[發(fā)明專利]陣列基板以及液晶顯示面板在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710779998.3 | 申請(qǐng)日: | 2017-09-01 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107346082A | 公開(公告)日: | 2017-11-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 邢振周 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 武漢華星光電技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G02F1/1345 | 分類號(hào): | G02F1/1345 |
| 代理公司: | 深圳市銘粵知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司44304 | 代理人: | 孫偉峰,黃進(jìn) |
| 地址: | 430070 湖北省武漢市*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 陣列 以及 液晶顯示 面板 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及顯示器技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種陣列基板以及包含該陣列基板的液晶顯示面板。
背景技術(shù)
液晶顯示器(Liquid Crystal Display,LCD)具有機(jī)身薄、省電、無輻射等眾多優(yōu)點(diǎn),得到了廣泛的應(yīng)用。如:液晶電視、移動(dòng)電話、個(gè)人數(shù)字助理(PDA)、數(shù)字相機(jī)、計(jì)算機(jī)屏幕或筆記本電腦屏幕等。
薄膜晶體管液晶顯示器(TFT-LCD)的制造工藝可分為三大流程,第一段為陣列基板及彩膜基板的工藝,第二段為配向、液晶填充與封合面板工藝;第三段則為偏光片、背光片與面板組裝的液晶顯示模塊。在液晶顯示器制造過程中,需要不斷地監(jiān)測產(chǎn)品的質(zhì)量問題,從監(jiān)測的過程中,及時(shí)的篩選出不合格的產(chǎn)品,以保證精確地生產(chǎn);從監(jiān)測的結(jié)果中,能了解生產(chǎn)過程中出現(xiàn)問題或存在風(fēng)險(xiǎn)的環(huán)節(jié)。
目前,在前述第二段工藝制備獲得封合的面板之后,在綁定顯示驅(qū)動(dòng)集成電路(Display Driver IC)和觸控控制器集成電路(Touch Controller IC)之前,需要對(duì)面板進(jìn)行假壓測試(即Cell Test),只有畫面顯示效果正常的面板才會(huì)流到下一階段進(jìn)行綁定(Bonding)柔性電路板(FPC)或驅(qū)動(dòng)芯片。為了能夠進(jìn)行假壓測試,液晶顯示面板設(shè)計(jì)及制造過程中,在設(shè)計(jì)面板信號(hào)走線時(shí),除了滿足其產(chǎn)品功能(正常顯示)必備的一些基本的信號(hào)線(如柵極信號(hào)線、數(shù)據(jù)信號(hào)線)之外,設(shè)計(jì)者還會(huì)保留一些檢測產(chǎn)品性能是否完備的一些其他信號(hào)線,通常這些信號(hào)線會(huì)連接到液晶顯示面板的假壓測試焊盤(Cell test pad)上,用于方便測試人員用示波器檢測其電信號(hào)狀況來分析液晶Cell里面的電路的工作狀態(tài)。
通常地,假壓測試焊盤設(shè)置在陣列基板的顯示區(qū)域的邊緣,目前的假壓測試焊盤的結(jié)構(gòu)會(huì)占用較大的面積,降低了顯示基板的利用率,并且不利于實(shí)現(xiàn)顯示面板的窄邊框化。
發(fā)明內(nèi)容
鑒于現(xiàn)有技術(shù)存在的不足,本發(fā)明提供了一種陣列基板,通過對(duì)其中的假壓測試焊盤的結(jié)構(gòu)進(jìn)行改進(jìn),減小了假壓測試焊盤在基板邊緣所占用的面積,提高了顯示基板的利用率,有利于實(shí)現(xiàn)顯示面板的窄邊框化。
為了達(dá)到上述的目的,本發(fā)明采用了如下的技術(shù)方案:
一種陣列基板,包括驅(qū)動(dòng)芯片接合區(qū)域,所述驅(qū)動(dòng)芯片接合區(qū)域設(shè)置有假壓測試區(qū),其中,所述假壓測試區(qū)中設(shè)置有兩行焊盤,每一行焊盤中包括相互間隔排列的多個(gè)焊盤,第一行焊盤中的多個(gè)焊盤與第二行焊盤中的多個(gè)焊盤交錯(cuò)排布;所述焊盤的形狀為三角形,第一行焊盤中的每一個(gè)焊盤的第一邊位于同一水平線上,第一行焊盤中的每一個(gè)焊盤的與所述第一邊相對(duì)的角朝向第二行焊盤的方向;第二行焊盤中的每一個(gè)焊盤的第二邊位于同一水平線上,第二行焊盤中的每一個(gè)焊盤的與所述第二邊相對(duì)的角朝向第一行焊盤的方向。
其中,所述焊盤的形狀為等腰三角形,第一行焊盤中的每一個(gè)焊盤的底邊位于同一水平線上,第一行焊盤中的每一個(gè)焊盤的頂角朝向第二行焊盤的方向;第二行焊盤中的每一個(gè)焊盤的底邊位于同一水平線上,第二行焊盤中的每一個(gè)焊盤的頂角朝向第一行焊盤的方向。
其中,所述焊盤的底邊的長度為400~500μm。
其中,同一行中,相鄰的兩個(gè)焊盤之間的間隙的寬度為50~100μm。
其中,第一行焊盤中的所有焊盤的頂點(diǎn)和第二行焊盤中的所有焊盤的頂點(diǎn)位于同一直線上。
其中,第一行焊盤中的第m個(gè)焊盤,與第二行焊盤中距離所述第m個(gè)焊盤最近的兩個(gè)焊盤的中心點(diǎn)的連線,形成一個(gè)頂角位于所述第m個(gè)焊盤中的等腰三角形;第二行焊盤中的第n個(gè)焊盤,與第一行焊盤中距離所述第n個(gè)焊盤最近的兩個(gè)焊盤的中心點(diǎn)的連線,形成一個(gè)頂角位于所述第n個(gè)焊盤中的等腰三角形;其中,所述第m個(gè)焊盤是指第一行焊盤中的任意一個(gè)焊盤,所述第n個(gè)焊盤是指第二行焊盤中的任意一個(gè)焊盤。
其中,所述焊盤的底邊和腰相等,即,所述焊盤的形狀為等邊三角形。
其中,所述驅(qū)動(dòng)芯片接合區(qū)域中還設(shè)置有芯片接合焊盤,所述假壓測試區(qū)的數(shù)量為兩個(gè),兩個(gè)所述假壓測試區(qū)位于所述芯片接合焊盤的相對(duì)兩側(cè)。
本發(fā)明還提供了一種液晶顯示面板,其包括相對(duì)設(shè)置的陣列基板和彩膜基板,其中,所述陣列基板為如上所述的陣列基板。
相比于現(xiàn)有技術(shù),本發(fā)明實(shí)施例提供的陣列基板中,其中的假壓測試區(qū)中設(shè)置有兩行焊盤,所述焊盤的形狀為三角形,兩行焊盤交錯(cuò)排布且頂角相向設(shè)置,在保證焊盤具有足夠大的焊接面積和相鄰間距的同時(shí),整體上縮小了假壓測試區(qū)在基板邊緣所占用的面積,提高了顯示基板的利用率,有利于實(shí)現(xiàn)顯示面板的窄邊框化。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于武漢華星光電技術(shù)有限公司,未經(jīng)武漢華星光電技術(shù)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710779998.3/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G02F 用于控制光的強(qiáng)度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如轉(zhuǎn)換、選通、調(diào)制或解調(diào),上述器件或裝置的光學(xué)操作是通過改變器件或裝置的介質(zhì)的光學(xué)性質(zhì)來修改的;用于上述操作的技術(shù)或工藝;變頻;非線性光學(xué);光學(xué)
G02F1-00 控制來自獨(dú)立光源的光的強(qiáng)度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如,轉(zhuǎn)換、選通或調(diào)制;非線性光學(xué)
G02F1-01 .對(duì)強(qiáng)度、相位、偏振或顏色的控制
G02F1-29 .用于光束的位置或方向的控制,即偏轉(zhuǎn)
G02F1-35 .非線性光學(xué)
G02F1-355 ..以所用材料為特征的
G02F1-365 ..在光波導(dǎo)結(jié)構(gòu)中的
- 接收裝置以及接收方法、以及程序
- 凈水濾芯以及凈水裝置、以及洗漱臺(tái)
- 隱匿檢索系統(tǒng)以及公開參數(shù)生成裝置以及加密裝置以及用戶秘密密鑰生成裝置以及查詢發(fā)布裝置以及檢索裝置以及計(jì)算機(jī)程序以及隱匿檢索方法以及公開參數(shù)生成方法以及加密方法以及用戶秘密密鑰生成方法以及查詢發(fā)布方法以及檢索方法
- 編碼方法以及裝置、解碼方法以及裝置
- 編碼方法以及裝置、解碼方法以及裝置
- 圖片顯示方法以及裝置以及移動(dòng)終端
- ENB以及UEUL發(fā)送以及接收的方法
- X射線探測方法以及裝置以及系統(tǒng)
- 圖書信息錄入方法以及系統(tǒng)以及書架
- 護(hù)耳器以及口罩以及眼鏡





