)設(shè)要求的關(guān)系函數(shù)。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，根據(jù)所述多個關(guān)系函數(shù)，確定所述多個關(guān)系函數(shù)中各個關(guān)系函數(shù)的評價參數(shù)，包括：

按照以下公式，確定關(guān)系函數(shù)的評價參數(shù)：

上式中，r²為關(guān)系函數(shù)的評價參數(shù)，y^obs為實(shí)測密度，y為關(guān)系函數(shù)對應(yīng)的擬合密度，為關(guān)系函數(shù)對應(yīng)的擬合密度的平均值。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在獲取多個第一采樣點(diǎn)的電阻率數(shù)據(jù)和密度數(shù)據(jù)后，所述方法還包括：

對所述多個第一采樣點(diǎn)的電阻率數(shù)據(jù)和密度數(shù)據(jù)進(jìn)行低通濾波處理，得到處理后的第一采樣點(diǎn)的電阻率數(shù)據(jù)和密度數(shù)據(jù)；

相應(yīng)的，根據(jù)所述地質(zhì)分層數(shù)據(jù)，合并位于同一地層的第一采樣點(diǎn)的電阻率數(shù)據(jù)和密度數(shù)據(jù)，得到所述目標(biāo)區(qū)域中各個地層的第一數(shù)據(jù)體，包括：

根據(jù)所述地質(zhì)分層數(shù)據(jù)，合并位于同一地層的處理后的第一采樣點(diǎn)的電阻率數(shù)據(jù)和密度數(shù)據(jù)，得到所述目標(biāo)區(qū)域中各個地層的第一數(shù)據(jù)體。