[發明專利]基于傳輸系數的HFCT電氣參數測試裝置及測試方法

有效

• 申請號: 201710791146.6
• 申請日: 2017-09-05
• 公開（公告）號: CN107656226B
• 公開（公告）日: 2019-09-24
• 發明（設計）人: 周凱;陳詩佳;朱光亞;何珉;黃永祿;冉立
• 申請（專利權）人: 四川大學
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 成都科海專利事務有限責任公司 51202
• 代理人: 呂建平

1.一種測試HFCT電氣參數的方法，其特征在于，測試所使用的裝置包括網絡分析儀(1)和測試儀(2)；所述測試儀的構成包括金屬殼體(21)、分別設置在金屬殼體兩端通過金屬導線(5)連接的輸入接口(22)和輸出接口(23)，輸入接口經第一同軸電纜(4)與網絡分析儀(1)的輸出端連接，輸出接口連接有匹配電阻(3)，待測試的HFCT置于金屬殼體內，連接輸入接口與輸出接口的金屬導線(5)從HFCT中心穿過，HFCT通過其BNC接頭經第二同軸電纜(6)與網絡分析儀的輸入端連接，測試方法包括如下測試步驟：

(1)對測試裝置進行自校準，以消除測試裝置自身的傳輸系數對測量結果的影響；

(2)對HFCT進行測試，獲得其傳輸系數S₁₂：

將測試儀的輸入接口(22)經第一同軸電纜(4)與網絡分析儀(1)的輸出端連接，輸出接口(23)連接匹配電阻(3)，待測試的HFCT置于金屬殼體內，連接輸入接口與輸出接口的金屬導線(5)從HFCT中心穿過，HFCT通過其BNC接頭經第二同軸電纜(6)與網絡分析儀的輸入端連接，通過網絡分析儀(1)對HFCT進行測試，獲得HFCT的傳輸系數S₁₂；

(3)依據以下公式(i)計算得到HFCT的傳遞函數：

|H(ω)|＝S₁₂+20log₁₀(R_t) (i)

其中，|H(ω)|為HFCT的傳遞函數，S₁₂為傳輸系數，R_t為匹配電阻阻值；

取|H(ω)|傳遞函數幅值下降設定參考值后所得|H(ω)|對應頻率為下限頻率和上限頻率，上限頻率與下限頻率之差為帶寬；

(4)依據以下公式(ii)得到HFCT的傳輸阻抗，并將其作為HFCT的靈敏度：

其中，Z(f)為傳輸阻抗。

2.根據權利要求1所述的測試HFCT電氣參數的方法，其特征在于，所述測試儀的金屬殼體(21)至少上方和左右兩側為金屬材質。

3.根據權利要求1或2所述的測試HFCT電氣參數的方法，其特征在于，所述待測試的HFCT通過絕緣支承件置于金屬殼體內。

4.根據權利要求1或2所述的測試HFCT電氣參數的方法，其特征在于，對測試裝置進行自校準的具體電路回路實現方式為：將測試儀的輸入接口(22)經第一同軸電纜(4)與網絡分析儀(1)的輸出端連接，輸出接口(23)經第二同軸電纜(6)與網絡分析儀(1)的輸入端連接，然后對測試裝置自身的傳輸系數進行測試，并進行自校準，以消除測試裝置自身的傳遞特性。

5.根據權利要求3所述的測試HFCT電氣參數的方法，其特征在于，對測試裝置進行自校準的具體電路回路實現方式為：將測試儀的輸入接口(22)經第一同軸電纜(4)與網絡分析儀(1)的輸出端連接，輸出接口(23)經第二同軸電纜(6)與網絡分析儀(1)的輸入端連接，然后對測試裝置自身的傳輸系數進行測試，并進行自校準，以消除測試裝置自身的傳遞特性。