[發(fā)明專利]線型雙能X射線傳感器及線型雙能X射線檢測系統

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710796582.2
• 申請日: 2017-09-06
• 公開（公告）號: CN107478664B
• 公開（公告）日: 2020-06-26
• 發(fā)明（設計）人: 朱翀煜;王鋒;金利波;方志強
• 申請（專利權）人: 奕瑞影像科技（太倉）有限公司
• 主分類號: G01T1/20
• 分類號: G01T1/20;G01N23/087
• 代理公司: 上海光華專利事務所(普通合伙) 31219
• 代理人: 余明偉

本發(fā)明提供一種線型雙能X射線傳感器及線型雙能X射線檢測系統，線型雙能X射線傳感器包括：PCB板，正面設有第一連接結構；線型二極管陣列面板，經由背面貼置于PCB板的正面，線型二極管陣列面板的正面設有第二連接結構，第二連接結構與第一連接結構電連接；高能像素陣列結構，位于線型二極管陣列面板的正面，且與第二連接結構電連接；低能像素陣列結構，位于線型二極管陣列面板的正面，且與高能像素陣列結構具有間距，低能像素陣列結構與第二連接結構電連接。本發(fā)明相較于現有的垂直設置的線型雙能X射線傳感器具有結構簡單、體積小及成本低等優(yōu)點。

技術領域

本發(fā)明屬于X射線成像技術領域，特別是涉及一種線型雙能X射線傳感器及線型雙能X射線檢測系統。

背景技術

線型雙能X射線檢測設備是多種安檢、工業(yè)檢驗設備的核心部件，而線型雙能X射線傳感器是線型雙能X射線檢測設備的最關鍵組成部分。在實際的應用中，通常需要對被探測目標的材質、密度等進行判斷與分類，因此通常采用雙能X射線檢測。

現有的線型雙能X射線傳感器的結構如圖1所示，所示線型雙能X射線傳感器包括：第一PCB板(印刷電路板)101，所述第一PCB板的正面設有第一連接結構102及第二連接結構103；第一LDA面板(線型二極管陣列面板)104，貼合于所述第一PCB板101的正面；高能像素陣列結構105，位于所述第一LDA面板104的正面，所述高能像素陣列結構105包括高能像素1051及位于所述高能像素1051上表面的第一閃爍體1052；第三連接結構106，位于所述第一LDA面板104的正面，所述高能像素1051與所述第三連接結構106電連接；第一FPC板(柔性電路板)，與所述第三連接結構106及所述第一連接結構102電連接；第二PCB板108，位于所述第一LDA面板104的正上方；第二LDA面板109，貼合于所述第二PCB板108的正面；低能像素陣列結構110，位于所述第二LDA面板109的正面，所述低能像素陣列結構110包括低能像素1101及覆蓋于所述低能像素1101上表面的第二閃爍體1102；第四連接結構111，位于所述第二LDA面板109的正面，所述低能像素1101與所述第四連接結構111電連接；第二FPC板112，與所述第四連接結構111及所述第二連接結構103電連接；銅箔113，位于所述第二PCB板108的背面。

然而，現有的線型雙能X射線傳感器的結構較為復雜，所述第一LDA面板104與所述第二LDA面板109兩個LDA面板需要貼合在各自的PCB板上，還需要各自獨立的FPC與所述第一PCB板101上的兩個連接結構電連接。現有的線型雙能X射線傳感器具有如下缺點：1.結構復雜、設計難度大及成本高；2.所述第一LDA面板104與所述第二LDA面板109上下對位精度要求高，若有較大錯位，未經過所述低能像素陣列結構110的低能X射線會直接被所述位于下方的所述高能像素陣列105接收，從而影響圖像質量；整個結構的尺寸較大。

發(fā)明內容

鑒于以上所述現有技術的缺點，本發(fā)明的目的在于提供一種線型雙能X射線傳感器及線型雙能X射線檢測系統，用于解決現有技術中的線型雙能X射線傳感器存在的結構復雜、設計難度大、尺寸大、成本高及上下LDA面板對位精度要求高，容易影響圖像質量的問題。

為實現上述目的及其他相關目的，本發(fā)明提供一種線型雙能X射線傳感器，所述線型雙能X射線傳感器包括：

PCB板，正面設有第一連接結構；

線型二極管陣列面板，經由背面貼置于所述PCB板的正面，所述線型二極管陣列面板的正面設有第二連接結構，所述第二連接結構與所述第一連接結構電連接；

高能像素陣列結構，位于所述線型二極管陣列面板的正面，且與所述第二連接結構電連接，用于接收高能X射線；

低能像素陣列結構，位于所述線型二極管陣列面板的正面，且與所述高能像素陣列結構具有間距，所述低能像素陣列結構與所述第二連接結構電連接，用于接收低能X射線。