[發明專利]一種氣體分析儀及氣體分析方法有效
| 申請號: | 201710720122.1 | 申請日: | 2017-08-21 |
| 公開(公告)號: | CN107389585B | 公開(公告)日: | 2019-11-15 |
| 發明(設計)人: | 熊友輝;程靜偉;易良順;石平靜;陳敬杰;何明亮 | 申請(專利權)人: | 湖北銳意自控系統有限公司;四方光電股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/3504 | 分類號: | G01N21/3504;G01N21/37 |
| 代理公司: | 42238 武漢知產時代知識產權代理有限公司 | 代理人: | 易濱<國際申請>=<國際公布>=<進入國 |
| 地址: | 430000湖北省武漢市東*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 氣體 分析 方法 | ||
本發明提出一種氣體分析儀及氣體分析方法,屬氣體分析領域,優勢是采用微流隔半氣室技術,實現對被測氣體的測量。主要特點是:在一個腔體內設置一路參考氣室、一路測量氣室,及采用前后流動的微流紅外氣體檢測裝置,克服了現有技術采用單氣室造成的漂移大、測量穩定性差,及采用獨立雙氣室工藝結構復雜等問題;另外,微流紅外氣體檢測裝置設置了調水裝置,通過發現氣態水與被測氣體吸收譜的重疊現象,利用氣態水、被測氣體對紅外光的吸收譜寬窄差異,調節調水閥,改變微流紅外氣體檢測裝置前后氣室、調水緩沖氣室內氣體膨脹后的變化,使得檢測到的紅外光譜處于被測氣體的吸收譜內,同時遠離氣態水的吸收譜,克服了水分干擾的問題。
技術領域
本發明屬于氣體分析領域,尤其涉及一種氣體分析儀及氣體分析方法。
背景技術
隨著環境污染日益嚴重,全世界在加強對污染物監測及分析,現有技術提出利用非分光紅外散射法(NDIR)原理對被測氣體進行測量和監控,具體的根據朗博-比爾定律,分析煙氣中SO2、NO、CO2、CO等成分對紅外光具有的吸收特性,確定被測氣體的成分濃度。隨著環保法律法規的更加嚴厲,對于SO2.NO,CO的測量都逐步要求采用超低量程。對于0-100mg/m3的超低量程,要達到長時間漂移2.5%FS的要求,目前國內還缺少可以滿足這種要求的NDIR紅外氣體分析儀器。以往國際上采用單光束氣動紅外氣體傳感器(micro-flow微流NDIR或者Luft微音器NDIR)的煙氣分析儀,例如Siemens的U23以及FUJI的ZRJ系列,也逐步不能夠滿足超低量程0-100mg/m3的環保監測要求。
國際上在CEMS監測儀器領域已經有比較成熟的經驗,SIEMENS,FUJI和ABB等都提出了新型的采用雙光束氣動紅外傳感器的煙氣分析儀。例如在專利文獻US20130043391A1中SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT提出的“Non-dispersive infrared(NDIR)dual tracegas analyzer and method for determining a concentration of a measurement gascomponent in a gas mixture by the gas analyzer”:氣室為叉形雙管雙氣室結構,體積大,不利于儀器的小型化,工藝結構復雜,造價昂貴;傳感器采用雙層光氣動結構(微流傳感器),被測氣流相對于光源發射方向左右流動,不能防止水分對被測氣體的干擾;另外,紅外光源采用了分束器,導致紅外光反射會造成信號損失,測量不準確。在專利文獻EP0093939A1中,FUJI ELECTRIC CO.LTD提出的“Non-dispersive infrared gasanalyzer”:氣室為單氣室,無參考,傳感器采用雙層光氣動結構(微流傳感器),被測氣流相對于光源發射方向前后流動,容易受外部環境因素的影響(光源、溫度等因素),漂移大、穩定性差。在專利文獻EP2551662A1中,ABB TECHNOLOGY AG提出的“Optical gas analysisdevice with resources to improve the selectivity of gas mixture analyses”:采用隔半氣室,缺陷是采用光氣動傳感器(微音傳感器),被測氣流相對于光源發射方向左右流動,無法避免水分對測試的干擾。
發明內容
為解決現有技術缺陷,本發明提出一種氣體分析儀及氣體分析方法,采用隔半氣室技術,結合可抗水干擾的前后流動微流紅外氣體檢測裝置,實現對被測氣體成分濃度分析,測試準確、穩定,可滿足低量程測試需求。
本發明一方面提出一種氣體分析儀,包括:
至少一腔體,沿腔體的中心軸線設置隔板,將腔體分為參考氣室和測量氣室;
光源模塊:設置于腔體的一端;
微流紅外氣體檢測裝置,用于檢測光源模塊發射并經過腔體的光強,設置于腔體的另一端。
優選的,隔板與腔體的長度相同,隔板將腔體分隔成大小與形狀相同的參考氣室和測量氣室。
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