[發(fā)明專利]一種AMOLED顯示屏Mura缺陷檢測方法

有效

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• 申請日: 2017-09-05
• 公開（公告）號: CN107705290B
• 公開（公告）日: 2021-07-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 肖君軍;李雄杰;姚杏枝
• 申請（專利權(quán)）人: 哈爾濱工業(yè)大學(xué)深圳研究生院
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/13;G06T7/143;G06T7/12;G06T7/149
• 代理公司: 深圳市科吉華烽知識產(chǎn)權(quán)事務(wù)所(普通合伙) 44248
• 代理人: 孫偉

本發(fā)明提供了一種AMOLED顯示屏Mura缺陷檢測方法，首先對AMOLED顯示屏Mura圖像采用均值漂移算法進(jìn)行預(yù)分割，得到水平集算法所需的初始輪廓，然后再采用結(jié)合了圖像的局部和全局信息的水平集算法對AMOLED顯示屏Mura圖像進(jìn)行分割。本發(fā)明的有益效果是：解決了局部圖像模型對初始輪廓敏感的問題，同時(shí)所提出的水平集算法結(jié)合了圖像的局部和全局信息，解決了全局圖像模型不能處理灰度不均圖像的問題。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及顯示屏檢測方法，尤其涉及一種AMOLED顯示屏Mura缺陷檢測方法。

背景技術(shù)

有源矩陣有機(jī)發(fā)光二極體面板(AMOLED)被視為下一代顯示技術(shù)，具有反應(yīng)速度快、對比度高、視角廣、能耗低等特點(diǎn)。由于AMOLED顯示屏在制造的過程中存在著各種各樣的缺陷，如點(diǎn)缺陷、線缺陷、Mura缺陷(Mura名稱來源于日文單詞，特指面板瑕疵，用來表征當(dāng)顯示器以恒定亮度顯示時(shí)，顯示區(qū)域的不均勻)的存在，將對AMOLED顯示屏的發(fā)光均勻性、圖像清晰性、壽命等產(chǎn)生影響。

Mura缺陷是一種嚴(yán)重影響AMOLED顯示屏畫面品質(zhì)的不良缺陷，主要表現(xiàn)為屏幕區(qū)域內(nèi)亮度顯示不均勻。Mura缺陷種類眾多、形狀多樣，并且對比度低、位置不固定、邊緣輪廓不清晰，相比于顯示屏的其他光學(xué)類缺陷，Mura缺陷較難檢測。傳統(tǒng)的人眼檢測方法主要依靠檢測者的經(jīng)驗(yàn)和主觀感受來檢測Mura缺陷及評定其等級，這就導(dǎo)致了不同的檢測者對同一Mura缺陷的判定結(jié)果可能不一致。

發(fā)明內(nèi)容

為了解決現(xiàn)有技術(shù)中的問題，本發(fā)明提供了一種AMOLED顯示屏Mura缺陷檢測方法。

本發(fā)明提供了一種AMOLED顯示屏Mura缺陷檢測方法，首先對AMOLED顯示屏Mura圖像采用均值漂移算法進(jìn)行預(yù)分割，得到水平集算法所需的初始輪廓，然后再采用結(jié)合了圖像的局部和全局信息的水平集算法對AMOLED顯示屏Mura圖像進(jìn)行分割。

作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn)，所述均值漂移算法包括先計(jì)算當(dāng)前點(diǎn)的偏移均值，然后移動該點(diǎn)到偏移均值，再以此為新的起始點(diǎn)，繼續(xù)移動，直到滿足一定的條件結(jié)束。

作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn)，均值漂移算法計(jì)算一個(gè)像素點(diǎn)的迭代步驟為：(1)隨機(jī)選擇一個(gè)初始點(diǎn)x；(2)計(jì)算其均值漂移量m_h(x)；(3)令誤差為ε'，如果||m_h(x)-x||≤ε′，停止漂移迭代；否則，將m_h(x)賦值給x，然后重復(fù)步驟(2)、(3)。

作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn)，對AMOLED顯示屏Mura圖像采用均值漂移算法進(jìn)行預(yù)分割，得到水平集算法所需的初始輪廓。

作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn)，所述水平集算法的迭代步驟為：(1)由均值漂移算法得到初始水平集函數(shù)φ，設(shè)置參數(shù)大小；(2)求解函數(shù)c₁，c₂，e₁，e₂；(3)根據(jù)主動輪廓模型演化水平集函數(shù)；(4)判斷水平集函數(shù)是否收斂，若收斂則迭代結(jié)束，否則重復(fù)步驟(2)、(3)、(4)。

本發(fā)明的有益效果是：采用均值漂移算法解決了局部圖像模型對初始輪廓敏感的問題，同時(shí)所提出的水平集算法結(jié)合了圖像的局部和全局信息，解決了全局圖像模型不能處理灰度不均圖像的問題。

附圖說明

圖1為本發(fā)明一種AMOLED顯示屏Mura缺陷檢測方法的流程示意圖。

圖2為AMOLED顯示屏左側(cè)Mura缺陷檢測合成圖，合成圖中從左到右分別為Mura缺陷原始圖像、均值漂移算法預(yù)分割圖像、由均值漂移算法預(yù)分割結(jié)果得到的初始輪廓圖像，以及由水平集算法得到的最終分割效果圖。

圖3為AMOLED顯示屏右側(cè)Mura缺陷檢測合成圖，合成圖中從左到右分別為Mura缺陷原始圖像、均值漂移算法預(yù)分割圖像、由均值漂移算法預(yù)分割結(jié)果得到的初始輪廓圖像，以及由水平集算法得到的最終分割效果圖。