[發(fā)明專利]一種基于氧化石墨烯量子點(diǎn)的三態(tài)電荷俘獲存儲(chǔ)器及其制備方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710777066.5 | 申請(qǐng)日: | 2017-09-01 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN107634067B | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-01-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 閆小兵;賈信磊;王宏;楊濤 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 河北大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H01L27/11568 | 分類號(hào): | H01L27/11568;H01L29/51 |
| 代理公司: | 13112 石家莊國(guó)域?qū)@虡?biāo)事務(wù)所有限公司 | 代理人: | 孫麗紅;蘇艷肅 |
| 地址: | 071002 河北*** | 國(guó)省代碼: | 河北;13 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 氧化 石墨 量子 三態(tài) 電荷 俘獲 存儲(chǔ)器 及其 制備 方法 | ||
1.一種基于氧化石墨烯量子點(diǎn)的三態(tài)電荷俘獲存儲(chǔ)器,其特征是,其是在Si襯底上依次形成氧化物介質(zhì)層和Pd電極膜層;所述氧化物介質(zhì)層由依次形成于Si襯底上的二氧化硅隧穿氧化層、ZnO/GOQDs/ZnO電荷俘獲層及二氧化硅阻擋氧化層構(gòu)成,所述ZnO/GOQDs/ZnO電荷俘獲層中的GOQDs層為單層氧化石墨烯量子點(diǎn)層;
所述單層氧化石墨烯量子點(diǎn)層是在形成的ZnO膜層上采用滴涂-旋轉(zhuǎn)的方法將氧化石墨烯量子點(diǎn)水懸浮液添加到ZnO膜層上并晾干得到,所述氧化石墨烯量子點(diǎn)水懸浮液是按如下方法制備得到:在石英玻璃管中,按體積比40∶1將濃度0.5mg/mL的石墨烯氧化物水性懸浮液和濃度30wt%的過(guò)氧化氫水溶液混合,然后在紫外燈照射條件下勻速攪拌40分鐘得反應(yīng)物,然后將所述反應(yīng)物使用3500 Da的透析袋對(duì)產(chǎn)品透析72h以上即得氧化石墨烯量子點(diǎn)水懸浮液;
其中,所述二氧化硅隧穿氧化層厚度為2~5nm,所述二氧化硅阻擋氧化層的厚度為5~15nm,所述ZnO/GOQDs/ZnO電荷俘獲層中ZnO層分別為第一氧化鋅膜層和第二氧化鋅膜層,所述第一氧化鋅膜層與所述第二氧化鋅膜層的厚度相等且為5~15nm。
2.如權(quán)利要求1所述基于氧化石墨烯量子點(diǎn)的三態(tài)電荷俘獲存儲(chǔ)器的制備方法,其特征是,包括如下步驟:
①將清洗好的Si襯底固定到快速熱氧化爐中,形成二氧化硅隧穿氧化層,得SiO2/Si;
②將SiO2/Si固定到磁控濺射設(shè)備腔體的襯底臺(tái)上,Ar和O2氣氛下在二氧化硅隧穿氧化層表面濺射沉積氧化鋅膜層,得ZnO/SiO2/Si;
③采用滴涂-旋轉(zhuǎn)的方法將氧化石墨烯量子點(diǎn)水懸浮液添加到ZnO/SiO2/Si的氧化鋅膜層上并晾干,形成單層氧化石墨烯量子點(diǎn)層,得GOQDs/ZnO/SiO2/Si;
④將GOQDs/ZnO/SiO2/Si固定到磁控濺射設(shè)備腔體的襯底臺(tái)上,Ar和O2氣氛下在單層氧化石墨烯量子點(diǎn)層表面濺射沉積氧化鋅膜層,得ZnO/GOQDs/ZnO/SiO2/Si;
⑤將ZnO/GOQDs/ZnO/SiO2/Si固定到磁控濺射設(shè)備腔體的襯底臺(tái)上,Ar和O2氣氛下在氧化鋅膜層表面濺射沉積二氧化硅阻擋氧化層,得SiO2/ZnO/GOQDs/ZnO/SiO2/Si;
⑥在二氧化硅阻擋氧化層上形成Pd電極膜層,得Pd/SiO2/ZnO/GOQDs/ZnO/SiO2/Si結(jié)構(gòu)的記憶元件,即所述基于氧化石墨烯量子點(diǎn)的三態(tài)電荷俘獲存儲(chǔ)器。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無(wú)源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的無(wú)源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過(guò)這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的





