[發明專利]一種通信光纖宏彎損耗測試方法

有效

• 申請號: 201710733474.0
• 申請日: 2017-08-24
• 公開（公告）號: CN107449588B
• 公開（公告）日: 2020-03-31
• 發明（設計）人: 李琳瑩;甘露;宋志佗;李秋云
• 申請（專利權）人: 成都泰瑞通信設備檢測有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 成都行之專利代理事務所(普通合伙) 51220
• 代理人: 郭受剛

本發明公開了一種通信光纖宏彎損耗測試方法，將待測通信光纖按照測試要求的半徑和圈數繞圈后，置于光功率吸收劑中，采用宏彎損耗測試裝置對待測光纖的宏彎損耗進行測試，從而實現在測試過程中有效吸收泄露出光纖的光功率，抑制W波對測試的影響，獲得光纖宏彎損耗的真實數值，保證了宏彎損耗測試的準確性和穩定性。

技術領域

本發明涉及光纖測試技術領域，具體涉及一種通信光纖宏彎損耗測試方法。

背景技術

通信光纖的宏彎損耗隨波長的增加和彎曲半徑的減少而增大，在彎曲半徑情況下對光纖的宏彎損耗進行測試時，針對同一個測試樣品、在相同測試條件下，多次測試結果會出現較大差異，引起該差異的主要原因是彎曲條件下輻射出纖芯的輻射模經過光纖芯與包層、包層與光纖涂層、光纖涂層與空氣界面多次反射回到纖芯，與傳輸模產生耦合，在特定的條件下會出現干涉加強或減弱的現象，稱為Whispering gallery modes（簡稱W波）的影響。受該現象的影響，在進行光纖的宏彎損耗測試時，將會出現宏彎損耗振蕩現象，導致宏彎損耗測試結果不準確。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是抑制W波的影響，實現對通信光纖宏彎損耗的準確、穩定測試，目的在于提供一種通信光纖宏彎損耗測試方法，解決當前測試方法測量不準確、穩定性差的問題。

本發明通過下述技術方案實現：

一種通信光纖宏彎損耗測試方法，包括如下步驟：

A、按照測試要求制備待測光纖，具體為將待測光纖按照測試要求的半徑和圈數繞圈；

B、將待測光纖置于光功率吸收劑中；

C、采用宏彎損耗測試裝置對待測光纖宏彎損耗進行測試。

特別地，所述光功率吸收劑的光折射率大于等于光纖涂層的光折射率。

特別地，所述光功率吸收劑的光折射率大于等于光纖包層的光折射率，所述待測光纖采用剝除涂層后的光纖。

特別地，所述光功率吸收劑具體采用肉桂酸乙酯。

特別地，所述光功率吸收劑具體采用甘油。

本發明與現有技術相比，具有如下的優點和有益效果：

本發明所述一種通信光纖宏彎損耗測試方法，將待測光纖按照測試要求的半徑和圈數繞圈后，置于光功率吸收劑中，采用宏彎損耗測試裝置對待測光纖的宏彎損耗進行測試，從而實現在測試過程中有效吸收泄露出光纖的光功率，抑制W波對測試的影響，獲得光纖宏彎損耗的真實數值，保證了光纖宏彎損耗測試的準確性和穩定性。

附圖說明

此處所說明的附圖用來提供對本發明實施例的進一步理解，構成本申請的一部分，并不構成對本發明實施例的限定。在附圖中：

圖1為本發明實施例1提供的存在W波干擾時光纖內部光折射結構圖。

圖2為本發明實施例1提供的采用肉桂酸乙酯作為光功率吸收劑時獲得的光纖宏彎損耗測試結果。

圖3為本發明實施例2提供的采用甘油作為光功率吸收劑時獲得的光纖宏彎損耗測試結果。

圖4為本發明實施例1提供的通信光纖宏彎損耗測試方法流程圖。

具體實施方式

為使本發明的目的、技術方案和優點更加清楚明白，下面結合實施例和附圖，對本發明作進一步的詳細說明，本發明的示意性實施方式及其說明僅用于解釋本發明，并不作為對本發明的限定。