[發(fā)明專利]一種利用紫外成像儀監(jiān)測電暈放電的方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710743904.7
• 申請日: 2017-08-25
• 公開（公告）號: CN107505546A
• 公開（公告）日: 2017-12-22
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 王文策;高潔;郭文勇;劉綱;薛育榮;孫永利;楊楠;樊偉
• 申請（專利權(quán)）人: 國家電網(wǎng)公司;國網(wǎng)陜西省電力公司渭南供電公司;西安英諾視通信息技術(shù)有限公司
• 主分類號: G01R31/12
• 分類號: G01R31/12
• 代理公司: 西安通大專利代理有限責(zé)任公司61200
• 代理人: 齊書田

1.一種利用紫外成像儀監(jiān)測電暈放電的方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟一：采用紫外成像儀獲取GIS電氣設(shè)備的可見光圖像和紫外圖像，并對紫外成像儀所拍攝的可見光圖像和紫外圖像進(jìn)行濾波去噪，然后對濾去噪后的可見光圖像和紫外圖像進(jìn)行融合得到雙光譜圖像；

步驟二：對步驟一濾波后的紫外圖像進(jìn)行自適應(yīng)閾值分割，分割出圖像的目標(biāo)和背景；

步驟三：對步驟二分割后的二值圖像進(jìn)行邊緣檢測，根據(jù)邊緣點(diǎn)坐標(biāo)在雙光譜圖像中標(biāo)注出放電區(qū)域，計算放電區(qū)域面積，以衡量故障的嚴(yán)重程度。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種利用紫外成像儀監(jiān)測電暈放電的方法，其特征在于，步驟一中首先將紫外成像儀所拍攝的紫外圖和可見光圖轉(zhuǎn)換為灰度圖，然后依次采用形態(tài)學(xué)算子和中值濾波算法對灰度圖進(jìn)行濾波。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種利用紫外成像儀監(jiān)測電暈放電的方法，其特征在于，采用形態(tài)學(xué)算子分別對紫外成像儀所拍攝的紫外圖和可見光圖的灰度圖進(jìn)行濾波具體為：采用腐蝕和膨脹綜合組成的開啟和閉合運(yùn)算對灰度圖進(jìn)行處理，具體為：

f·b=(f⊕b)Θb]]>

其中，表示開運(yùn)算，f·b表示閉運(yùn)算；

表示b(x,y)對f(x,y)進(jìn)行的灰度膨脹，fΘb表示b(x,y)對f(x,y)進(jìn)行的灰度腐蝕，且和fΘb分別定義為：

(f⊕b)(s,t)=max{f(s-x,t-y)+b(x,y)|(s-x),(t-y)∈Df;(x,y)∈Db}]]>

(fΘb)(s,t)＝min{f(s+x,t+y)-b(x,y)|(s+x),(t+y)∈D_f；(x,y)∈D_b}

其中，f(x,y)是輸入的灰度圖，b(x,y)是結(jié)構(gòu)元素，D_f和D_b分別是輸入的灰度圖f(x,y)和結(jié)構(gòu)元素b(x,y)的定義域，(x,y)和(s,t)表示圖像中的像素點(diǎn)坐標(biāo)。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種利用紫外成像儀監(jiān)測電暈放電的方法，其特征在于，步驟一中對形態(tài)學(xué)算子濾波后的圖像采用中值濾波算法進(jìn)行濾波具體為：將形態(tài)學(xué)算子濾波后的圖像在某一點(diǎn)的鄰域中的像素按照灰度級大小排列，取其中值代替中心點(diǎn)的像素值，逐行依次對圖像中的每個像素點(diǎn)執(zhí)行該操作，即完成圖像的中值濾波。