[發(fā)明專利]超強(qiáng)超短激光脈沖遠(yuǎn)場脈寬的單發(fā)測量裝置和測量方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710786650.7
• 申請日: 2017-09-04
• 公開（公告）號(hào): CN107727249B
• 公開（公告）日: 2019-05-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 吳分翔;許毅;冷雨欣
• 申請（專利權(quán)）人: 中國科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所
• 主分類號(hào): G01J11/00
• 分類號(hào): G01J11/00
• 代理公司: 上海恒慧知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 31317
• 代理人: 張寧展

1.一種超強(qiáng)超短激光脈沖遠(yuǎn)場脈寬的單發(fā)測量裝置，其特征在于該裝置包括：沿待測超強(qiáng)超短激光脈沖入射方向依次放置的凹面鏡(1)、凸面鏡(2)、柱面鏡(3)、第一反射鏡(4)、延遲線(5)、第二反射鏡(6)、二階自相關(guān)儀(7)和示波器(8)，所述的凹面鏡(1)和凸面鏡(2)組成反射式縮束系統(tǒng)，所述的柱面鏡(3)是在豎直方向上形成一維聚焦的凹圓柱面的長焦距的柱面鏡，所述的延遲線(5)置于一高精度平移臺(tái)上，所述的待測超強(qiáng)超短激光脈沖首先由所述的反射式縮束系統(tǒng)縮束，再經(jīng)所述的柱面鏡(3)在豎直方向上形成一維聚焦光束，該聚焦光束依次通過所述的第一反射鏡(4)、延遲線(5)、第二反射鏡(6)，最后垂直射入所述的二階自相關(guān)儀(7)，且一維聚焦光束的一維焦線落在所述的二階自相關(guān)儀(7)的倍頻晶體上，所述的二階自相關(guān)儀(7)的輸出端與所述的示波器(8)的輸入端相連。

2.利用權(quán)利要求1所述的超強(qiáng)超短激光脈沖遠(yuǎn)場脈寬的單發(fā)測量裝置進(jìn)行超強(qiáng)超短激光脈沖遠(yuǎn)場脈寬的單發(fā)測量方法，其特征在于，該方法包括下列步驟：

①所述的超強(qiáng)超短激光脈沖遠(yuǎn)場脈寬的單發(fā)測量裝置安裝后，待測超強(qiáng)超短激光脈沖輸入，調(diào)節(jié)所述的反射式縮束系統(tǒng)，使待測超強(qiáng)超短激光脈沖縮束后準(zhǔn)直輸出，且縮束后的光束口徑小于二階自相關(guān)儀(7)中倍頻晶體的有效尺寸；

②調(diào)整所述的柱面鏡(3)，使縮束后的光束在豎直方向上形成一維聚焦光束；

③調(diào)節(jié)第一反射鏡(4)，使所述的一維聚焦光束垂直射入所述的延遲線(5)；

④調(diào)節(jié)第二反射鏡(6)，使從所述的延遲線(5)出射的一維聚焦光束垂直射入所述的二階自相關(guān)儀(7)；

⑤調(diào)節(jié)所述的高精度平移臺(tái)，使從所述的延遲線(5)輸出的一維聚焦光束的一維焦線正好落在所述的二階自相關(guān)儀(7)的倍頻晶體上；

⑥利用所述的二階自相關(guān)儀(7)測量所述的一維焦線的脈寬，即待測脈沖的遠(yuǎn)場脈寬，并通過所述的示波器(8)記錄。