[發明專利]一種PCB板的介電常數檢測方法

有效

• 申請號: 201710797939.9
• 申請日: 2017-09-06
• 公開（公告）號: CN107703435B
• 公開（公告）日: 2019-12-31
• 發明（設計）人: 馮杰;張坤
• 申請（專利權）人: 晶晨半導體(上海)股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 31272 上海申新律師事務所
• 代理人: 俞滌炯

本發明提供一種PCB板的介電常數檢測方法，包括：步驟S1、提供一布局有信號線路的PCB板；步驟S2、采用一時域反射計測量并根據公式處理得到所述PCB板的介電常數。本發明的有益效果：能夠準確計算PCB板的介電常數，提高后續阻抗計算的準確性。

技術領域

本發明涉及PCB板檢測技術領域，尤其涉及一種PCB板的介電常數檢測方法。

背景技術

高頻高速板具有傳輸速度快、損耗低的特點，目前廣泛應用在3G/4G通信基站、平板電腦以及智能手機等方面。伴隨更方便、快捷的信息服務需求，如云計算處理器的開發，對材料的介電性能提出了更高的要求，在阻抗設計與控制中，介電常數對預算阻抗值和設計傳輸線有關參數起關鍵性作用。

例如，高速信號線都有一定的阻抗要求，但目前PCB板設計時都是根據板廠給出的介電常數進行計算，但由于表面高速信號傳輸上面為空氣，下面為PCB板，根據板廠給出的介電常數進行計算得到的計算結果僅是理論值，而不是實際的有效值，這樣就會造成阻抗的偏差，會帶來信號完整性的問題。

通常業界的做法，一是直接使用板廠給出介電常數值；二是根據經驗值計算有效介電常數，這些做法都存在上述問題。

發明內容

針對現有技術中存在的問題，本發明提供了一種PCB板的介電常數檢測方法。

本發明采用如下技術方案：

一種PCB板的介電常數檢測方法，其特征在于，包括：

步驟S1、提供一布局有信號線路的PCB板；

步驟S2、采用一時域反射計(Time-Domain Reflectometry，TDR)測量并根據下述公式處理得到所述PCB板的介電常數

其中，

ε_r用于表示所述介電常數；

c用于表示光速；

v用于表示所述信號傳輸速度。

優選的，所述步驟S2包括：

步驟S21、采用所述時域反射計對所述PCB板進行測量以得到所述PCB板上的所述信號傳輸速度；

步驟S22、根據所述信號傳輸速度和所述公式處理得到所述PCB板的所述介電常數。

優選的，所述步驟S21包括：

步驟S211、采用所述時域反射計對所述PCB板進行測量以得到對應所述信號線路的傳輸時間，所述傳輸時間對應所述預設走線長度；

步驟S212、根據所述預設走線長度和所述傳輸時間處理得到所述信號傳輸速度。

優選的，所述步驟S12中，采用下述公式處理得到所述信號傳輸速度：

v＝2s/t

其中，

v用于表示所述信號傳輸速度；

s用于表示所述預設走線長度；

t用于表示所述傳輸時間。

優選的，所述步驟S2中所述光速c＝11.8mil/ps。

優選的，所述介電常數檢測方法還包括：

步驟S3、通過比較所述介電常數與預設介電常數以判斷所述預設介電常數是否準確并輸出判斷結果。

本發明的有益效果是：能夠準確計算PCB板的介電常數，提高后續阻抗計算的準確性。

附圖說明