[發明專利]用于OLED顯示設備的像素驅動電路有效
| 申請號: | 201710709604.7 | 申請日: | 2017-08-18 |
| 公開(公告)號: | CN107342052B | 公開(公告)日: | 2019-07-26 |
| 發明(設計)人: | 蔡玉瑩 | 申請(專利權)人: | 深圳市華星光電半導體顯示技術有限公司 |
| 主分類號: | G09G3/3258 | 分類號: | G09G3/3258 |
| 代理公司: | 深圳市銘粵知識產權代理有限公司 44304 | 代理人: | 孫偉峰;武岑飛 |
| 地址: | 518132 廣東省深*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 oled 顯示 設備 像素 驅動 電路 | ||
本發明提供了一種用于OLED顯示設備的像素驅動電路。該像素驅動電路采用4T2C的像素結構,以在OLED顯示設備在關機或者開機時檢測到驅動薄膜晶體管的閾值電壓以及有機發光二極管的開啟電壓,并在正常工作顯示時將該檢測到的閾值電壓和有機發光二極管的開啟電壓補償到數據信號中,從而消除驅動薄膜晶體管的閾值電壓對有機發光二極管的驅動電流的影響,進而提高OLED顯示設備顯示畫面的質量。
技術領域
本發明屬于顯示技術領域,具體地講,涉及一種用于OLED顯示設備的像素驅動電路。
背景技術
近年來,有機發光二極管(Organic Light-Emitting Diode,OLED)顯示設備成為國內外非常熱門的新興平面顯示設備產品,這是因為OLED顯示設備具有自發光、廣視角、短反應時間、高發光效率、廣色域、低工作電壓、薄厚度、可制作大尺寸與可撓曲的顯示設備及制程簡單等特性,而且它還具有低成本的潛力。
在OLED顯示設備中,通常利用薄膜晶體管(TFT)搭配電容存儲信號來控制OLED的亮度灰階表現。為了達到定電流驅動的目的,每個像素至少需要兩個TFT和一個儲存電容來構成,即2T1C模式。圖1是現有的OLED顯示設備的像素驅動電路的電路圖。參照圖1,現有的OLED顯示設備的像素驅動電路包括兩個薄膜晶體管(TFT)和一個電容器,具體地,包括一個開關TFT T1、一個驅動TFT T2和一個存儲電容器Cst。OLED的驅動電流由驅動TFT T2控制,其電流大小為:IOLED=k(Vgs-Vth)2,其中,k為驅動TFT T2的本征導電因子,由驅動TFT T2本身特性決定,Vth為驅動TFT T2的閾值電壓,Vgs為驅動TFT T2的柵極和源極之間的電壓。由于長時間的操作,驅動TFT T2的閾值電壓Vth會發生漂移,因此會導致OLED的驅動電流變化,從而使得OLED顯示設備出現顯示不良,進而影響顯示畫面的質量。
發明內容
為了解決上述現有技術的問題,本發明的目的在于提供一種能夠消除驅動薄膜晶體管的閾值電壓對有機發光二極管的驅動電流的影響的用于OLED顯示設備的像素驅動電路及OLED顯示設備。
根據本發明的一方面,提供了一種用于OLED顯示設備的像素驅動電路,所述像素驅動電路包括:第一薄膜晶體管、第二薄膜晶體管、第三薄膜晶體管、第四薄膜晶體管、第一電容器、第二電容器及有機發光二極管;所述第一薄膜晶體管的柵極電性連接于第一節點,且其源極電性連接于第二節點,且其漏極電性連接于直流電源正極;所述第二薄膜晶體管的柵極接入第二掃描信號,且其漏極電性連接于第一節點;所述第三薄膜晶體管的柵極接入第一掃描信號,且其源極電性連接于第二節點;所述第四薄膜晶體管的柵極接入第三掃描信號,且其漏極電性連接于第二節點;所述第一電容器的一端電性連接于第一節點,且其另一端電性連接于第二節點;所述第二電容器的一端電性連接于第二節點,且其另一端電性連接于低電位的參考信號;所述有機發光二極管的陽極電性連接于所述第三薄膜晶體管的漏極,且其陰極電性連接于直流電源負極;當所述OLED顯示設備關機或者開機時,所述第二薄膜晶體管的源極接入第一數據信號,所述第四薄膜晶體管的源極接入初始化信號或者電壓探測器,所述電壓探測器用于探測所述第一薄膜晶體管的閾值電壓以及所述有機發光二極管的開啟電壓,并分別生成閾值電壓信號和開啟電壓補償信號;當所述OLED顯示設備正常工作顯示時,所述第二薄膜晶體管的源極接入由所述閾值電壓信號、所述開啟電壓補償信號和原始數據信號組合形成的第二數據信號;其中,所述初始化信號和所述第一數據信號具有恒定低電位,所述原始數據信號具有單脈沖高電位。
進一步地,當所述OLED顯示設備關機或者開機時,所述像素驅動電路執行復位操作、閾值電壓感測操作和開啟電壓感測操作。
進一步地,當所述像素電路執行復位操作時,所述第一掃描信號為低電位,所述第二掃描信號和所述第三掃描信號為高電位,所述第四薄膜晶體管的源極接入所述初始化信號。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于深圳市華星光電半導體顯示技術有限公司,未經深圳市華星光電半導體顯示技術有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710709604.7/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





