[發明專利]一種碳酸鹽縫洞體系發育帶預測方法及裝置有效
| 申請號: | 201710731880.3 | 申請日: | 2017-08-23 |
| 公開(公告)號: | CN109425893B | 公開(公告)日: | 2021-09-17 |
| 發明(設計)人: | 趙俊省;鄧國振;張利紅;王竹林;占小剛;唐春燕;汪功懷;張欣 | 申請(專利權)人: | 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司中原油田分公司物探研究院 |
| 主分類號: | G01V1/30 | 分類號: | G01V1/30 |
| 代理公司: | 鄭州睿信知識產權代理有限公司 41119 | 代理人: | 陳浩 |
| 地址: | 100728 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 碳酸鹽 體系 發育 預測 方法 裝置 | ||
本發明涉及一種碳酸鹽縫洞體系發育帶預測方法及裝置,屬于地震勘探儲層預測技術領域,對常規地震數據進行處理,將得到的高分辨率地震數據進行古地貌恢復,結合各向異性裂縫反演得到的各向異性裂縫密度,將古地貌高、各向異性裂縫密度大的區域為碳酸鹽縫洞發育帶的有利區,在保證工作效率的同時,提高的縫洞發育帶的預測的精度。
技術領域
本發明屬于地震勘探儲層預測技術領域,具體涉及一種碳酸鹽縫洞體系發育帶預測方法及裝置。
背景技術
碳酸鹽巖儲層形成主要受后期巖溶改造和斷裂作用的影響,形成次生的溶蝕孔洞和裂縫,儲集空間為次生的溶蝕孔洞和裂縫構成的縫洞體系,縫洞發育帶預測難度大。通常,對這種縫洞體系的發育帶預測,只考慮古地貌和裂縫中的一種因素,造成了縫洞體系預測結果為溶蝕孔洞或裂縫中的一種,難以準確的預測縫洞體系的分布。
由于古地貌是后期巖溶改造的主控因素之一,利用古地貌可以從面上指出縫洞體系發育的有利區。目前,現有利用常規地震數據的古地貌恢復方法,有補償厚度印模法、殘余厚度法、回剝和填平補齊法、沉積學分析等技術。由于受到后期構造運動和地層產狀的影響,上述方法在實際應用時,恢復的古地貌精度一般不高,且恢復古地貌的效率低、時間慢,其具體原因是:若地層較薄或巖性組合復雜時,頂、底界面在常規疊后地震剖面上難以準確識別和追蹤,從而導致利用印模法、殘余厚度法恢復的巖溶古地貌精度不高,恢復時間慢;另一方面,由于速度場的不準確造成了厚度計算不準確,也可能導致古地貌恢復不準確。
現有采用各向異性裂縫預測方法對縫洞發育帶的預測,需要寬方位采集地震資料,才能克服噪音對反演結果的不利影響,而常規地震資料往往不夠詳細,導致縫洞發育帶的預測難以滿足開發生產的需求,預測不準確、時間長,存在較多縫洞體系預測與實鉆生產不符的情況。
發明內容
本發明的目的是提供一種碳酸鹽縫洞體系發育帶預測方法及裝置,用于解決現有技術中碳酸鹽縫洞體系發育帶預測效率低、準確度低的問題。
為解決上述技術問題,本發明提出一種碳酸鹽縫洞體系發育帶預測方法,包括以下步驟:
1)對目的層的疊后偏移地震數據進行處理,得到高分辨率地震數據,利用殘余厚度法對所述高分辨率地震數據進行古地貌恢復,根據恢復古地貌得到的碳酸鹽縫洞發育帶的有利區,設為第一有利區;
2)將采集的共反射點道集數據進行各向異性裂縫反演,提取目的層的各向異性裂縫密度,根據目的層的各向異性裂縫密度得到的碳酸鹽縫洞發育帶的有利區,設為第二有利區;
3)將第一有利區和第二有利區疊加,最終得到碳酸鹽縫洞發育帶的有利區。
步驟2)中第二有利區是通過目的層的各向異性裂縫密度形成的各向異性裂縫密度平面分布圖得到的。
步驟1)中所述處理包括以下步驟:對所述目的層的疊后偏移地震數據進行譜反演,得到反射系數體,然后進行帶通濾波,得到所述高分辨率地震數據。
步驟2)中所述各向異性裂縫反演包括以下步驟:
S1、對所述共反射點道集數據分別進行分入射角處理和分方位角處理,得到入射角道集數據和分方位角疊加數據;
S2、對入射角道集數據進行AVO分析,得到各向同性梯度和各向同性截距;
S3、根據所述分方位角疊加數據的振幅、各向同性梯度和各向同性截距,得到各向異性裂縫密度數據體,沿目的層段提取所述各向異性裂縫密度。
步驟1)中利用殘余厚度法對所述高分辨率地震數據進行古地貌恢復,包括以下步驟:
P1、利用目的層的測井數據在所述高分辨率地震數據上標定目的層的頂界和底界的位置,開展層位追蹤,確定目的層的頂界面、底界面在高分辨率地震數據體上的位置;
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