[發明專利]功率測試系統、功率補償方法及裝置

有效

• 申請號: 201710754947.5
• 申請日: 2017-08-29
• 公開（公告）號: CN107483122B
• 公開（公告）日: 2021-03-05
• 發明（設計）人: 何震宇;張前程;戴大為
• 申請（專利權）人: 南京粵訊電子科技有限公司;深圳天瓏無線科技有限公司;深圳市天瓏移動技術有限公司
• 主分類號: H04B17/00
• 分類號: H04B17/00;G01R21/00;G01R35/00
• 代理公司: 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙) 44280
• 代理人: 黎堅怡

本發明實施例提供一種功率測試系統、功率補償方法及裝置，應用于終端技術領域，一定程度上降低了生產成本。本發明實施例提供的功率補償方法，包括：獲取射頻線纜自身的射頻功率損耗值；根據所述射頻功率損耗值確定主集接口功率補償值；根據所述射頻功率損耗值確定分集接口功率補償值。

技術領域

本發明涉及通信技術領域，尤其涉及一種功率測試系統、功率補償方法及裝置。

背景技術

終端在生產時候，由于在PCBA(Printed Circuit Board Assembly,印刷電路板裝配)過程中，各個元器件之間的硬件偏差容易導致射頻接收發射參數的偏差，為了保證每一部終端內的主板性能的一致性，都會對每一片裝配后的主板進行校準。

通常情況下，在對主板進行校準過程中，需要使用金機和綜合測試儀(多通道無源器件測試儀、多通道無源器件損耗分析儀等)，金機是指在生產的時候為了校準生產線的RF(Radio Frequency,射頻)測試儀器的射頻線纜的損耗值的標準手機，金機的射頻功率值是固定的；綜合測試儀是用來分析多通道無源光器件的損耗性能。

由于綜合測試儀有多臺，因為經常使用或者使用程度不一致，每臺綜合測試儀之間容易出現不同的測試誤差，因此，在對主板進行校準過程之前，首先通過金機固定的射頻功率值分別為每一臺綜合測試儀進行校準。由于在校準完成后金機就不會繼續使用，由此造成資源的浪費，并且金機的生產成本較高。

發明內容

本發明實施例提供一種功率測試系統、功率補償方法及裝置，通過使用測試夾具、射頻線纜等來代替金機對綜合測試儀進行功率補償，降低生產成本。

第一方面，本發明實施例提供一種功率測試系統，所述功率測試系統包括：

綜合測試儀、屏蔽盒、測試夾具、功率計、主集測試線纜、分集測試線纜以及射頻線纜；

所述綜合測試儀包括主集接口、分集接口以及發射端；

所述測試夾具設置在所述屏蔽盒內，所述測試夾具包括主集測試座和分集測試座。

第二方面，本發明實施例還提供一種功率補償方法，應用于前述方面的功率測試系統，所述方法包括：

獲取射頻線纜自身的射頻功率損耗值；

根據所述射頻功率損耗值確定主集接口功率補償值；

根據所述射頻功率損耗值確定分集接口功率補償值。

如上所述的方面和任一可能的實現方式，進一步提供一種實現方式，所述獲取射頻線纜自身的射頻功率損耗值，包括：

連接所述功率計與所述發射端，通過所述綜合測試儀采集第一功率損耗值；

依次連接所述功率計、所述射頻線纜與所述發射端，通過所述綜合測試儀采集第二功率損耗值；

根據所述第二功率損耗值與所述第一功率損耗值之差，確定所述射頻線纜自身的射頻功率損耗值。

如上所述的方面和任一可能的實現方式，進一步提供一種實現方式，所述根據所述射頻功率損耗值確定主集接口功率補償值，包括：

依次連接所述發射端、所述主機測試座與所述主集接口，通過所述綜合測試儀獲取第三功率損耗值；

根據所述第三功率損耗值與所述射頻功率損耗值之差，確定所述主集接口功率損耗值。

如上所述的方面和任一可能的實現方式，進一步提供一種實現方式，所述根據所述射頻功率損耗值確定分集接口功率補償值，包括：

依次連接所述發射端、所述主機測試座與所述分集接口，通過所述綜合測試儀獲取第四功率損耗值；