[發明專利]雙極型晶體管及其制造方法有效
| 申請號: | 201710769561.1 | 申請日: | 2017-08-31 |
| 公開(公告)號: | CN108206136B | 公開(公告)日: | 2019-08-06 |
| 發明(設計)人: | 梅本康成;小屋茂樹;黑川敦 | 申請(專利權)人: | 株式會社村田制作所 |
| 主分類號: | H01L21/331 | 分類號: | H01L21/331;H01L29/737 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 舒艷君;李洋 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 子集電極層 雜質層 雙極型晶體管 基極層 薄膜電阻 集電極層 集電極電極 集電極電阻 發射極層 基極電極 濃度減少 依次層疊 集電極 電容 制造 配置 | ||
本發明涉及雙極型晶體管及其制造方法。同時實現雙極型晶體管的集電極電阻的降低和基極?集電極間電容的降低。雙極型晶體管(100)具備將集電極層(3)、基極層(4)以及發射極層(5)依次層疊于子集電極層(2)的構造。在子集電極層(2)形成有集電極電極(9)。在基極層(4)形成有基極電極(10)。集電極層(3)具備配置為從子集電極層側朝向基極層側雜質濃度減少的多個雜質層(31、32、33、34)。雜質層(31)是多個雜質層(31、32、33、34)中雜質濃度最大的雜質層,并且與子集電極層(2)接觸。雜質層(31)的薄膜電阻是子集電極層(2)的薄膜電阻的9倍以下。
技術領域
本發明涉及雙極型晶體管及其制造方法。
背景技術
近年來,作為構成移動通信終端的高頻放大器模塊的晶體管主要使用異質結型的雙極型晶體管(以下稱為HBT)。作為對HBT要求的特性,一般可以列舉出高效率、高增益、高耐壓(高負載變動耐壓)以及高輸出等各種特性。對于第二代移動電話來說,雖然依舊處于對具有高負載變動耐壓的HBT有強烈需求的狀況,但除此之外,最近也處于追求進一步的高輸出化的狀況中。此外,對于第三代和第四代的移動電話來說,雖然對具有高附加效率的HBT的需求較高,但進一步也在追求在高效率且高增益的同時達到高輸出。這樣,最近可以說對具有高輸出的HBT的需求進一步增強了。
作為提及這種HBT的結構的文獻,已知有日本特開2006-60221號公報以及日本特開2008-130586號公報。這些文獻所記載的HBT具有在基板上依次形成有如下部件的構造:作為n型集電極區域發揮功能的子集電極層和集電極層、作為p型基極區域發揮功能的基極層以及作為n型發射極區域發揮功能的發射極層。集電極層具有層疊多個雜質層的構造,各雜質層的施主雜質濃度被調整為從子集電極層側朝向基極層側逐漸減少。將發射極區域中流過實質的發射極電流的區域稱為本征發射極區域。由于在基極區域、集電極區域,電流也流過本征發射極區域的正下方的各區域,所以將本征發射極區域與其正下方的基極區域以及集電極區域稱作本征HBT。
日本特開2006-60221號公報的圖1A所記載的HBT的集電極層從接近子集電極層的一側開始依次具有第一n型雜質層、第二n型雜質層以及第三n型雜質層。第一n型雜質層具有7×1016cm-3以上10×1016cm-3以下的雜質濃度和200nm以上400nm以下的厚度。第二n型雜質層具有4×1016cm-3以上7×1016cm-3以下的雜質濃度和200nm以上400nm以下的厚度。第三n型雜質層具有0.5×1016cm-3以上4×1016cm-3以下的雜質濃度和100nm以上500nm以下的厚度。子集電極層具有4×1018cm-3的雜質濃度和400nm的厚度。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于株式會社村田制作所,未經株式會社村田制作所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710769561.1/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種溝槽型IGBT及其制造方法和電子裝置
- 下一篇:薄膜晶體管及其制造方法
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





