[發明專利]用于分子檢測的分子載體在審
申請號: | 201710808070.3 | 申請日: | 2017-09-08 |
公開(公告)號: | CN109470682A | 公開(公告)日: | 2019-03-15 |
發明(設計)人: | 王營城;金元浩;李群慶;范守善 | 申請(專利權)人: | 清華大學;鴻富錦精密工業(深圳)有限公司 |
主分類號: | G01N21/65 | 分類號: | G01N21/65 |
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地址: | 100084 北京市海淀區清*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索關鍵詞: | 基底 中間層 圖案化凸起 分子檢測 分子載體 金屬層 襯底 柔性基底 | ||
1.一種用于分子檢測的分子載體,其包括:
一基底;
一中間層,設置于所述基底的表面;
一金屬層,設置于所述中間層遠離基底的表面;
其特征在于,所述基底為一柔性基底;所述中間層包括一襯底及多個設置在該襯底上的圖案化凸起;所述金屬層設置于所述圖案化凸起的表面。
2.如權利要求1所述的分子載體,其特征在于,所述基底的材料為聚對苯二甲酸乙二醇酯、聚酰亞胺、聚甲基丙烯酸甲酯、聚二甲基硅氧烷、以及聚萘二甲酸乙二醇酯中的一種。
3.如權利要求1所述的分子載體,其特征在于,所述襯底的厚度范圍為100納米-200納米。
4.如權利要求1所述的分子載體,其特征在于,所述圖案化凸起包括多個凸條交叉設置形成網絡結構,從而定義多個孔洞,所述多個凸條包括多個沿第一方向延伸的第一凸條和多個沿第二方向延伸的第二凸條,所述第一方向和第二方向的夾角大于等于30度小于等于90度,每個凸條的寬度為20納米-150納米,高度為20納米-500納米,且相鄰的兩平行凸條之間的間距為10納米-300納米。
5.如權利要求4所述的分子載體,其特征在于,每個凸條的寬度為50納米-100納米,高度為200納米-400納米,且相鄰的兩平行凸條之間的間距為10納米-50納米。
6.如權利要求1所述的分子載體,其特征在于,所述金屬層為連續的層狀結構,該金屬層設置在所述多個凸條的表面以及凸條之間的孔洞內。
7.如權利要求1所述的分子載體,其特征在于,所述金屬層為非連續的層狀結構,該金屬層僅設置于多個凸條的側壁及相鄰凸條之間的孔洞內。
8.如權利要求1所述的分子載體,其特征在于,所述金屬層的厚度范圍為2納米-200納米。
9.如權利要求1所述的分子載體,其特征在于,進一步包括一固定元件,該固定元件用于將所述金屬層固定于待測物的表面,該固定元件為固定帶、可彎折金屬框架中的一種。
10.如權利要求1所述的分子載體,其特征在于,該分子載體整體為柔性結構。
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