[發明專利]一種斷層位錯條件下活動斷裂破碎帶巖土變形測量方法有效
| 申請號: | 201710793535.2 | 申請日: | 2017-09-06 |
| 公開(公告)號: | CN107843229B | 公開(公告)日: | 2019-07-26 |
| 發明(設計)人: | 趙伯明;孫風伯;王子珺;楊清源 | 申請(專利權)人: | 北京交通大學 |
| 主分類號: | G01B21/32 | 分類號: | G01B21/32 |
| 代理公司: | 北京正理專利代理有限公司 11257 | 代理人: | 付生輝;毛唯鳴 |
| 地址: | 100044*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 巖土 性質參數 位錯 斷層 變形測量 修正系數 破碎帶 斷裂 基巖 參數確定 斷層傾角 隧道縱向 上表面 位移量 中心點 錯動 核部 測量 | ||
1.一種斷層位錯條件下活動斷裂破碎帶巖土變形測量方法,其特征在于,該方法包括:
S1:測量巖土性質參數;
S2:由S1所述的巖土性質參數確定x1,x2;
S3:由S1所述的巖土性質參數確定錯動修正系數λ和斷層傾角修正系數η;
S4:結合S2、S3所述的參數確定出不同的沿隧道縱向逆斷層核部中心點距離x所對應位錯后基巖上表面位移量f(x);
其中,所述S1的巖土性質參數包括圍巖性質影響系數為k,所述圍巖性質影響系數為所述S4中的其中a=0.70、b=0.11、c=0.86、d=0.70、e=-0.20、f=4.74、g=-0.52、h=0.98。
2.根據權利要求1所述的測量方法,其特征在于,所述S1的巖土性質參數還包括斷層錯動量為D和斷層傾角為β。
3.根據權利要求2所述的測量方法,其特征在于,豎向位移最大量f(x)max=D×sinβ,豎向位移最小量f(x)min=Dsinβ-D。
4.根據權利要求2所述的測量方法,其特征在于,所述S2中的
5.根據權利要求2所述的測量方法,其特征在于,所述S3中錯動修正系數λ=1.25D,斷層傾角修正系數η=1.155sinβ。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于北京交通大學,未經北京交通大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710793535.2/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





