[發(fā)明專利]一種直角測量方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710791566.4
• 申請日: 2017-09-05
• 公開（公告）號: CN107588711A
• 公開（公告）日: 2018-01-16
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 廖文亮
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州亮宇模具科技有限公司
• 主分類號: G01B5/245
• 分類號: G01B5/245
• 代理公司: 蘇州謹和知識產(chǎn)權(quán)代理事務所(特殊普通合伙)32295
• 代理人: 葉棟

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種直角測量方法，用于檢測模具產(chǎn)品的各面之間的垂直度。

背景技術(shù)

模具是用來成型物品的工具，這種工具由各種零件構(gòu)成。零件的各面之間的垂直度將直接影響到模具的組裝。

現(xiàn)階段的技術(shù)是用光隙法、利用X軸及Y軸運動方向進行檢測。光隙法雖然操作簡單，使用方便，但是不能給出定量的數(shù)值；而利用X軸及Y軸運動方向進行檢測的方法雖然給出了定量的數(shù)值，為修改提供準確數(shù)值，但是對檢測裝置要求較高，X軸及Y軸之間不能存在偏差，否則測量誤差較大，并且這種方法要占用機床時間，使得機床利用率降低。再者，這種測量方法是動態(tài)測量，每次都需要校正，操作繁瑣不方便。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種直角測量方法，其操作簡單，使用方便，并且可以給出準確的定量數(shù)據(jù)，通過簡單計算可以知道下一步的切削量，可重復檢測，無需校正。

為達到上述目的，本發(fā)明提供如下技術(shù)方案：一種直角測量方法，用于檢測模具產(chǎn)品的各面之間的垂直度，其特征在于，所述測量方法包括如下步驟：

S1：將定位塊、千分表和支撐架固定安裝在工作臺上，提供被檢測工件，所述被檢測工件包括相背設(shè)置的第一檢測面和第三檢測面、相背設(shè)置的第二檢測面及第四檢測面；

S2：將所述被檢測工件的第一檢測面與所述工作臺貼合，推動所述被檢測工件至定位塊，使被第二檢測面與所述定位塊緊貼；

S3：移動所述支撐架使得千分表的探針與所述被檢測工件的第二檢測面接觸，記錄此時千分表的讀數(shù)X1；

S4：重復“S2”、“S3”的步驟，按照此類方法測得千分表與所述被檢測工件的第一檢測面、第三檢測面及第四檢測面接觸時千分表的讀數(shù)X2、X3及X4；

S5：比較X1、X2、X3及X4的大小，并計算所述被檢測工件的各面之間的垂直度與磨削量。

進一步地，所述工作臺的材質(zhì)為大理石。

進一步地，所述步驟“S1”中，將所述工作臺及所述被檢測工件的表面擦拭干凈。

進一步地，所述支撐架為萬向磁力架。

進一步地，所述工作臺包括上表面和下表面，所述定位塊、千分表和萬向磁力架安裝在所述上表面上。

進一步地，所述步驟“S5”具體為：

S51：判斷是否垂直：若X1＝X2＝X3＝X4時，則所述被檢測工件各面之間垂直；若X1、X2、X3及X4不相等，則所述被檢測工件的各面不垂直。

S52：計算切削量：

若X2>X1且X1＝X3、X2＝X4時，所述被檢測工件需要的磨削量為|X2-X1|/2；

若X2＝X1、X3＝X4且X3〉X1，所述被檢測工件需要的磨削量為|X3-X1|/2；

若X1＝X3、X1>X2且X1<X4，所述被檢測工件需要的磨削量為|X2-X4|/2。

本發(fā)明的有益效果在于：本直角測量方法操作簡單，使用方便；可以給出準確的定量數(shù)據(jù)，并且通過簡單的計算可以知道下一步的磨削量；檢測時間短，效率高，并且是靜態(tài)測量，可以重復檢測。

上述說明僅是本發(fā)明技術(shù)方案的概述，為了能夠更清楚了解本發(fā)明的技術(shù)手段，并可依照說明書的內(nèi)容予以實施，以下以本發(fā)明的較佳實施例并配合附圖詳細說明如后。

附圖說明

圖1為本發(fā)明方法的測試裝置圖。

圖2為本發(fā)明方法的測試結(jié)果圖。

具體實施方式

下面結(jié)合附圖和實施例，對本發(fā)明的具體實施方式作進一步詳細描述。以下實施例用于說明本發(fā)明，但不用來限制本發(fā)明的范圍。

請參見圖1及圖2，本發(fā)明的直角測量方法的一較佳實施例用于檢測模具產(chǎn)品的各面之間的垂直度，所述測量方法包括如下步驟：

S1：將定位塊4、千分表3和支撐架2固定安裝在工作臺1上，提供被檢測工件5，所述被檢測工件5包括相背設(shè)置的第一檢測面和第三檢測面、相背設(shè)置的第二檢測面及第四檢測面；

S2：將所述被檢測工件5的第一檢測面與所述工作臺1貼合，推動所述被檢測工件5至定位塊4，使被第二檢測面與所述定位塊4緊貼；

S3：移動所述支撐架2使得千分表3的探針與所述被檢測工件5的第二檢測面接觸，記錄此時千分表3的讀數(shù)X1；

S4：重復“S2”、“S3”的步驟，按照此類方法測得千分表3與所述被檢測工件5的第一檢測面、第三檢測面及第四檢測面接觸時千分表3的讀數(shù)X2、X3及X4；