[發(fā)明專利]用于測(cè)試電子部件的插座和測(cè)試點(diǎn)裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710805082.0 | 申請(qǐng)日: | 2017-09-08 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107807256B | 公開(公告)日: | 2021-05-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 克施文德特貝格爾·格哈德;彼得曼·馬努埃爾;萊克莫澤·沃爾克;斯坦尼謝夫斯基·杰拉爾德 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 綜合測(cè)試電子系統(tǒng)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R1/04 | 分類號(hào): | G01R1/04;G01R31/54 |
| 代理公司: | 北京超凡志成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 王暉;冀婷 |
| 地址: | 德國(guó)羅*** | 國(guó)省代碼: | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 測(cè)試 電子 部件 插座 裝置 | ||
一種用于測(cè)試電子部件的插座,包括:多個(gè)力感測(cè)對(duì),每個(gè)力感測(cè)對(duì)均包括力接觸彈簧和感測(cè)接觸彈簧,其中,力接觸彈簧和感測(cè)接觸彈簧位于彼此附近,并且其中,力接觸彈簧和感測(cè)接觸彈簧中的至少一個(gè)包覆有電絕緣涂層,力接觸彈簧和感測(cè)接觸彈簧在該電絕緣涂層處彼此抵靠。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明的實(shí)施方案涉及一種用于測(cè)試電子部件的插座以及一種包括多個(gè)測(cè)試插座的測(cè)試點(diǎn)裝置(test site arrangement)。
背景技術(shù)
在測(cè)試電子部件的后端過程中,為了達(dá)到正確的測(cè)試結(jié)果,需要電子部件的良好接觸。所謂的“開爾文接觸插座”使用電開爾文接觸來評(píng)估接觸彈簧與電子部件或所謂的DUT(“被測(cè)器件”)的末端的接觸。開爾文接觸要求接觸DUT的末端兩次。然而,在半導(dǎo)體技術(shù)的開發(fā)過程中,DUT的間距和測(cè)試點(diǎn)裝置的間距變得越來越小。
發(fā)明內(nèi)容
可能需要提供下述用于測(cè)試電子部件的插座,該插座在盡管測(cè)試點(diǎn)裝置的間距小的情況下也能評(píng)估與相應(yīng)電子部件的接觸質(zhì)量。為了滿足上述需要,提供了根據(jù)本申請(qǐng)的用于測(cè)試電子部件的插座和包括多個(gè)插座的測(cè)試點(diǎn)裝置。
根據(jù)本發(fā)明的實(shí)施方案,用于測(cè)試電子部件的插座包括:多個(gè)力感測(cè)對(duì),每個(gè)力感測(cè)對(duì)均包括力接觸彈簧和感測(cè)接觸彈簧,其中,力接觸彈簧和感測(cè)接觸彈簧位于彼此附近,并且其中,力接觸彈簧和感測(cè)接觸彈簧中的至少一個(gè)包覆有電絕緣涂層,力接觸彈簧和感測(cè)接觸彈簧在該電絕緣涂層處彼此抵靠或鄰接。
根據(jù)本發(fā)明的另一實(shí)施方案,測(cè)試點(diǎn)裝置包括多個(gè)插座,其中,所述多個(gè)插座布置成矩陣形式。
特別地,力接觸彈簧和感測(cè)接觸彈簧直接位于彼此附近。特別地,可限定有區(qū)域,在所述區(qū)域中力接觸彈簧和感測(cè)接觸彈簧彼此鄰接。該區(qū)域可以包括一個(gè)或多個(gè)區(qū)(在所述區(qū)中力接觸彈簧和感測(cè)接觸彈簧彼此鄰接)。特別地,在力接觸彈簧和感測(cè)接觸彈簧彼此抵靠或鄰接的區(qū)域中,力接觸彈簧或感測(cè)接觸彈簧中的任一個(gè)包覆有電絕緣涂層。術(shù)語(yǔ)“矩陣”可以指至少2x1或1x2的陣列。
術(shù)語(yǔ)“插座”可以指所謂的“開爾文插座”、“開爾文接觸插座”或簡(jiǎn)單的“接觸插座”,用作接觸彈簧的容器,所述接觸彈簧適于接觸單個(gè)電子部件或所謂的“DUT”(“被測(cè)器件”)的末端。
詞語(yǔ)“力感測(cè)對(duì)”可以指使用四端子感測(cè),也稱為開爾文感測(cè)(或4線測(cè)量)。同時(shí)被設(shè)計(jì)成將力感測(cè)對(duì)連接至DUT的單個(gè)末端或?qū)Ь€的接觸對(duì)通常被稱為開爾文接觸。因此,力感測(cè)對(duì)可以包括具有與感測(cè)接觸彈簧的輪廓非常類似的輪廓的力接觸彈簧。特別地,力接觸彈簧和感測(cè)接觸彈簧可以在很大程度上是一致的(congruent,疊合)。
詞語(yǔ)“接觸彈簧”可以指導(dǎo)電彈簧,包括:用于接觸DUT的末端的尖端;DUT側(cè)伸出臂,尖端位于其端部處,所述DUT側(cè)伸出臂允許尖端的彈性移動(dòng);測(cè)試器側(cè)尖端,用于接觸所謂的DUT板;以及測(cè)試器側(cè)伸出臂,測(cè)試器側(cè)尖端位于其端部處,所述測(cè)試器側(cè)伸出臂允許測(cè)試器側(cè)尖端的彈性移動(dòng)。取決于在開爾文接觸中接觸彈簧是用作力接觸還是感測(cè)接觸的電目的,“接觸彈簧”這個(gè)名稱可以適用于詞語(yǔ)“力接觸彈簧”和“感測(cè)接觸彈簧”。接觸彈簧可以通過用線切割EDM來切割金屬片而一體形成。
短語(yǔ)“位于彼此附近”可以指接觸和鄰接意義上的相鄰。位于彼此附近的表達(dá)可以明確地意指在某個(gè)點(diǎn)、某條線或某個(gè)區(qū)處相遇并接觸。詞語(yǔ)“測(cè)試點(diǎn)裝置”可以指插座(測(cè)試插座或特別地開爾文插座)的矩陣布置。特別地,插座矩陣可以布置在所謂的DUT板上,在ATE(自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備)中實(shí)現(xiàn)從DUT到測(cè)試器的電接觸。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于綜合測(cè)試電子系統(tǒng)有限公司,未經(jīng)綜合測(cè)試電子系統(tǒng)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710805082.0/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測(cè)量?jī)x器中所用的基本電氣元件的改進(jìn);這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測(cè)量?jī)x器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備,例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測(cè)量?jī)x器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測(cè)量?jī)x器的過負(fù)載保護(hù)裝置或電路
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 測(cè)試裝置及測(cè)試系統(tǒng)
- 測(cè)試方法及測(cè)試系統(tǒng)
- 一種數(shù)控切削指令運(yùn)行軟件測(cè)試系統(tǒng)及方法
- 一種在多種電子設(shè)備,尤其是在電子服務(wù)提供商的電子設(shè)備和電子服務(wù)用戶的電子設(shè)備之間建立受保護(hù)的電子通信的方法
- 一種電子打火機(jī)及其裝配方法
- 電子檔案管理系統(tǒng)
- 在處理系統(tǒng)化學(xué)分析中使用的電子束激勵(lì)器
- 電子文件管理方法和管理系統(tǒng)
- 一種有效電子憑據(jù)生成、公開驗(yàn)證方法、裝置及系統(tǒng)
- 電子文憑讀寫控制系統(tǒng)和方法
- 具有加密解密功能的智能化電子證件管理裝置
- 一種基于數(shù)字證書的電子印章方法及電子印章系統(tǒng)
- 一種電子印章使用方法、裝置及電子設(shè)備





