[發明專利]用于海洋電子裝備的加速實驗綜合平臺及其方法有效
| 申請號: | 201710762124.7 | 申請日: | 2017-08-30 |
| 公開(公告)號: | CN107607461B | 公開(公告)日: | 2020-07-14 |
| 發明(設計)人: | 朱智源;夏克泉;徐志偉;楊李杰;厲敏;李娜雨 | 申請(專利權)人: | 浙江大學 |
| 主分類號: | G01N17/00 | 分類號: | G01N17/00;G01M7/02 |
| 代理公司: | 杭州求是專利事務所有限公司 33200 | 代理人: | 鄭海峰 |
| 地址: | 310058 浙江*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 海洋 電子 裝備 加速 實驗 綜合 平臺 及其 方法 | ||
本發明公開了一種用于海洋電子裝備的加速實驗綜合平臺及其方法。該平臺由箱蓋、箱體、減震底座、試驗架、帶有細小孔的塑料網、電加熱裝置、鹽霧加濕裝置、振動裝置、去濕裝置、溫度計、濕度計、壓力計、計時器組成。所述箱蓋上有自動控壓裝置;所述箱體本身有三層,內層為耐壓玻璃,且有水冷卻系統,以及保溫層等;所述減震底座裝上端布置有四根彈簧,可以起到減少儀器本身振動對周圍環境的影響;所述電加熱裝置,鹽霧加濕裝置,電磁振動裝置,去濕裝置既可獨立工作,也可同時工作。本發明可用于研究各種電子元器件在海洋環境綜合應力下的可靠性。
技術領域
本發明涉及用于海洋電子裝備的加速實驗綜合平臺及其方法,用于探究海洋環境下,溫度、濕度、鹽霧、振動以及氣壓對電子器件的影響。屬于海洋電子可靠性領域。
背景技術
在海洋環境下,溫度、濕度、鹽霧等因素會加速電子元器件的老化和銹蝕,導致其電性能下降、結構材料斷裂和機械強度降低等失效模式的發生,進而影響電子元器件的可靠性。目前,對于海洋用電子元器件的可靠性的研究較少,相關研究存在試驗及檢測水平不高、性能參數變化規律不明、失效模式與失效機理不清、評估與預測手段不足等一系列問題。因此,如何評估海洋用電子元器件的可靠性已成為亟待解決的關鍵問題。為了更好的研究海洋環境下,溫度、濕度、鹽霧等因素對電子元器件可靠性和老化的影響,海洋電子裝備的加速試驗綜合平臺已成為海洋電子可靠性領域發展的必然需要。
發明內容
本發明旨在彌補現有海洋電子可靠性研究設備的空白,在考慮溫度,濕度,鹽霧,振動,壓強等綜合因素作用下,電子設備及系統的可靠性,提出用于海洋電子裝備的加速實驗綜合平臺及其方法。
本發明用于海洋電子裝備的加速實驗綜合平臺,包括箱蓋、箱體、減震底座、試驗架、塑料網、電加熱裝置、鹽霧加濕裝置、振動裝置、去濕裝置、溫度計、濕度計、壓力計、計時器;所述箱體的箱體口向外翻邊,箱蓋的箱蓋口向內翻邊;所述試驗架與振動裝置通過固定式聯軸器聯接,且聯軸器與箱體之間填充彈性密封材料;所述溫度計、濕度計、壓力計、計時器固定在箱體內側,且與試驗架保持在同一高度;所述去濕裝置與箱體聯接,且上聯接口高度低于試驗架,下聯接口高度低于塑料網的位置;所述塑料網所處的高度高于液面低于試驗架;塑料網上設有細小孔用于阻擋液滴飛濺到試驗架上,所述電加熱裝置置于液面高度以下;所述鹽霧加濕裝置安裝在箱體底端;所述箱體放置在減震底座上。
優選的,所述箱蓋為圓形且上面有把手,箱蓋一側豎直方向開有橢圓形的通孔,且通孔下邊緣形狀逐漸變成直徑較小的圓形孔,之后圓形孔隨高度降低口徑逐漸增大,橢圓形通孔內放置壓力塊;壓力塊內開有通孔,壓力塊的進氣孔在底面,出氣孔在側面;橢圓形通孔頂部密封,出氣口在側面。
優選的,所述箱體為圓柱形,內外分為三部分,內部第一部分為雙層耐壓玻璃,雙層耐壓玻璃之間為環形冷卻管;中間第二部分為保溫板;最外部第三部分為鋁合金材料,且外部涂有絕緣材料。
優選的,所述試驗架為三根相互成120°角的銅制金屬棒,且每根金屬棒上有兩到三個金屬夾,金屬夾與金屬棒之間通過球面副聯接。
優選的,所述減震底座外部形狀為正方形,內凹與箱體相配部分為圓形,凹陷部分有四個彈性支柱與箱體底部相連,底座外表面涂有絕緣材料。
優選的,所述振動裝置包括飛碟形狀的塑料塊,塑料塊下面粘有一個環形銜鐵,整個塑料塊通過兩根彈簧與底板聯接,底板上面固定有環形電磁鐵,底板與箱體固定,電磁鐵外接交流電源及二極管,分壓電阻,開關組成回路。
優選的,所述去濕裝置包括吸氣葉輪,電機以及環形冷卻管,電機與吸氣葉輪相連,吸氣葉輪將氣體吸入腔室;環形冷卻管入口與腔室連通;環形冷卻管出口通向液面,且略高于液面。
優選的,所述電加熱裝置由加熱電阻及滑動變阻器組成。
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