[發明專利]信道檢測方法及信道檢測設備

有效

• 申請號: 201710766869.0
• 申請日: 2017-08-30
• 公開（公告）號: CN107612643B
• 公開（公告）日: 2020-12-22
• 發明（設計）人: 李明菊;張云飛
• 申請（專利權）人: 宇龍計算機通信科技（深圳）有限公司
• 主分類號: H04B17/382
• 分類號: H04B17/382;H04L27/26
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 郝傳鑫;熊永強

1.一種信道檢測方法，其特征在于，包括：

確定信道檢測設備的信道檢測機制和時間粒度，所述時間粒度為所述信道檢測設備檢測目標頻譜所在信道的信道檢測時間粒度，所述時間粒度與正交頻分復用OFDM符號的長度成正比；

依據所述信道檢測機制以及所述時間粒度對所述目標頻譜所在信道進行檢測；

所述信道檢測機制包括第一機制和第二機制；所述依據所述信道檢測機制以及所述時間粒度對所述目標頻譜所在信道進行檢測包括：

在所述信道檢測機制為所述第一機制的情況下，在第一時間粒度內檢測目標功率是否低于預設功率，所述目標功率為所述目標頻譜所在信道的功率；

若在所述第一時間粒度內檢測到所述目標功率低于所述預設功率，則確定所述目標頻譜所在信道空閑；

或者，在所述信道檢測機制為所述第二機制的情況下，在第二時間粒度內檢測所述目標功率是否低于所述預設功率，若在所述第二時間粒度內檢測到所述目標功率低于所述預設功率，則在競爭窗口內隨機取值n，在第三時間粒度內檢測所述目標功率是否低于所述預設功率，若在所述第三時間粒度檢測到所述目標功率低于所述預設功率，則n-1；

在n減為0的情況下，確定所述目標頻譜所在信道空閑；

所述第二時間粒度大于或等于所述第一時間粒度，所述第一時間粒度大于所述第三時間粒度；

所述第一時間粒度為OFDM符號長度的M分之一時長，M為大于1，且小于等于5的整數；

所述第二時間粒度為OFDM符號長度的L倍，L大于0，且小于2；

所述第三時間粒度為OFDM符號長度的N分之一時長，N為大于1，且小于等于10的整數。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述依據所述信道檢測機制以及所述時間粒度對所述目標頻譜所在信道進行檢測之后，所述方法還包括：

在所述目標頻譜所在信道空閑的情況下，依據所述信道檢測機制確定信道占用時長；

所述信道占用時長包括：第一時長或第二時長；

依據所述信道檢測機制確定信道占用時長包括：

在所述信道檢測機制為上述第一機制的情況下，確定所述信道占用時長為所述第一時長；

在所述信道檢測機制為上述第二機制的情況下，確定所述信道占用時長為所述第二時長；其中，所述第一時長小于等于所述第二時長。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，在所述信道檢測機制為所述第二機制的情況下，所述信道檢測設備待發送內容的優先級越高，所述第二時間檢測粒度越小，所述競爭窗口越小，所述第二時長越小。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述OFDM符號的長度與子載波間隔大小對應。