[發(fā)明專利]電介質(zhì)阻擋放電離子化檢測器有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710798472.X | 申請日: | 2017-09-07 |
| 公開(公告)號: | CN107807193B | 公開(公告)日: | 2020-01-31 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 品田惠;北野勝久 | 申請(專利權(quán))人: | 株式會社島津制作所;國立大學法人大阪大學 |
| 主分類號: | G01N30/64 | 分類號: | G01N30/64 |
| 代理公司: | 31291 上海立群專利代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人: | 毛立群;楊楷 |
| 地址: | 日本國*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電介質(zhì) 阻擋 放電 離子化 檢測器 | ||
1.一種電介質(zhì)阻擋放電離子化檢測器,具有:
a)電介質(zhì)管,對等離子體生成氣體流動的氣體流路的一部分進行容納;
b)高壓電極,圍繞設(shè)置于所述電介質(zhì)管的外壁;
c)2個接地電極,電氣地接地并圍繞設(shè)置于所述電介質(zhì)管的外壁的夾著所述高壓電極的位置;
d)電壓施加裝置,連接于所述高壓電極,在所述高壓電極與所述2個接地電極之間施加交流電壓,使得在所述電介質(zhì)管內(nèi)產(chǎn)生放電,從所述等離子體生成氣體生成等離子體;
e)電荷收集部,所述電荷收集部為所述氣體流路的比所述等離子體生成區(qū)域更下游的一部分,具備:試料氣體導入裝置,將試料氣體導入至該部分;收集電極,收集因從所述等離子體發(fā)出的光而從所述試料氣體中的試料成分生成的離子,
所述2個接地電極之中的一個接地電極與所述高壓電極之間的距離比兩者之間的放電開始距離長,另一個接地電極與所述高壓電極之間的距離比兩者之間的放電開始距離短。
2.如權(quán)利要求1所述的電介質(zhì)阻擋放電離子化檢測器,其特征在于,所述2個接地電極之中、位于所述氣體流路的上游側(cè)的接地電極與所述高壓電極之間的距離比兩者之間的放電開始距離短,位于下游側(cè)的接地電極與所述高壓電極之間的距離比兩者之間的放電開始距離長。
3.如權(quán)利要求1或2所述的電介質(zhì)阻擋放電離子化檢測器,其特征在于,所述等離子體生成氣體為氬氣。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于株式會社島津制作所;國立大學法人大阪大學,未經(jīng)株式會社島津制作所;國立大學法人大阪大學許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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