[發明專利]一種用于異常檢測的否定選擇方法

在審

• 申請號: 201710792435.8
• 申請日: 2017-09-05
• 公開（公告）號: CN107590384A
• 公開（公告）日: 2018-01-16
• 發明（設計）人: 柴爭義;李亞倫;楊建輝;吳聰
• 申請（專利權）人: 天津工業大學
• 主分類號: G06F21/55
• 分類號: G06F21/55
• 代理公司: 北京國坤專利代理事務所(普通合伙)11491
• 代理人: 趙紅霞

1.一種用于異常檢測的否定選擇方法，其特征在于，所述用于異常檢測的否定選擇方法對具體的異常檢測問題進行形式化定義；定義異常檢測問題的正常樣本和自體集，使用集成假設檢驗的二次否定選擇過程產生檢測器；檢測器的二次否定生成過程包括；與已有的檢測器進行第一次否定選擇，然后與自體進行第二次否定選擇過程；并通過改變接受和拒絕零假設的條件來快速更新檢測器集；，輸入要檢測的數據，如果與檢測器匹配，則為異常數據，否則為正常數據。

2.如權利要求1所述的用于異常檢測的否定選擇方法，其特征在于，檢測器生成中采用集成假設檢驗的生成算法具體包括：

(1)隨機生成一個候選檢測器；

(2)首先檢測隨機生成的檢測器是否被已有的檢測器覆蓋；如果被覆蓋，則轉(1)重新隨機生成；否則，進一步判斷該檢測器是否自體，如果是自體，則轉(1)重新隨機生成；否則，轉(3)；

(3)再次判斷是否被檢測器覆蓋；如果被檢測器覆蓋，則判斷是否達到結束條件(4)；

(4)結束條件為：通過記錄被覆蓋的非自體的數量m和沒被覆蓋的非自體數量m’作為拒絕和接受零假設的條件(m+m’＝n)，且只要被覆蓋的點的數量比其上限值(m_max)要更大，將接受零假設，結束算法，將檢測器集自動地進行一次更新；否則，轉(5)；

(5)判斷m′＞n-m_max是否成立，如果成立，將其作為成熟檢測器，否則轉(1)。

3.如權利要求1所述的用于異常檢測的否定選擇方法，其特征在于，所述用于異常檢測的否定選擇方法具體包括：

第一步，設定已有相關參數的值：期望覆蓋率p,顯著性水平a,樣本大小n(n＞max(5/p,5/(1-p))，自體半徑r_s；初始檢測器集合D為空；已知的自體集合為S；

第二步，用t記錄非自體點的數量，用m記錄被已有檢測器覆蓋的非自體點的數量，初值均設置為0；

第三步，選取問題空間域的任意一個點x；

第四步，計算點x是否被檢測器集合D中的任意一個已有檢測器覆蓋；如果被覆蓋，轉第三步；否則，轉第五步；

第五步，判斷點x是否為自體；如果是自體，則轉第三步；否則，則表明x是非自體，轉第六步；

第六步，令t＝t+1；判斷x是否被檢測器覆蓋；如果被檢測器覆蓋，則轉第七步；否則，轉第八步；

第七步，令m＝m+1，計算m＞m_max是否成立；如果成立，說明檢測器覆蓋率已經足夠，則轉第十步，結束算法；否則，轉第九步；

第八步，將x作為一個候選檢測器；

第九步，判斷m′＞n-m_max是否成立；如果成立，則候選檢測器x進化成為成熟檢測器并放入檢測器集合D，轉第二步；否則，則轉第三步；

第十步，輸出檢測器集D，算法結束。

4.如權利要求3所述的用于異常檢測的否定選擇方法，其特征在于，所述第四步和第六步中判斷x是否已經被檢測器覆蓋的方法為：計算x與檢測器集合D中已有的檢測器d_i(i＝1,2,....n)的歐氏距離如果距離小于任一檢測器d_i的半徑r(d_i)，說明點x已經被檢測器覆蓋，否則，則沒有被覆蓋。

5.一種應用權利要求1～4任意一項所述用于異常檢測的否定選擇方法的檢測器。