[發明專利]有價物的回收方法及有害物質的去除方法在審
| 申請號: | 201710757450.9 | 申請日: | 2017-08-29 |
| 公開(公告)號: | CN107790479A | 公開(公告)日: | 2018-03-13 |
| 發明(設計)人: | 中井貴之;堀川健;高橋潤一;李寧;松浦宏昭;高橋和子 | 申請(專利權)人: | 銀河股份有限公司;學校法人智香寺學園 |
| 主分類號: | B09B3/00 | 分類號: | B09B3/00 |
| 代理公司: | 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙)11201 | 代理人: | 宋融冰 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 有價物 回收 方法 有害物質 去除 | ||
技術領域
本發明涉及有價物的回收方法及有害物質的去除方法,更具體地,涉及能夠高效地回收有價物的有價物的回收方法,以及能夠高效地去除有害物質的有害物質的去除方法。
背景技術
采礦殘渣隨著采礦而產生。此外,精煉殘渣隨著金屬精煉而產生。盡管實施適當的處理后這些殘渣能夠廢棄,但處理成本成為負擔的情況很多。
現有技術文獻
專利文獻
專利文獻1:日本特開2013-173994號公報
發明內容
發明要解決的問題
如上所述的殘渣等中含有有價物,然而將其高效地回收的方法還未充分確立。例如,若能夠高效地回收有價物提高收益,也有望減輕處理成本的負擔。
此外,若能夠高效地除去如上所述的殘渣等中含有的有害物質,也有望減輕處理成本的負擔。
因此,本發明的問題在于提供一種能夠高效地回收有價物的有價物的回收方法,以及能夠高效地除去有害物質的有害物質的去除方法。
此外,本發明的其他問題,通過以下內容而變得明確。
用于解決問題的方案
上述課題通過以下各發明進行解決。
1、一種有價物的回收方法,其特征在于,通過將含有有價物的污泥(a)放置于電位梯度下,(b)在0.1MPa~1.0MPa的范圍內加壓,或(c)在電位梯度下于0.1MPa~1.0MPa的范圍內加壓,從而將所述有價物從所述污泥中回收到回收液中。
2、根據1所述的有價物的回收方法,其特征在于,利用膜分離法將含有所述有價物的所述回收液進行濃縮。
3、根據2所述的有價物的回收方法,其特征在于,所述膜分離法為離子透析法或反滲透膜法。
4、根據1~3中任一項所述的有價物的回收方法,其特征在于,將從過渡元素的化合物、過渡元素的離子、屬于12族至17族中任一族的元素的化合物、以及屬于12族至17族中任一族的元素的離子中選擇的一種或多種作為所述有價物進行回收。
5、根據1~4中任一項所述的有價物的回收方法,其特征在于,通過向含有有價物的粉末狀物和/或塊狀物加水而得到所述污泥。
6、根據5所述的有價物的回收方法,其特征在于,使所述加水的水中含有酸、堿和/或鹽。
7、根據5或6所述的有價物的回收方法,其特征在于,所述粉末狀物和/或塊狀物包括從土壤、廢棄物粉碎物、采礦殘渣、精煉殘渣、以及大氣懸浮粒子狀物質中選擇的一種或多種。
8、根據1~7中任一項所述的有價物的回收方法,其特征在于,將含有所述有價物的污泥導入至利用隔膜分隔開的污泥導入室,并在將所述有價物回收至所述回收液時,
將所述污泥放置在施加于所述污泥導入室的一室的電壓為5V以上的電位梯度下。
9、一種有害物質的去除方法,其特征在于,通過將含有有害物質的污泥(a)放置于電位梯度下,(b)在0.1MPa~1.0MPa的范圍內加壓,或(c)在電位梯度下于0.1MPa~1.0MPa的范圍內加壓,從而將所述有害物質從所述污泥去除至分離液中。
10、根據9所述的有害物質的去除方法,其特征在于,利用膜分離法將含有所述有害物質的所述分離液進行濃縮。
11、根據10所述的有害物質的去除方法,其特征在于,所述膜分離法為離子透析法或反滲透膜法。
12、根據9~11中任一項所述的有害物質的去除方法,其特征在于,將從過渡元素的化合物、過渡元素的離子、屬于12族至17族中任一族的元素的化合物、以及屬于12族至17族中任一族的元素的離子中選擇的一種或多種作為所述有害物質進行去除。
13、根據9~12中任一項所述的有害物質的去除方法,其特征在于,通過向含有有害物質的粉末狀物和/或塊狀物加水而得到所述污泥。
14、根據13所述的有害物質的去除方法,其特征在于,使所述加水的水中含有酸、堿和/或鹽。
15、根據13或14所述的有害物質的去除方法,其特征在于,所述粉末狀物和/或塊狀物包括從土壤、廢棄物粉碎物、采礦殘渣、精煉殘渣、大氣懸浮粒子狀物質中選擇的一種或多種。
16、根據9~15中任一項所述的有害物質的去除方法,其特征在于,將含有所述有害物質的污泥導入至利用隔膜分隔開的污泥導入室,并在將所述有害物質去除至所述分離液時,
將所述污泥放置在施加于所述污泥導入室的一室的電壓為5V以上的電位梯度下。
發明效果
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