[發(fā)明專利]立體存儲(chǔ)器元件及其制作方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710797578.8 | 申請(qǐng)日: | 2017-09-06 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN109461741B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-03-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 江昱維;邱家榮 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 旺宏電子股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L27/11582 | 分類號(hào): | H01L27/11582;H01L27/11556 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 任巖 |
| 地址: | 中國(guó)臺(tái)灣新竹*** | 國(guó)省代碼: | 臺(tái)灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 立體 存儲(chǔ)器 元件 及其 制作方法 | ||
一種立體(three dimensional,3D)存儲(chǔ)器元件,包括:基材、多層疊層結(jié)構(gòu)(multi?layers stack)以及介電材質(zhì)。基材具有至少一個(gè)凹陷部,由基材表面沿第一方向延伸進(jìn)入基材。多層疊層結(jié)構(gòu)包括多個(gè)導(dǎo)電層和多個(gè)絕緣層平行第一方向交錯(cuò)疊層于凹陷部的底面上。其中,多層疊層結(jié)構(gòu)具有至少一個(gè)凹室沿第一方向穿過(guò)這些導(dǎo)電層和絕緣層;此凹室具有垂直第一方向的底部截面尺寸和開(kāi)口尺寸,且底部截面尺寸實(shí)質(zhì)大于開(kāi)口尺寸。介電材質(zhì)至少部分填充于凹室之中。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明是有關(guān)于一種存儲(chǔ)器元件及其制作方法。特別是有關(guān)于一種立體(threedimensional,3D)存儲(chǔ)器元件及其制作方法。
背景技術(shù)
隨著電子科技的發(fā)展,半導(dǎo)體存儲(chǔ)器元件已被廣泛使用于電子產(chǎn)品,例如MP3播放器、數(shù)字相機(jī)、筆記本電腦、移動(dòng)電話…等之中。目前對(duì)于存儲(chǔ)器元件的需求朝較小尺寸、較大存儲(chǔ)容量的趨勢(shì)發(fā)展。為了因應(yīng)這種高元件密度的需求,目前已經(jīng)發(fā)展出多種不同的結(jié)構(gòu)形態(tài)三維立體存儲(chǔ)器元件。
典型的三維立體存儲(chǔ)器元件,例如立體非易失性存儲(chǔ)器元件(Non-volatilememory,NVM),包含由具有垂直通道(Vertical-Channel,VC)的存儲(chǔ)單元串行所構(gòu)成的立體存儲(chǔ)單元陣列。形成立體存儲(chǔ)器元件的方法,包括下述步驟:首先在基材上形成包含有彼此交錯(cuò)疊層的多個(gè)絕緣層和導(dǎo)電層的多層疊層結(jié)構(gòu)(multi-layers stack)。并刻蝕多層疊層結(jié)構(gòu)以形成至少一條溝道(trench),將多層疊層結(jié)構(gòu)區(qū)分為多個(gè)脊?fàn)畀B層(ridgestacks),使每一脊?fàn)畀B層都包含多條由圖案化導(dǎo)電層所形成的導(dǎo)電條帶。再于脊?fàn)畀B層的側(cè)壁上依序形成包含有硅氧化物-氮化硅-硅氧化物(ONO結(jié)構(gòu))電荷儲(chǔ)存層和通道層,進(jìn)而在脊?fàn)畀B層的每一個(gè)導(dǎo)電條帶與電荷儲(chǔ)存層和通道層三者重疊的位置上,定義出多個(gè)開(kāi)關(guān)結(jié)構(gòu)(switch)。其中,位于脊?fàn)畀B層中間階層的開(kāi)關(guān)結(jié)構(gòu),可以用來(lái)做為存儲(chǔ)單元,并通過(guò)通道層串接形成存儲(chǔ)單元串行。位于脊?fàn)畀B層的頂部階層的開(kāi)關(guān)結(jié)構(gòu)則是作為存儲(chǔ)單元串行的串行選擇線(String Selection Line,SSL)開(kāi)關(guān)或接地選擇線(Ground SelectionLine,GSL)開(kāi)關(guān)。
而為了增加存儲(chǔ)器元件的密度,除了縮小存儲(chǔ)單元陣列中個(gè)別存儲(chǔ)單元的尺寸外,最直接的方式就是增加多層疊層結(jié)構(gòu)的疊層層數(shù)。然而,由于多層疊層結(jié)構(gòu)中不同材料之間的晶格不匹配所產(chǎn)生的本征應(yīng)力(intrinsic stress),以及工藝中溫度變化所產(chǎn)生的熱應(yīng)力(thermal stress)會(huì)使基材,例如硅晶圓,彎曲變形。導(dǎo)致后續(xù)形成在多層疊層結(jié)構(gòu)上的其他材質(zhì)層無(wú)法精確對(duì)準(zhǔn),嚴(yán)重影響三維立體存儲(chǔ)器元件的工藝合格率和元件效能。而增加多層疊層結(jié)構(gòu)的疊層數(shù)目,會(huì)讓此一問(wèn)題更加嚴(yán)重。
因此,有需要提供一種先進(jìn)的立體存儲(chǔ)器元件及其制作方法,來(lái)解決現(xiàn)有技術(shù)所面臨的問(wèn)題。
發(fā)明內(nèi)容
本說(shuō)明書(shū)的一實(shí)施例揭露一種立體存儲(chǔ)器元件,此立體存儲(chǔ)器元件包括:基材、多層疊層結(jié)構(gòu)(multi-layers stack)以及介電材質(zhì)。基材具有至少一個(gè)凹陷部,由基材表面沿第一方向延伸進(jìn)入基材。多層疊層結(jié)構(gòu)包括多個(gè)導(dǎo)電層和多個(gè)絕緣層平行第一方向交錯(cuò)疊層于凹陷部的底面上。其中,多層疊層結(jié)構(gòu)具有至少一個(gè)凹室沿第一方向穿過(guò)這些導(dǎo)電層和絕緣層;此凹室具有垂直第一方向的底部截面尺寸和開(kāi)口尺寸,且底部截面尺寸實(shí)質(zhì)大于開(kāi)口尺寸。介電材質(zhì)至少部分地填充于凹室之中。
本說(shuō)明書(shū)的另一實(shí)施例揭露一種立體存儲(chǔ)器元件的制作方法,包括下述步驟:首先提供一基材,并于基材的表面上形成至少一個(gè)凹陷部沿第一方向延伸進(jìn)入基材。接著,形成多層疊層結(jié)構(gòu),包括多個(gè)導(dǎo)電層和多個(gè)絕緣層平行第一方向交錯(cuò)疊層于凹陷部的底面上。后續(xù),于多層疊層結(jié)構(gòu)上形成至少一個(gè)凹室,穿過(guò)這些導(dǎo)電層和絕緣層,使凹室垂直第一方向的底部截面尺寸實(shí)質(zhì)大于凹室的開(kāi)口尺寸。并以介電材質(zhì)至少部分地填充于凹室之中。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無(wú)源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門(mén)適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的無(wú)源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門(mén)適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過(guò)這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門(mén)適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的
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