[發明專利]一種用于模式識別的方法和裝置

有效

• 申請號: 201710778500.1
• 申請日: 2017-09-01
• 公開（公告）號: CN109460690B
• 公開（公告）日: 2022-10-14
• 發明（設計）人: 石磊;潘仁林;張瑋;呂士文
• 申請（專利權）人: 虹軟科技股份有限公司
• 主分類號: G06V40/16
• 分類號: G06V40/16
• 代理公司: 北京安信方達知識產權代理有限公司 11262
• 代理人: 富愛民;栗若木

1.一種用于模式識別的方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取目標物體二維圖像并根據所述目標物體二維圖像獲取所述目標物體的二維特征，并，

獲取目標物體三維圖像并根據所述目標物體三維圖像獲取所述目標物體的三維特征；

根據所述目標物體的二維特征和三維特征識別所述目標物體；

其中，所述目標物體三維圖像包括所述目標物體的三維曲面，所述目標物體的三維特征包括所述目標物體三維曲面的至少一條三維特征曲線；

所述至少一條三維特征曲線包括至少一個平面的一部分與所述目標物體三維曲面相交的曲線，或所述目標物體三維曲面中的與所述相交的曲線距離小于或等于第一閾值的點的集合，其中，上述所述至少一個平面中相鄰兩個平面的夾角為第一角度，所述第一角度根據所述目標物體三維圖像的特征點的分布確定，或，

所述至少一條三維特征曲線包括至少一個曲面與所述目標物體三維曲面相交的曲線或所述曲面的一部分與所述目標物體三維曲面相交的曲線，或所述目標物體三維曲面中的與所述相交的曲線距離小于或等于第一閾值的點的集合；

所述方法還包括：

確定所述目標物體的至少一條三維特征曲線與物體三維圖像集合中至少一個三維圖像的對應的至少一條三維特征曲線之間的距離，并確定得到的所述至少一個距離的第一加權和，所述第一加權和作為所述目標物體三維圖像與物體三維圖像集合中至少一個三維圖像的三維圖像相似度。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，

所述目標物體的三維特征集中于第一區域，所述第一區域包括所述目標物體三維曲面的部分區域，且所述至少一條三維特征曲線位于所述第一區域。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，

所述至少一個平面與所述目標物體的三維曲面的特征平面垂直，所述目標物體的三維曲面的特征平面包括目標物體的三維曲面上三個特征點所在的平面。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，

所述至少一個平面相交于第一直線，所述第一直線垂直于所述目標物體的三維曲面的特征平面。

5.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，在根據所述目標物體三維圖像獲取所述目標物體的三維特征之前，所述方法還包括：

在以所述目標物體的三維曲面上一個特征點為原點的三維坐標系下，對所述目標物體的三維曲面進行姿態調整，所述姿態調整包括下述的至少一個：

根據所述目標物體的三維曲面的特征平面的法向量進行姿態調整；以及，

選取所述目標物體的三維曲面上的兩個特征點，根據所述兩個特征點所在的向量進行姿態調整。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述根據所述目標物體的三維曲面的特征平面的法向量進行姿態調整，包括：

確定由所述目標物體的三維曲面的特征平面的法向量旋轉到與所述三維坐標系的Z軸正方向相同的旋轉矩陣R_z，所述法向量與所述Z軸正方向的夾角為銳角，將所述目標物體的三維曲面按照旋轉矩陣R_z旋轉；

所述根據所述兩個特征點所在的向量進行姿態調整，包括:

確定所述兩個特征點所在的向量旋轉到與所述三維坐標系的X軸正方向相同的旋轉矩陣R_x，所述兩個特征點所在的向量與所述X軸正方向的夾角為銳角，將所述目標物體的三維曲面按照旋轉矩陣R_x旋轉。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述目標物體二維圖像獲取所述目標物體的二維特征，包括：

獲取所述目標物體二維圖像的二維特征以及物體二維圖像集合中至少一個二維圖像的二維特征；

所述方法還包括：

確定物體二維圖像集合中所述至少一個二維圖像的二維特征與所述目標物體二維圖像的二維特征之間的距離，并確定所述至少一個距離的第二加權和，所述第二加權和作為所述目標物體二維圖像與物體二維圖像集合中至少一個二維圖像的二維相似度。