[發(fā)明專利]一種高發(fā)光效率的垂直結構LED芯片及其制備方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710743693.7 | 申請日: | 2017-08-25 |
| 公開(公告)號: | CN107507892A | 公開(公告)日: | 2017-12-22 |
| 發(fā)明(設計)人: | 李國強;張子辰;張云鵬;郭曉萍;曾禹;黃振強 | 申請(專利權)人: | 華南理工大學 |
| 主分類號: | H01L33/00 | 分類號: | H01L33/00;H01L33/06;H01L33/20;H01L33/32;H01L33/46 |
| 代理公司: | 廣州市華學知識產權代理有限公司44245 | 代理人: | 陳智英 |
| 地址: | 510640 廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 發(fā)光 效率 垂直 結構 led 芯片 及其 制備 方法 | ||
1.一種高發(fā)光效率的垂直結構LED芯片,其特征在于:自下而上依次包括導電襯底、金屬鍵合層、金屬反射層、p型GaN層、InGaN/GaN量子阱層和n型GaN層,所述n型GaN層上設有n電極,未被n電極覆蓋的n型GaN層上設有ZnO納米柱層。
2.根據權利要求1所述高發(fā)光效率的垂直結構LED芯片,其特征在于:所述金屬鍵合層為Sn/Au鍵合層且Au層靠近導電襯底,所述金屬反射層為Ni/Ag/Ni/Au反射層且Au層靠近金屬鍵合層,所述n電極為Cr/Pt/Au電極層且Cr層靠近n型GaN層。
3.根據權利要求2所述高發(fā)光效率的垂直結構LED芯片,其特征在于:所述金屬反射層為Ni/Ag/Ni/Au反射層,其中Ni層的厚度都為0.1~10nm,Ag層的厚度為10~200nm,Au層的厚度為10~200nm;
所述金屬鍵合層為Sn/Au鍵合層,其中Sn層的厚度為0.1~3μm,Au層的厚度為10~200nm;
所述n電極金屬為Cr/Pt/Au層,其中Cr層的厚度為10~200nm,Pt層的厚度為5~100nm,Au層厚度為10~100nm。
4.根據權利要求1所述高發(fā)光效率的垂直結構LED芯片,其特征在于:所述n型GaN層的厚度為1~5μm;所述InGaN/GaN量子阱層為5~15個周期的InGaN阱層/GaN壘層,其中InGaN阱層的厚度為1~5nm;GaN壘層的厚度為1~20nm;所述p型GaN層的厚度為100~350nm。
5.根據權利要求1所述高發(fā)光效率的垂直結構LED芯片,其特征在于:所述導電襯底中未被金屬鍵合層覆蓋的表面設有保護層。
6.根據權利要求5所述高發(fā)光效率的垂直結構LED芯片,其特征在于:所述保護層為Pt;其厚度為20~300nm。
7.根據權利要求1~6任一項所述高發(fā)光效率的垂直結構LED芯片的制備方法,其特征在于:包括以下步驟:
(1)在Si襯底上外延生長LED外延片,包括生長在Si襯底上的非摻雜GaN層,生長在非摻雜GaN層上的n型GaN層,生長在n型摻雜GaN薄膜上的InGaN/GaN量子阱,生長在InGaN/GaN量子阱上的p型GaN層;所述Si襯底以(111)面為外延面;所述非摻雜GaN層的厚度為100~300nm;所述n型GaN層的厚度為1~5μm;所述InGaN/GaN量子阱為5~15個周期的InGaN阱層/GaN壘層,其中InGaN阱層的厚度為1~5nm;GaN壘層的厚度為1~20nm;所述p型GaN層的厚度為100~350nm;
(2)在LED外延片表面蒸鍍金屬反射層即p型GaN層上依次蒸鍍Ni層、Ag層、Ni層和Au層,所述Ni/Ag/Ni/Au層為金屬反射層,其中Ni層的厚度為0.1~10nm,Ag層的厚度為10~200nm,Au層的厚度為10~200nm;接著對蒸鍍后的金屬反射層進行高溫退火,退火氛圍為空氣,高溫退火的條件為:溫度為100~600℃,時間為10~300秒;然后在金屬反射層的表面依次蒸鍍金屬鍵合層即依次蒸鍍Sn層、Au層,所述金屬鍵合層為Sn/Au鍵合層,其中Sn層的厚度為0.1~3μm,Au層的厚度為10~200nm;
(3)使用金屬高溫高壓鍵合的方式通過金屬鍵合層將LED外延片轉移至導電的Si(100)襯底上;接著,在鍵合后的Si(100)襯底上蒸鍍Pt作為金屬保護層,其厚度為20~300nm;
(4)使用化學腐蝕方法剝離靠近非摻雜GaN層上的Si(111)襯底;采用ICP刻蝕法去除非摻雜GaN層;隨后,在n型GaN層上通過勻膠、光刻、顯影制備n電極圖案;使用電子束蒸發(fā)設備,根據n電極圖案在n型GaN層上沉積n電極金屬即依次沉積Cr層、Pt層、Au層;所述n電極金屬為Cr/Pt/Au層,其中Cr層的厚度為10~200nm,Pt層的厚度為5~100nm,Au層厚度為10~100nm;去除多余電極金屬,制備出垂直結構LED芯片;
(5)在垂直結構LED芯片表面制備ZnO納米柱:將芯片浸入硝酸鋅和六亞甲基四胺混合溶液中,將芯片和混合溶液置入聚四氟乙烯內襯的反應釜中進行水熱反應;隨后取出芯片并在去離子水中超聲清洗然后烘干,在真空下對芯片進行退火處理,得到高發(fā)光效率的垂直結構LED芯片。
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