[發明專利]軟件缺陷描述關鍵要素的抽取方法有效
| 申請號: | 201710807651.5 | 申請日: | 2017-09-08 |
| 公開(公告)號: | CN107608883B | 公開(公告)日: | 2021-02-19 |
| 發明(設計)人: | 李鳳;李璐;肖莉 | 申請(專利權)人: | 中國農業銀行股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/36 | 分類號: | G06F11/36 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人: | 任巖 |
| 地址: | 100005 北京市東*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 軟件 缺陷 描述 關鍵 要素 抽取 方法 | ||
1.一種軟件缺陷描述關鍵要素的抽取方法,包括:
步驟S1,分解原始缺陷數據,提取缺陷要素;
步驟S2,根據提取的所述缺陷要素建立要素矩陣,并根據所述要素矩陣分解描述原始缺陷數據;
步驟S3,比較原始缺陷數據與利用要素矩陣描述的缺陷數據之間的差異;
步驟S4,基于所述差異,優化要素矩陣模型,篩選缺陷要素,確定軟件缺陷描述關鍵要素;
其中,在所述步驟S1之前,還包括:將n條原始缺陷描述數據轉換為矩陣形式,得到矩陣b:
式中,bi,1表示第i條原始缺陷描述數據;i=1,2,3……n;
所述步驟S1包括:
步驟S11,從矩陣b中取出b1,1數據,按照自然語言描述對其進行分解,提取若干缺陷要素;
步驟S12,對所述若干缺陷要素逐一進行判斷:若要素不存在,則新建這一要素;若存在,則將這一要素的命中次數加1;
步驟S13,重復步驟S11、S12,直至遍歷到矩陣b中的bn,1數據,提取所有缺陷要素x1,1,x2,1,x3,1......,xm,1,其中m為提取到的缺陷要素的總數;并統計各要素的命中次數;
所述步驟S2包括:
步驟S21,將提取到的所有缺陷要素x1,1,x2,1,x3,1......,xm,1組成矩陣,得到要素矩陣x,矩陣x的維度為dim(x),dim(x)=m;
步驟S22,將由原始缺陷數據組成的矩陣b中的每條數據bi,1根據矩陣x中的要素進行分解描述,形成矩陣A:
在所述步驟S3中,通過能量函數確定原始缺陷數據與利用要素矩陣描述的缺陷數據之間的差異,所述能量函數為:E(x)=||Ax-b||+C·dim(x);式中,C為矩陣x中的要素xi,1在n條缺陷數據中使用次數的臨界值;
其表示利用要素矩陣描述的缺陷數據Ax與原始缺陷數據b的差異,若利用要素矩陣描述的缺陷數據Ax與原始缺陷數據bi,1存在差異時,則ri,1=1,若不存在差異,則ri,1=0;||Ax-b||表示所有ri,j絕對值相加的和。
2.根據權利要求1所述的軟件缺陷描述關鍵要素的抽取方法,還包括步驟S5,篩選之后,分析缺陷要素之間相關性,確定軟件缺陷描述關鍵要素。
3.根據權利要求2所述的軟件缺陷描述關鍵要素的抽取方法,其中,所述步驟S4包括:
步驟S41,從要素矩陣x中選取要素xi,1,i取值從1開始;
步驟S42,若xi,1要素的命中次數ti小于C,則剔除要素xi,1,將dim(x)值減1,并計算E(x)=||Ax-b||+C·dim(x)得Ei(x),然后將i值加1,返回步驟S41;若ti大于C,直接將i值加1,返回步驟S41;
步驟S43,重復步驟S41、S42,至i取值為m終止,遍歷矩陣x所有要素直至xm,1;
步驟S44,比較所有Ei(x)的取值,確定min(E(x))值及使E(x)最小的要素集合;
步驟S45,輸出矩陣x中使E(x)最小的要素集合。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國農業銀行股份有限公司,未經中國農業銀行股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710807651.5/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





