[發明專利]一種高壓套管內絕緣不均勻受潮實驗的方法

有效

• 申請號: 201710739095.2
• 申請日: 2017-08-25
• 公開（公告）號: CN107576856B
• 公開（公告）日: 2018-12-25
• 發明（設計）人: 周利軍;陳雪驕;郭蕾;王東陽;李會澤
• 申請（專利權）人: 西南交通大學
• 主分類號: G01R27/26
• 分類號: G01R27/26
• 代理公司: 成都信博專利代理有限責任公司 51200
• 代理人: 劉凱

本發明公開了一種高壓套管內絕緣不均勻受潮實驗的方法，先搭建實驗平臺，再進行套管受潮處理，之后設置參考溫度T₁，同時測試環境溫度T，通過比較參考溫度T₁與環境溫度T的大小，將溫度調整至參考溫度T₁，測試參考溫度T₁下套管模型1Hz~1kHz的介電譜，測試完成后，計算補償溫度T₂，接通升溫系統將溫度升高至補償溫度T₂，測試補償溫度T₂下套管模型1Hz~1kHz的介電譜，測試完成后，計算參考溫度T₁頻域譜內補償頻率點，通過補償溫度T₂下的測試結果補償參考溫度T₁下低頻段的介電譜，最后將參考溫度T₁下的測試介電譜和補償介電譜合成完整的介電譜。本發明能夠實現不均勻受潮狀態下對油浸式套管進行頻域介電譜測試，得到高壓套管內絕緣不均勻受潮時的頻域介電譜。

技術領域

本發明屬于油浸式套管絕緣狀態診斷領域，具體涉及一種高壓套管內絕緣不均勻受潮實驗的方法。

背景技術

油浸式套管起著連接變壓器內部高壓線與外部電力網絡的作用，其絕緣性能的好壞決定著電力系統運行的穩定性，因此需要對油浸式套管進行準確的絕緣診斷，頻域介電譜是能有效診斷油浸式套管水分含量和老化狀態的方法之一。頻域介電譜法是在不同頻率下對電介質進行掃頻測量，測量頻段選擇1mHz～1kHz，進行完整的測試所需時間約為35min，其中高頻部分(1Hz～1kHz)測試時間約為1.27min，低頻部分(1mHz～1Hz)測試時間約為34.17min。由于實際工況中受環境等因素的影響，油浸式套管油紙絕緣中的水分分布一直是動態變化的，在進行頻域介電譜的測試時，在對油浸式套管進行頻域介電譜測試時(尤其是低頻段部分的測試)，由于低頻測試時間較長，無法有效的得到與研究套管絕緣不均勻受潮時的頻域介電特性，因此會影響套管絕緣水分含量評估的有效性產生影響。因此急需一種一種高壓套管內絕緣不均勻受潮實驗的方法，實現在不均勻受潮下對油浸式套管進行頻域介電譜測試，得到高壓套管內絕緣不均勻受潮情況下的頻域介電譜。

發明內容

為了得到不均勻受潮狀態下油浸式套管內絕緣的頻域介電譜，本發明提供一種一種高壓套管內絕緣不均勻受潮實驗的方法，包括以下步驟：

第一步：搭建試驗平臺