[發明專利]尋求最佳補光效果的裝置及測試方法

有效

• 申請號: 201710722581.3
• 申請日: 2017-08-22
• 公開（公告）號: CN107422578B
• 公開（公告）日: 2023-03-24
• 發明（設計）人: 杜雷;王菊
• 申請（專利權）人: 山東中維世紀科技股份有限公司
• 主分類號: G03B15/05
• 分類號: G03B15/05;G03B43/00;G01N21/84;G01B11/00
• 代理公司: 濟南泉城專利商標事務所 37218
• 代理人: 張貴賓

1.一種尋求最佳補光效果的測試方法，其特征在于：包括以下步驟，

（一）治具準備：

治具準備包括準備尋求最佳補光效果的裝置，所述尋求最佳補光效果的裝置包括陣列印刷電路板燈板（1），還包括一燈珠基板（2）和一磁性體；所述陣列印刷電路板燈板（1）上印刷有輻射線（3），所述輻射線（3）沿陣列印刷電路板燈板（1）的焊盤（4）向外方向對稱輻射，垂直輻射線（3）印刷有間隔均勻的刻度線（5）；所述燈珠基板（2）由磁性金屬材料制成，燈珠基板（2）上焊接有燈珠（6），燈珠基板（2）邊緣向內對稱印刷有四條基線（7），基線（7）將燈珠基板（2）劃分為四等份；

用電源線將燈珠基板（2）上正負極與陣列印刷電路板燈板（1）焊盤（4）上正負極焊接在一起，空焊盤（4）用電源線將焊盤（4）上正負極短路，然后將調好焦距的成像模組固定在陣列印刷電路板燈板（1）上；

（二）采集圖像：在適宜的暗室或實際環境中，使用后端設備連接成像模組，出圖像，調至補光燈開啟的模式；

（三）位置調節：使用磁性體隔著陣列印刷電路板燈板（1）吸住燈珠基板（2），移動調節燈珠基板（2）與成像模組鏡頭中心的角度和位置，然后通過后端設備截圖，并記錄燈珠（6）中心在陣列印刷電路板燈板（1）上的位置；

（四）評測：對每個燈珠基板（2）位置對應的圖像效果進行評測，選出最佳效果的燈珠基板（2）位置，在后續機殼設計中按此位置進行設計。

2.根據權利要求1所述的尋求最佳補光效果的測試方法，其特征在于：所述步驟（一）中電源線長度為90-110mm。

3.根據權利要求1所述的尋求最佳補光效果的測試方法，其特征在于：所述步驟（二）中后端設備為計算機或錄像機。

4.根據權利要求1所述的尋求最佳補光效果的測試方法，其特征在于：所述陣列印刷電路板燈板（1）為鋁基板。

5.根據權利要求1所述的尋求最佳補光效果的測試方法，其特征在于：所述輻射線（3）、刻度線（5）和基線（7）均通過絲網印刷而成。

6.根據權利要求1所述的尋求最佳補光效果的測試方法，其特征在于：所述輻射線（3）上相鄰刻度線（5）之間的垂直距離為5mm。

7.根據權利要求1所述的尋求最佳補光效果的測試方法，其特征在于：所述陣列印刷電路板燈板（1）上印刷有12條輻射線（3）。

8.根據權利要求1所述的尋求最佳補光效果的測試方法，其特征在于：所述磁性體為磁鐵。

9.根據權利要求1所述的尋求最佳補光效果的測試方法，其特征在于：所述磁性金屬材料為鐵、鈷、鎳、鋼材料中任一種。