[發明專利]亮度補償的優化方式及優化設備

有效

• 申請號: 201710744019.0
• 申請日: 2017-08-25
• 公開（公告）號: CN107331347B
• 公開（公告）日: 2019-12-31
• 發明（設計）人: 王明良
• 申請（專利權）人: 惠科股份有限公司;重慶惠科金渝光電科技有限公司
• 主分類號: G09G3/3208
• 分類號: G09G3/3208
• 代理公司: 11228 北京匯澤知識產權代理有限公司
• 代理人: 亓贏

本發明是有關于一種亮度補償的優化方式及優化設備，包括：提供一亮度獲取裝置；拍攝一待補償面板為一亮度補償參考畫面，待補償面板具多個第一像素單元，亮度獲取裝置具多個第二像素單元，亮度補償參考畫面由多個拍攝單元組成，拍攝單元由多個第二像素單元組成，其中，第二像素單元大于第一像素單元；采取該些拍攝單元四個端點處的四個第二像素單元為亮度基準，透過一特定運算方式得到拍攝單元內其他第二像素單元的多個亮度補償數據；以及以該些亮度補償數據對各該拍攝單元對應的第一像素單元進行亮度補償。

技術領域

本發明涉及一種亮度補償的優化方式及優化設備，特別是涉及一種通過改變相機分辨率達到亮度補償的優化方式及優化設備。

背景技術

平面顯示器件具有機身薄、省電、無輻射等眾多優點，得到了廣泛的應用。現有的平面顯示器件主要包括液晶顯示器件(Liquid Crystal Display,LCD)及有機發光二極管顯示器件(Organic Light Emitting Display,OLED)。有機發光二極管顯示器件由于同時具備自發光，不需背光源、對比度高、厚度薄、視角廣、反應速度快、可用于曉曲性面板、使用溫度范圍廣、構造及制程較簡單等優異特性，被認為是下一代平面顯示器的新興應用技術。然而，由于OLED顯示器中，每一個OLED組件的輝度(luminance)會因為制程或使用上的損耗而有所差異，因此很容易有亮度不均勻(mura effect)的現象。

目前在平面顯示面板生產過程中由于生產工藝等原因經常會產生亮度不均勻的待補償區域(Mura)，出現亮點或暗點，導致面板的顯示質量降低。亮度補償(Demura)技術是一種消除顯示器Mura，使畫面亮度均勻的技術。Demura技術的基本原理是，讓面板顯示灰階畫面，用一亮度獲取裝置，如使用電容耦合組件相機(Charge Coupled Device,CCD)拍攝一待補償面板，獲取所述待補償面板中各像素單元的亮度值，然后調整待補償位置(Mura)區域的像素單元的灰階值或者電壓，使過暗的區域變亮、過亮的區域變暗，達到均勻的顯示效果。

唯，目前Demura設備一般要求相機要可以精準拍攝到一像素單元，這樣的好處是可以得到待補償位置(Mura)的最精確的數值，但是這同時也對Demura相機的分辨率及運算處理能力提出了高要求，而且對較小的Mura會沒有補償能力。

又，在實際生產中應用Demura技術時，不僅要求顯示效果好，還要求耗時短。就需要良好且實用的Demura算法。現有技術采用的Demura算法通常是根據伽馬(Gamma)值和目標亮度來推算修正后的灰階值。在OLED顯示面板中，各個像素點特別是Mura區域的伽馬曲線的偏差很大，根據統一的伽馬值或伽馬曲線做單次推算，并不能達到預期補償效果。

但是目前這種技術是以待補償面板的中心區域為基準點，通過比較待補償面板其他待補償位置區域的亮度與中心區域的差異，再根據標準的伽馬曲線(Gamma2.2曲線)去計算需要補償的亮度補償數據(包括補償亮度以及補償灰階值)，達到整塊面板的亮度均勻。

目前這種做法比較簡便易行，但是計算亮度補償數據的前提是假定所述待補償面板已經是標準的Gamma2.2曲線，但面板的實際生產過程中是不可能對每一片的伽馬曲線做到精準管控的，且中心點的待補償位置(mura)一般無法消除，所以會比較容易影響到Demura的最終效果。

同時，默認會針對每塊區域都進行計算，且為了確保Demura效果，待補償位置區域的最小單元不能太大(一般為8*8個像素單元)，所以最終整塊待補償面板的亮度補償數據量就會較大，那么帶來的外部存儲器(Demura flash)的容量就要較大，驅動板上的處理IC內部RAM也要較大，也會帶來數據傳輸時間和速率上的限制。

發明內容

為了解決上述技術問題，本發明的目的在于提供一種將亮度獲取裝置(Demura相機)拍攝單元由單個像素單元擴大為一定區域(如2x2個像素單元)，通過綜合判斷這個較大區域的亮度，可減小Demura相機分辨率同時增大小Mura的補償能力。