[發明專利]基于漏洞指紋的脆弱性代碼克隆檢測方法及其裝置

有效

• 申請號: 201710789364.6
• 申請日: 2017-09-05
• 公開（公告）號: CN107688748B
• 公開（公告）日: 2019-09-24
• 發明（設計）人: 魏強;劉臻;林超;麻榮寬;柳曉龍
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍信息工程大學
• 主分類號: G06F21/57
• 分類號: G06F21/57;G06F21/56
• 代理公司: 鄭州大通專利商標代理有限公司 41111
• 代理人: 周艷巧

1.一種基于漏洞指紋的脆弱性代碼克隆的檢測方法，其特征在于，包含如下步驟：

步驟1)、選定用于構建指紋的漏洞v，從公開漏洞信息數據庫中查詢漏洞補丁信息，獲取補丁中對應的脆弱性代碼樣本；

步驟2)、構建代碼解析器；

步驟3)、利用代碼解析器對脆弱性代碼樣本進行預處理，得到規范化的中間表示；

步驟4)、將中間表示分割為大小為s行的代碼塊，通過哈希函數計算代碼塊的特征值，并組合生成漏洞指紋；

步驟5)、利用代碼解析器對待檢測代碼進行預處理，通過滑動窗口方法并利用哈希函數計算待檢測代碼的特征值，得到其特征值序列seq_f；

步驟6)、將漏洞指紋映射為n位的位圖bitmap_v，利用位圖bitmap_v識別特征值序列seq_f中是否存在脆弱性代碼的克隆，若存在，則對其進行記錄并輸出；

步驟1)中的獲取補丁中對應的脆弱性代碼樣本，具體是指：獲取補丁中對應的所有diff文件，將得到的diff文件作為脆弱性代碼樣本；

步驟4)包含如下內容：

步驟41)、根據diff文件確定漏洞補丁中的代碼改動，選擇代碼塊大小為s行；

步驟42)、對于預處理后得到的中間表示，將刪除的s行代碼塊記為block_D，將添加的s行代碼塊記為block_A，在刪除或添加的代碼塊小于s行時對其進行填充或者分隔成多個連續的代碼塊，將最后一個代碼塊用上下文填充；

步驟43)、使用散列函數計算每個block_D和block_A的特征值，特征值前用添加標記或刪除標記以區分；將特征值按類型分別組合到添加的特征序列seq_A和已刪除的特征序列seq_D中，組成一個diff文件對應的特征向量V_diff＝[seq_A，seq_D]；

步驟44)、針對漏洞修補程序中所有diff文件執行上述步驟41)～43)，得到對應的特征向量V_diff1、V_diff2…V_diffn，對于補丁中的n個diff文件的漏洞v，所有特征向量共同組成漏洞指紋F_v＝{V_diff1,V_diff2…V_diffn}。

2.根據權利要求1所述的基于漏洞指紋的脆弱性代碼克隆的檢測方法，其特征在于，步驟2)中構建代碼解析器，是指：使用ANTLR，根據C/C++詞法及語法定義生成面向C/C++的代碼解析器。

3.根據權利要求1所述的基于漏洞指紋的脆弱性代碼克隆的檢測方法，其特征在于，步驟3)中預處理前，先將代碼進行小寫轉化，并刪除多余空格、制表符、換行符和所有注釋，將縮進樣式更改為Lisp。

4.根據權利要求1所述的基于漏洞指紋的脆弱性代碼克隆的檢測方法，其特征在于，步驟3)中預處理，包含：對代碼中的函數和參數名稱、變量標識符、數據類型、字符串常量、及函數調用名分別做統一替換。

5.根據權利要求1或4所述的基于漏洞指紋的脆弱性代碼克隆的檢測方法，其特征在于，步驟3)中預處理，包含：通過函數聲明并記錄所有形式的參數名稱，使用符號_PARAM替換函數體中的每一個參數，同時用符號_FUNCDEC替換該函數聲明中的函數名稱；使用符號_DATA替換函數內定義的所有變量；使用符號_TYPE替換在ISO C標準中聲明的所有數據類型，同時替換代碼中所有的自定義結構體，替換過程中保留結構體聲明中的關鍵字struct；使用符號_STR替換字符串常量；使用符號_FUNCTION替換每個函數調用，保留用法與參數值。