[發(fā)明專利]一種介電特性測試裝置以及測量方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710710583.0 | 申請日: | 2017-08-17 |
| 公開(公告)號: | CN107462774B | 公開(公告)日: | 2019-09-27 |
| 發(fā)明(設計)人: | 劉偉娜;楊新偉;詹華偉;張滿滿;劉長虹 | 申請(專利權)人: | 河南師范大學 |
| 主分類號: | G01R27/26 | 分類號: | G01R27/26 |
| 代理公司: | 北京國坤專利代理事務所(普通合伙) 11491 | 代理人: | 趙紅霞 |
| 地址: | 453007 河*** | 國省代碼: | 河南;41 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 新型 特性 測試 裝置 以及 測量方法 | ||
1.一種介電特性測試裝置,其特征在于,該介電特性測試裝置包括:
一個輸入端口(3)和一個輸出端口Ⅰ(4),兩端口與矢量網(wǎng)絡分析儀相連通;
一個環(huán)形定向耦合器(6),其輸出端與輸出端口Ⅰ(4)相連通;
一個功分器(5),其輸入端與輸入端口(3)相連通;其輸出端口Ⅱ(10)和輸出端口Ⅲ(11)分別通過一條支路與環(huán)形定向耦合器(6)相連通;
一個基片集成波導圓形諧振器(7),連接在兩支路之間,用于樣品放置區(qū)域;
所述輸出端口Ⅱ(10)通過支路Ⅰ(9)與環(huán)形定向耦合器(6)的差端口(14)相連通;所述輸出端口Ⅲ(11)通過支路Ⅱ(8)環(huán)形定向耦合器(6)的和端口(13)相連通;
所述環(huán)形定向耦合器(6)的和端口(13)距輸出端口Ⅰ(4)的距離為λ/4;
所述環(huán)形定向耦合器(6)的差端口(14)距輸出端口Ⅰ(4)的距離為3λ/4,使得支路Ⅰ(9)和支路Ⅱ(8)的信號具有相反的信號;
與所述環(huán)形定向耦合器(6)的和端口(13)及差端口(14)相距均為λ/4的端口(15)接地(16)。
2.根據(jù)權利要求1所述的一種介電特性測試裝置,其特征在于:所述基片集成波導圓形諧振器(7)的兩邊有金屬化通孔(17),用來實現(xiàn)類似金屬波導的場傳播模式。
3.根據(jù)權利要求1所述的一種介電特性測試裝置,其特征在于:所述輸出端口Ⅱ(10)和輸出端口Ⅲ(11)之間粘貼有隔離電阻(12)。
4.根據(jù)權利要求3所述的一種介電特性測試裝置,其特征在于:所述隔離電阻(12)的阻值為100歐姆,所述輸出端口Ⅱ(10)和輸出端口Ⅲ(11)的阻抗均為50歐姆。
5.根據(jù)權利要求1所述的一種介電特性測試裝置,其特征在于:所述功分器(5)采用3dB威爾金森功分器;
所述基片集成波導圓形諧振器(7)的模式為TE111模。
6.一種基于權利要求1所述的介電特性測試裝置的測量方法,其特征在于:
根據(jù)微波傳輸?shù)奶攸c,信號由測試裝置的輸入端口(3)輸入,經(jīng)功分器(5)被分成兩路相同的信號,這兩路信號共同激勵基片集成波導蝶形諧振器(7),部分信號再繼續(xù)向前傳輸并等幅同相到達環(huán)形定向耦合器(6)的和端口(13)和差端口(14),最終從測試裝置的輸出端口Ⅰ(4)輸出,環(huán)形定向耦合器(6)的端口(15)接地或者接匹配負載。
7.根據(jù)權利要求6所述的一種介電特性測量方法,其特征在于:為便于測試及提高靈敏度,在基片集成波導蝶形諧振器(7)上加載盛放液體樣本的容器;如果被測物為塊狀固體或者粉末,則無需加裝任何器皿,可直接將被測物放置于基片集成波導蝶形諧振器(7)上進行測試;
最后由矢量網(wǎng)絡分析儀與該裝置組成的測試系統(tǒng)獲得不同測試物下對應的諧振頻率,最后由電磁場理論并結合神經(jīng)網(wǎng)絡方法提取被測物的介電常數(shù)。
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