[發明專利]一種靜態條件下TDI探測器在光軸正交方向傾斜的校正方法有效
| 申請號： | 201710779395.3 | 申請日： | 2017-09-01 |
| 公開（公告）號： | CN107631801B | 公開（公告）日： | 2019-04-19 |
| 發明（設計）人： | 霍家全;王珊珊 | 申請（專利權）人： | 天津津航技術物理研究所 |
| 主分類號： | G01J5/00 | 分類號： | G01J5/00;G01J5/02 |
| 代理公司： | 中國兵器工業集團公司專利中心 11011 | 代理人： | 祁恒 |
| 地址： | 300308 天津*** | 國省代碼： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 探測器 光軸 正交方向 校正 光學系統 靜態條件 紅外多光譜掃描儀 雙球面結構 插值處理 定量測量 定量關系 光電系統 機械接口 圖像灰度 微調機構 軸孔配合 定量化 微調量 最優化 正交 裝調 保證 | ||
1.一種靜態條件下TDI探測器在光軸正交方向傾斜的校正方法，其特征在于，所述方法包括如下步驟：
S1、將TDI相機的光學系統與光電測試系統的光路對準；
S2、將TDI探測器安裝在傾斜微調機構中，并將所述傾斜微調機構連接在所述光學系統的接口上，保持所述TDI探測器與所述光學系統的同軸性；
S3、在靜態條件下，使所述TDI相機工作于TDI工作模式，采集所述光電測試系統中圓孔靶的目標圖像；
S4、在所述光學系統的接口與所述傾斜微調機構之間，逐漸增加標準塞尺；每增加一次標準塞尺，所述TDI相機采集一次目標圖像；
S5、統計所有采集的目標圖像的灰度，擬合塞尺厚度與圖像灰度曲線，對擬合曲線函數進行插值處理，求出所述TDI探測器處于最佳焦面所對應的塞尺總厚度；
S6、將所述光學系統的接口、所述塞尺和所述傾斜微調機構進行固定，完成所述TDI探測器在所述光學系統光軸方向的焦面裝調；
S7、將所述圓孔靶移動到所述TDI探測器線列方向視場的0.7倍視場位置，采集所述圓孔靶的目標圖像；
S8、調節所述傾斜微調機構，使所述TDI探測器繞自身中心旋轉而發生傾斜；每調節一次所述傾斜微調機構，所述TDI相機采集一次目標圖像；
S9、統計步驟S8中所有采集的目標圖像的灰度，擬合傾斜微調量與圖像灰度曲線，對擬合曲線函數進行插值處理，求出所述傾斜微調機構的傾斜微調量；
S10、對所述傾斜微調機構進行固定，完成所述TDI探測器在所述光學系統光軸正交方向的傾斜校正。
2.如權利要求1所述的校正方法，其特征在于，根據所述TDI相機的瞬時視場角，選擇覆蓋所有TDI級數的圓孔靶。
3.如權利要求1所述的校正方法，其特征在于，在步驟S4中，根據所述光學系統的焦深，按照二分之一焦深精度，逐漸在所述光學系統的接口與所述傾斜微調機構間增加標準塞尺。
4.如權利要求1所述的校正方法，其特征在于，在步驟S6中，將多個標準塞尺更換為厚度為塞尺總厚度的專用墊圈，將所述光學系統的接口、所述專用墊圈和所述傾斜微調機構進行固定。
5.如權利要求1所述的校正方法，其特征在于，在步驟S8中，調節精度為二分之一焦深。
6.如權利要求1所述的校正方法，其特征在于，在步驟S10中，對所述傾斜微調機構進行點膠固化處理。
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