[發(fā)明專(zhuān)利]使用了掃描型白色干涉顯微鏡的三維形狀計(jì)測(cè)方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710717616.4 | 申請(qǐng)日: | 2017-08-21 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN107796326B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-03-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 小野田有吾;佐藤榮廣;長(zhǎng)谷川晶一;柳川香織;石橋清隆;加藤輝雄;中谷林太郎 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 日本株式會(huì)社日立高新技術(shù)科學(xué) |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01B11/24 | 分類(lèi)號(hào): | G01B11/24;G01B9/02 |
| 代理公司: | 北京三友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127 | 代理人: | 李輝;黃綸偉 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 使用 掃描 白色 干涉顯微鏡 三維 形狀 方法 | ||
1.一種三維形狀計(jì)測(cè)方法,其是使用了掃描型白色干涉顯微鏡的三維形狀計(jì)測(cè)方法,其中:
獲取來(lái)自對(duì)計(jì)測(cè)對(duì)象物進(jìn)行照射的光源的光的干涉信號(hào)的包絡(luò)線(xiàn),
根據(jù)所述包絡(luò)線(xiàn)的半值寬度獲取作為所觀(guān)測(cè)的表觀(guān)上的相干長(zhǎng)度的觀(guān)測(cè)相干長(zhǎng)度lc’,
根據(jù)所述觀(guān)測(cè)相干長(zhǎng)度lc’對(duì)所述計(jì)測(cè)對(duì)象物的表面的傾斜角度進(jìn)行計(jì)測(cè)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的三維形狀計(jì)測(cè)方法,其中,
所述觀(guān)測(cè)相干長(zhǎng)度lc’是由所述掃描型白色干涉顯微鏡的所述光源和波長(zhǎng)濾光器確定的基本相干長(zhǎng)度lc與作為所述基本相干長(zhǎng)度lc根據(jù)所述傾斜角度延長(zhǎng)的值的延長(zhǎng)Δz之和。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的三維形狀計(jì)測(cè)方法,其中,
根據(jù)所述延長(zhǎng)Δz和所述傾斜角度來(lái)計(jì)算所述計(jì)測(cè)對(duì)象物的表面的局部曲率半徑。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的三維形狀計(jì)測(cè)方法,其中,
所述基本相干長(zhǎng)度lc被設(shè)定為從與傾斜角度90度對(duì)應(yīng)的所述計(jì)測(cè)對(duì)象物的表面偏移與捕捉所述干涉信號(hào)的照相機(jī)的一個(gè)像素量相當(dāng)?shù)膬A斜角度θc后的表面中的所述延長(zhǎng)Δz以下。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的三維形狀計(jì)測(cè)方法,其中,
所述掃描型白色干涉顯微鏡具有與所述計(jì)測(cè)對(duì)象物對(duì)置配置的物鏡和捕捉所述干涉信號(hào)的照相機(jī),
在超過(guò)由所述物鏡的數(shù)值孔徑確定的臨界角度的傾斜角度處,通過(guò)在所述照相機(jī)的一個(gè)像素內(nèi)干涉信號(hào)相互抵消的附近的傾斜角度處的平均化處理,或者利用傅里葉分析去除與該傾斜角度對(duì)應(yīng)的周期成分,來(lái)提高信噪比S/N。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的三維形狀計(jì)測(cè)方法,其中,
通過(guò)從所述觀(guān)測(cè)相干長(zhǎng)度lc’減去所述延長(zhǎng)Δz來(lái)判斷所述計(jì)測(cè)對(duì)象物是否有膜。
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