[發明專利]一種箱梁結構的高精度噪聲測量方法及噪聲貢獻分析方法

有效

• 申請號: 201710747475.0
• 申請日: 2017-08-28
• 公開（公告）號: CN107560722B
• 公開（公告）日: 2019-10-01
• 發明（設計）人: 羅錕;歐開寬;雷曉燕;黃大維
• 申請（專利權）人: 華東交通大學
• 主分類號: G01H17/00
• 分類號: G01H17/00
• 代理公司: 上海申蒙商標專利代理有限公司 31214
• 代理人: 黃明凱;徐小蓉

本發明提供一種箱梁結構的高精度噪聲測量方法和噪聲貢獻分析方法，測量方法包括如下步驟：選擇箱梁結構的被測量位置；根據所選擇的被測量位置的尺寸，制作噪聲測量裝置；通過可溶解速干膠水將所制的噪聲測量裝置的阻尼底座密封粘結在被測量位置表面；聲學傳感器對箱梁結構的噪聲進行采集并轉換成電信號，控制分析系統對電信號進行處理后記錄測量值。其優點是：在介質隔聲方法的基礎上，以減小結構噪聲反射以及其誘發的二次噪聲為出發點，提供一種可提高噪聲測量精度的裝置及方法，該方案一方面可隔離外部環境噪聲，并吸收箱梁結構噪聲，以防發生反射現象；另一方面可減弱裝置自身的結構振動，以防二次噪聲的產生。該方法經濟實用、制作成本低、制作簡單、所用設備材料可重復使用。

技術領域

本發明涉及噪聲測量設備技術領域，尤其涉及一種箱梁結構的高精度噪聲測量方法及分析方法。

背景技術

結構噪聲是由結構自身振動所產生的噪聲。振動是噪聲之源，而外部環境中所包含的聲源多而復雜，它們振動所產生的噪聲都通過同一介質（空氣）傳播，因此，在同一介質中任意一點測量得到的噪聲值都是由多個振動源共同輻射噪聲的疊合值，這使得精確測量出某個特定結構振動所輻射的噪聲較為困難。

傳統測量結構噪聲的方法一般是從減少聲源和介質隔聲這兩個方面進行考慮的。減少聲源是指將被測結構置于相對安靜的環境中，然后對其進行噪聲測量，這種方法雖然在一定程度上減少了聲源數量，但測量設備振動和人員試驗行為所產生的噪聲還是會對測量結果造成較大的影響。介質隔聲是指制作一個聲屏蔽罩，聲屏蔽罩表面張貼吸聲材料，然后將測試結構置于屏蔽罩內，致使測量環境與外部環境相隔離，以此避免外部環境噪聲對測試結果的影響，這種方法雖然能極大的減少外部環境的影響，但結構噪聲在屏蔽罩內一方面會發生反射，另一方面也會誘發屏蔽罩結構振動，產生二次噪聲，從而影響噪聲測量結果。

為準確測量出結構噪聲，本發明在介質隔聲方法的基礎上，以減小結構噪聲反射以及其誘發的二次噪聲為出發點，提供一種可提高結構噪聲測量精度的裝置，該裝置一方面可隔離外部環境噪聲，并吸收被測結構噪聲，以防發生反射現象；另一方面可減弱裝置自身的結構振動，以防二次噪聲的產生。

發明內容

本發明的目的是針對現有技術的缺點，提出一種箱梁結構的高精度噪聲測量裝置及測量方法，在介質隔聲方法的基礎上，以減小結構噪聲反射以及其誘發的二次噪聲為出發點，提供一種可提高噪聲測量精度的裝置及方法，該方案一方面可隔離外部環境噪聲，并吸收箱梁結構噪聲，以防發生反射現象；另一方面可減弱裝置自身的結構振動，以防二次噪聲的產生。

為了達到上述發明目的，本發明首先提出的一種箱梁結構的高精度噪聲測量方法，該方法包括如下步驟：

一種箱梁結構的高精度噪聲測量方法，其特征在于該方法包括如下步驟：

a、基于箱梁結構的結構噪聲的關注區域，選擇箱梁結構的結構噪聲測試斷面，并在該斷面的頂板、腹板和底板位置處選擇箱梁結構的被測量位置；所述被測量位置為正方形，且其邊長不小于結構噪聲關心頻率的波長1/8;

b、根據步驟a所選擇的所述被測量位置的尺寸，制作噪聲測量裝置；所述噪聲測量裝置包括用于粘附在所述箱梁結構上的阻尼底座以及底面呈敞口的隔音罩；所述隔音罩內部頂面固定安裝有至少一個聲學傳感器，所述隔音罩的下沿密封連接于所述阻尼底座上，所述阻尼底座呈與所述隔音罩的下沿相對應的封閉環狀，且其開口形狀與所述被測量位置相適配；

c、將所述阻尼底座密封安裝在所述被測量位置表面，使所述聲學傳感器正對所述被測量位置；

d、所述聲學傳感器采集所述被測量位置的噪聲信號并傳輸至所述控制分析系統，所述控制分析系統對所述噪聲信號進行處理后記錄結構噪聲測量值。