[發(fā)明專利]一種磁盤數(shù)據(jù)檢測(cè)方法及裝置

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710757706.6
• 申請(qǐng)日: 2017-08-29
• 公開（公告）號(hào): CN107544860A
• 公開（公告）日: 2018-01-05
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉浩
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 新華三技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/07
• 分類號(hào): G06F11/07;G06F11/22
• 代理公司: 北京博思佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司11415
• 代理人: 林祥

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及數(shù)據(jù)處理技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種磁盤數(shù)據(jù)檢測(cè)方法及裝置。

背景技術(shù)

磁盤可靠性是指存儲(chǔ)系統(tǒng)中，定期的檢測(cè)磁盤上數(shù)據(jù)的正確性、完整性，并在發(fā)現(xiàn)磁盤故障時(shí)，進(jìn)行數(shù)據(jù)恢復(fù)的一種保證存儲(chǔ)系統(tǒng)高可用性的特性。磁盤可靠性可以分為磁盤故障檢測(cè)和磁盤故障恢復(fù)兩部分。磁盤故障檢測(cè)可以提早發(fā)現(xiàn)故障，預(yù)防用戶在使用數(shù)據(jù)時(shí)出錯(cuò)，提高數(shù)據(jù)可用性。磁盤故障恢復(fù)是在發(fā)現(xiàn)磁盤上存在故障后，將受損的數(shù)據(jù)通過其他備份數(shù)據(jù)恢復(fù)正常的方法。

目前，常用的磁盤可靠性方案通常是直接對(duì)用戶的數(shù)據(jù)進(jìn)行全副本讀取校驗(yàn)，采用多副本數(shù)據(jù)對(duì)比的方式來檢查用戶數(shù)據(jù)是否正確。

然而實(shí)踐發(fā)現(xiàn)，上述磁盤可靠性方案中，進(jìn)行磁盤故障檢測(cè)時(shí)需要進(jìn)行大量讀取數(shù)據(jù)，然后進(jìn)行數(shù)據(jù)校驗(yàn)，這些磁盤數(shù)據(jù)校驗(yàn)IO(Input/output，輸入/輸出)會(huì)和正常的業(yè)務(wù)IO搶占資源，影響業(yè)務(wù)IO的性能，甚至影響用戶對(duì)磁盤的正常使用。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明提供一種磁盤數(shù)據(jù)檢測(cè)方法及裝置，以解決現(xiàn)有磁盤可靠性方案中磁盤數(shù)據(jù)校驗(yàn)IO會(huì)影響磁盤業(yè)務(wù)IO性能的問題。

根據(jù)本發(fā)明的第一方面，提供一種磁盤數(shù)據(jù)檢測(cè)方法，應(yīng)用于存儲(chǔ)設(shè)備，該方法包括：

對(duì)目標(biāo)磁盤上預(yù)留的檢測(cè)區(qū)域進(jìn)行數(shù)據(jù)讀寫檢測(cè)；

若檢測(cè)到磁盤錯(cuò)誤，則根據(jù)錯(cuò)誤類型對(duì)所述目標(biāo)磁盤進(jìn)行處理。

根據(jù)本發(fā)明的第二方面，提供一種磁盤數(shù)據(jù)檢測(cè)裝置，應(yīng)用于存儲(chǔ)設(shè)備，該裝置包括：

檢測(cè)單元，用于對(duì)目標(biāo)磁盤上預(yù)留的檢測(cè)區(qū)域進(jìn)行數(shù)據(jù)讀寫檢測(cè)；

處理單元，用于若所述檢測(cè)單元檢測(cè)到磁盤錯(cuò)誤，則根據(jù)錯(cuò)誤類型對(duì)所述目標(biāo)磁盤進(jìn)行處理。

應(yīng)用本發(fā)明公開的技術(shù)方案，通過對(duì)目標(biāo)磁盤上預(yù)留的檢測(cè)區(qū)域進(jìn)行數(shù)據(jù)讀寫檢測(cè)，并當(dāng)檢測(cè)到磁盤錯(cuò)誤時(shí)，根據(jù)錯(cuò)誤類型對(duì)目標(biāo)磁盤進(jìn)行處理，由于只需要對(duì)磁盤固定預(yù)留的檢測(cè)點(diǎn)進(jìn)行讀寫檢測(cè)，因此，可以降低對(duì)磁盤的訪問量，降低對(duì)磁盤的訪問壓力；同時(shí)，由于不需要進(jìn)行數(shù)據(jù)校驗(yàn)，因此，可以減少內(nèi)存和CPU資源的占用，避免了磁盤數(shù)據(jù)校驗(yàn)IO對(duì)磁盤業(yè)務(wù)IO資源的占用，提高了磁盤業(yè)務(wù)IO性能。

附圖說明

圖1是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種磁盤數(shù)據(jù)檢測(cè)方法的流程示意圖；

圖2是本發(fā)明實(shí)施例提供的另一種磁盤數(shù)據(jù)檢測(cè)方法的流程示意圖；

圖3是本發(fā)明實(shí)施例提供的一種磁盤數(shù)據(jù)檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4是本發(fā)明實(shí)施例提供的另一種磁盤數(shù)據(jù)檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

為了使本技術(shù)領(lǐng)域的人員更好地理解本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案，并使本發(fā)明實(shí)施例的上述目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更加明顯易懂，下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明實(shí)施例中技術(shù)方案作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。

請(qǐng)參見圖1，為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種磁盤數(shù)據(jù)檢測(cè)方法的流程示意圖，其中，該磁盤數(shù)據(jù)檢測(cè)方法可以應(yīng)用于存儲(chǔ)設(shè)備，如圖1所示，該磁盤數(shù)據(jù)檢測(cè)方法可以包括以下步驟：

步驟101、對(duì)目標(biāo)磁盤上預(yù)留的檢測(cè)區(qū)域進(jìn)行數(shù)據(jù)讀寫檢測(cè)。

本發(fā)明實(shí)施例中，目標(biāo)磁盤并不特指某一固定的磁盤，而是可以指代存儲(chǔ)設(shè)備上的任一磁盤，本發(fā)明實(shí)施例后續(xù)不再復(fù)述。

本發(fā)明實(shí)施例中，考慮到現(xiàn)有磁盤可靠性方案中，需要對(duì)磁盤進(jìn)行全盤數(shù)據(jù)校驗(yàn)以實(shí)現(xiàn)磁盤故障檢測(cè)，導(dǎo)致磁盤數(shù)據(jù)校驗(yàn)IO與正常業(yè)務(wù)IO搶占資源，影響業(yè)務(wù)IO的性能，為了減少磁盤故障檢測(cè)對(duì)磁盤正常業(yè)務(wù)的影響，可以預(yù)先在磁盤中預(yù)留若干檢測(cè)區(qū)域，存儲(chǔ)設(shè)備可以通過對(duì)該預(yù)留的檢測(cè)區(qū)域進(jìn)行讀寫檢測(cè)，根據(jù)磁盤中預(yù)留的檢測(cè)區(qū)域的讀寫檢測(cè)結(jié)果確定整個(gè)磁盤是否存在故障。

相應(yīng)地，在本發(fā)明實(shí)施例中，在目標(biāo)磁盤初始化時(shí)，可以根據(jù)目標(biāo)磁盤大小，在目標(biāo)磁盤中預(yù)留若干檢測(cè)區(qū)域。當(dāng)存儲(chǔ)設(shè)備需要對(duì)目標(biāo)磁盤進(jìn)行數(shù)據(jù)檢測(cè)時(shí)，可以通過對(duì)目標(biāo)磁盤上預(yù)留的檢測(cè)區(qū)域進(jìn)行數(shù)據(jù)讀寫檢測(cè)，即對(duì)目標(biāo)磁盤預(yù)留的檢測(cè)區(qū)域進(jìn)行數(shù)據(jù)寫入和讀取，以確定是否存在寫入錯(cuò)誤或/和讀取錯(cuò)誤。

本發(fā)明實(shí)施例中，當(dāng)存儲(chǔ)設(shè)備通過對(duì)目標(biāo)磁盤上預(yù)留的檢測(cè)區(qū)域進(jìn)行讀寫檢測(cè)未檢測(cè)到磁盤錯(cuò)誤時(shí)，確定目標(biāo)磁盤無異常，可以正常使用。

在本發(fā)明其中一個(gè)實(shí)施例中，檢測(cè)區(qū)域可以通過以下方式預(yù)留：

在目標(biāo)磁盤上每C/N大小的空間里預(yù)留一個(gè)大小為S的檢測(cè)區(qū)域；其中，C為目標(biāo)磁盤的容量，N為檢測(cè)區(qū)域數(shù)量，N為正整數(shù)，S＜C/N。

在該實(shí)施例中，考慮到磁盤上的壞道故障理論上都是連續(xù)存在的，因此在磁盤上均勻的設(shè)置檢測(cè)區(qū)域，可以達(dá)到對(duì)磁盤健康狀態(tài)監(jiān)控的作用。