[發明專利]基于二次型基元多層網絡的SAR圖像分類方法

有效

• 申請號: 201710725823.4
• 申請日: 2017-08-22
• 公開（公告）號: CN107506726B
• 公開（公告）日: 2019-09-10
• 發明（設計）人: 何楚;熊德輝;劉新龍;康陳瑤
• 申請（專利權）人: 武漢大學
• 主分類號: G06K9/00
• 分類號: G06K9/00;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08
• 代理公司: 武漢科皓知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 42222
• 代理人: 王琪

1.基于二次型基元多層網絡的SAR圖像分類方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟一，準備待分類SAR圖像數據集，從待分類圖像中隨機選取各類圖像中一定比例作為訓練數據，其余作為測試數據；

步驟二，構建基于二次型基元多層網絡，將待分類的SAR圖像中的訓練數據輸入，采用批量梯度下降進行訓練；所述基于二次型基元多層網絡包括輸入模塊，二次型模塊，卷積模塊，全連接與分類模塊，其中二次型模塊包括卷積層、二次型層和求和層，所述卷積層由卷積基元組成，卷積基元表達式如下，

zc=wx+b=Σiaixi+b---(1)]]>

式(1)中，w為卷積核參數，是由a_i組成的向量，w＝(a₀…a_i…a_n)，其中i為卷積系數的下標，x為輸入，b為偏置項；

所述二次型層由二次型基元組成，二次型基元表達式如下：

zq=f(x1,x2,...,xn)=[x1,x2,...,xn]a11x1+a12x2+...+a1nxna21x1+a22x2+...+a2nxn...an1x1+an2x2+...+annxn=[x1,x2,...,xn]a11a12...a1na21a22...a2n............an1an2...annx1x2...xn=xTAx---(2)]]>

式(2)中，x為輸入，A是由a_jk組成的二次型系數矩陣，其中j，k為卷積系數的下標，n是系數矩陣的長或寬；

所述求和層是對卷積層和二次型層的輸出進行對應求和；

步驟三，將測試數據數據輸入到訓練好的基于二次型基元多層網絡，求解輸出向量的最大值，該最大值對應的維數即為輸入SAR圖像所對應的類別。