[發明專利]磁控管的狀態檢測方法、裝置及設備

有效

• 申請號: 201710767223.4
• 申請日: 2017-08-31
• 公開（公告）號: CN107632247B
• 公開（公告）日: 2020-07-28
• 發明（設計）人: 何春華;黎青海;鄭年重;覃承勇
• 申請（專利權）人: 廣東美的廚房電器制造有限公司;美的集團股份有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 工業和信息化部電子專利中心 11010
• 代理人: 齊潔茹

1.一種磁控管的狀態檢測方法，其特征在于，包括：

按照設定的采樣頻率，采集磁控管的陽極電流；

基于采集的陽極電流數據點，繪制所述陽極電流的包絡線；

根據所述包絡線，檢測所述磁控管的狀態；

所述基于采集陽極電流數據點，繪制所述陽極電流的包絡線，具體包括：

對采樣周期內采集的數據點進行特征提取，基于特征提取壓縮處理后的數據點，繪制所述陽極電流的包絡線；

所述對采樣周期內采集的數據點進行特征提取，包括：

在采樣周期內，每采集N個數據點，求取并存儲該N個數據點中的最大值和最小值；所述N為大于1的整數。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述包絡線，檢測所述磁控管的狀態，包括：

分析所述包絡線的波形特性，并根據預先設定的包絡線波形特性與磁控管狀態的匹配關系，確定分析出的所述包絡線的波形特性對應的磁控管狀態。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述包絡線，檢測所述磁控管的狀態，進一步包括：

記錄本次檢測的狀態信息；

判斷是否到達預先設定的檢測次數閾值，若未達到，則繼續檢測流程；否則，判斷各次檢測結果中異常狀態的比例，當該比例達到設定的閾值時，判定出所述磁控管的狀態異常。

4.一種磁控管的狀態檢測裝置，其特征在于，包括：

采集模塊，用于按照設定的采樣頻率，采集磁控管的陽極電流；

處理模塊，用于基于采集的陽極電流數據點，繪制所述陽極電流的包絡線；

檢測模塊，用于根據所述包絡線，檢測所述磁控管的狀態；

所述處理模塊，進一步用于對采樣周期內采集的數據點進行特征提取，基于特征提取壓縮處理后的數據點，繪制所述陽極電流的包絡線；

所述處理模塊，具體用于在采樣周期內，每采集N個數據點，求取并存儲該N個數據點中的最大值和最小值，以實現數據點的特征提取；所述N為大于1的整數。

5.如權利要求4所述的裝置，其特征在于，所述檢測模塊，具體用于分析所述包絡線的波形特性，并根據預先設定的包絡線波形特性與磁控管狀態的匹配關系，確定分析出的所述包絡線的波形特性對應的磁控管狀態。

6.一種高頻加熱設備，包括磁控管和處理器，其特征在于，還包括：電流檢測模塊；

所述電流檢測模塊，適于檢測所述磁控管的陽極電流，并對其進行低通濾波處理后，輸出至所述處理器；

所述處理器，適于按照設定的采樣頻率，采集所述磁控管的陽極電流，基于采集的陽極電流數據點，繪制所述陽極電流的包絡線，根據所述包絡線，檢測所述磁控管的狀態；

所述處理器，進一步適于對采樣周期內采集的數據點進行特征提取，基于特征提取壓縮處理后的數據點，繪制所述陽極電流的包絡線；

具體適于在采樣周期內，每采集N個數據點，求取并存儲該N個數據點中的最大值和最小值，以實現對數據點的特征提取；所述N為大于1的整數。

7.如權利要求6所述的高頻加熱設備，其特征在于，所述處理器，具體適于分析所述包絡線的波形特性，并根據預先設定的包絡線波形特性與磁控管狀態的匹配關系，確定分析出的所述包絡線的波形特性對應的磁控管狀態。

8.如權利要求6所述的高頻加熱設備，其特征在于，所述電流檢測模塊包括：電阻R₀、R₁、R₂、R₃以及電容C₁；

所述電阻R₀一端與所述磁控管的陽極相連，另一端接地；

所述電阻R₂與R₃串聯，串聯后的電阻R₃與電阻R₀相連、電阻R₂接地；

所述電阻R₁與電容C₁串聯，串聯后的電阻R₁連接到電阻R₂與R₃的連接點、電容C₁接地、且電阻R₁與電容C₁的連接節點連接到所述處理器。