[發明專利]用于爐渣樣本收集的浸沒裝置有效
| 申請號: | 201710785648.8 | 申請日: | 2017-09-04 |
| 公開(公告)號: | CN107817127B | 公開(公告)日: | 2020-11-06 |
| 發明(設計)人: | 德里·拜恩斯;保羅·A·特納 | 申請(專利權)人: | 賀利氏電子耐特國際股份公司 |
| 主分類號: | G01N1/10 | 分類號: | G01N1/10;G01N33/205;C21C5/46 |
| 代理公司: | 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112 | 代理人: | 顧紅霞;張蕓 |
| 地址: | 比利時*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 爐渣 樣本 收集 浸沒 裝置 | ||
1.一種用于收集爐渣樣本且測量熔融金屬參數的浸沒裝置(10、20),其中所述浸沒裝置(10、20)包括用于將熔融爐渣(18)引導到爐渣樣本腔室(7、27)的流入導管(5、25)以及用于測量熔融金屬(19)的參數的測量元件(1、21),其中所述流入導管(5、25)包括外部部分和內部部分,其中所述流入導管(5、25)和所述測量元件(1、21)均布置于測量頭部(2、22)的浸沒端的頂部區域中且均面朝浸沒方向(17),其中所述浸沒裝置(10、20)被構造成使得在所述浸沒方向(17)上進入所述熔融爐渣(18)且然后進入所述熔融金屬(19)的浸沒期間,所述熔融爐渣(18)進入所述流入導管(5、25)的所述外部部分且通過所述流入導管(5、25)的所述內部部分被引導到所述爐渣樣本腔室(7、27),其中所述流入導管(5、25)被構造成使得所述流入導管(5、25)可抵抗熔融爐渣(18)但在暴露于所述熔融金屬(19)后熔化。
2.根據權利要求1所述的浸沒裝置(10、20),其特征在于所述流入導管(5、25)的所述外部部分是立式的。
3.根據權利要求1所述的浸沒裝置(10、20),其特征在于,還包括用于覆蓋所述浸沒裝置(10、20)的所述頂部區域的測量頭部蓋(4、24),其中所述測量頭部蓋(4、24)被構造成使得所述測量頭部蓋(4、24)可抵抗熔融爐渣(18)但在暴露于所述熔融金屬(19)后熔化。
4.根據權利要求3所述的浸沒裝置(10、20),其特征在于所述測量頭部蓋(4、24)的蓋開口(9、29)被設計成使得熔融爐渣(18)可通過所述蓋開口(9、29)流入所述流入導管(5、25)。
5.根據權利要求3所述的浸沒裝置(10、20),其特征在于所述測量頭部蓋(4、24)在浸沒方向(17)上與所述流入導管(5、25)齊平或者在浸沒方向(17)上覆蓋所述流入導管(5、25)。
6.根據權利要求1所述的浸沒裝置(10、20),其特征在于所述流入導管(5、25)具有在浸沒方向(17)上定向的流入開口。
7.根據權利要求1所述的浸沒裝置(10、20),其特征在于,還包括用于嵌入所述流入導管(5 、25)的所述內部部分和/或所述爐渣樣本腔室(7、27)的外殼(16、36)。
8.根據權利要求7所述的浸沒裝置(10、20),其特征在于所述流入導管(5、25)的所述外部部分在浸沒之前由在浸沒方向(17)上來自所述外殼(15)的氣體包圍。
9.根據權利要求1所述的浸沒裝置(10、20),其特征在于所述流入導管(5、25) 和所述測量元件(1、21)在浸沒方向(17)上緊靠彼此而布置。
10.根據權利要求1所述的浸沒裝置(10、20),其特征在于所述流入導管(5、25)具有所述浸沒裝置(10、20)的最大外徑的至少15%的直徑。
11.根據權利要求1所述的浸沒裝置(10、20),其特征在于所述流入導管(5、25)具有所述爐渣樣本腔室(7、27)的內部體積的至少10%和/或至多100%的內部體積。
12.根據權利要求1所述的浸沒裝置(10、20),其特征在于通風通道(13、33)與所述爐渣樣本腔室(7、27)成氣體連通。
13.根據權利要求1所述的浸沒裝置(10、20),其特征在于,還包括用以固持測量頭部(2、22)的載體管(3、23)或作為載體管(3、23)的硬紙管,所述測量頭部(2、22)包括所述爐渣樣本腔室(7、27)、所述流入導管(5、25)以及所述測量元件(1、21)。
14.一種用于收集爐渣樣本且測量熔融金屬參數的方法,其中根據權利要求1至13中任一項所述的浸沒裝置(10、20)在浸沒方向(17)上通過熔融爐渣(18)的層浸沒到熔融金屬(19)中,其中在通過所述熔融爐渣(18)的層的浸沒期間,熔融爐渣(18)流入到流入導管(5、25)中,所述流入導管面對浸沒方向(17)且將所述熔融爐渣(18)引導到爐渣樣本腔室(7、27),其中在到達所述熔融金屬(19)的時刻,測量頭部蓋(4、24)和所述流入導管(5、25)以及還有覆蓋而且也面對浸沒方向(17)的測量元件(1、21)的蓋(12、32)熔化,使得所述測量元件(1、21)暴露于所述熔融金屬(19)以進行所述熔融金屬參數的測量。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于賀利氏電子耐特國際股份公司,未經賀利氏電子耐特國際股份公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710785648.8/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





