[發明專利]射頻同軸連接器的時域反射單端測試裝置及方法在審
| 申請號： | 201710708974.9 | 申請日： | 2017-08-17 |
| 公開（公告）號： | CN107632233A | 公開（公告）日： | 2018-01-26 |
| 發明（設計）人： | 李慶婭;曲美君;鄧力;李書芳;張貫京;葛新科;張紅治 | 申請（專利權）人： | 深圳市景程信息科技有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/04 | 分類號： | G01R31/04;G01R19/25 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 518057 廣東省深圳市南山*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 射頻 同軸 連接器 時域 反射 測試 裝置 方法 | ||
1.一種射頻同軸連接器的時域反射單端測試裝置，其特征在于，所述射頻同軸連接器的時域反射單端測試裝置包括待測組件、同軸電纜、網絡分析儀以及計算機，其中：
所述待測組件包括陰頭轉陰頭的射頻同軸連接器、陽頭轉陰頭的射頻同軸連接器以及負載電阻，所述陰頭轉陰頭的射頻同軸連接器、陽頭轉陰頭的射頻同軸連接器和負載電阻依次串聯形成待測組件；
所述網絡分析儀的輸出端連接至同軸電纜的一端，該同軸電纜的另一端連接至待測組件中的陰頭轉陰頭的射頻同軸連接器上；
所述網絡分析儀的輸出端連接至計算機上，該網絡分析儀用于將待測組件進行時域反射測試得到待測組件的反射電壓信號，并將測量的反射電壓信號輸入到計算機上；
所述計算機包括適于實現各種指令的微處理器以及適于存儲多條指令的存儲器，所述指令由微處理器加載并執行如下步驟：
從網絡分析儀獲取待測組件的反射電壓信號，并檢測反射電壓信號的波峰值是否超過標準電壓；
當反射電壓信號的波峰值超過標準電壓時，利用二維坐標系建立反射電壓和時間之間的時域曲線圖；
利用時間距離坐標轉化公式將時域曲線圖中的橫坐標時間軸轉化為橫坐標距離軸；
將反射電壓信號的波峰值對應橫坐標距離軸上的距離數值作為待測組件中陽頭轉陰頭的射頻同軸連接器的故障位置。
2.如權利要求1所述的射頻同軸連接器的時域反射單端測試裝置，其特征在于，所述負載電阻和同軸電纜的電阻值均為50Ω。
3.如權利要求1所述的射頻同軸連接器的時域反射單端測試裝置，其特征在于，所述標準電壓是由同一類型未發生故障的陰頭轉陰頭的射頻同軸連接器、陽頭轉陰頭的射頻同軸連接器和負載電阻的電阻特性來確定。
4.如權利要求1所述的射頻同軸連接器的時域反射單端測試裝置，其特征在于，所述時域曲線圖在二維坐標系中以時間作為橫坐標時間軸，并以反射電壓作為縱坐標電壓軸。
5.如權利要求4所述的射頻同軸連接器的時域反射單端測試裝置，其特征在于，所述時間距離坐標轉化公式表示如下：
其中，L為橫坐標距離軸上的距離數值，V是電信號在陽頭轉陰頭的射頻同軸連接器中的傳播速度，T為橫坐標時間軸上對應的時間，C＝3.0×108m/s是光速，εr是以待測組件作為介質的介電常數。
6.一種射頻同軸連接器的時域反射單端測試方法，利用時域反射單端測試裝置對射頻同軸連接器進行測試，其特征在于，所述射頻同軸連接器的時域反射單端測試裝置包括待測組件、同軸電纜、網絡分析儀以及計算機，其中，所述待測組件包括陰頭轉陰頭的射頻同軸連接器、陽頭轉陰頭的射頻同軸連接器以及負載電阻，該方法包括步驟：
將所述陰頭轉陰頭的射頻同軸連接器、陽頭轉陰頭的射頻同軸連接器和負載電阻依次串聯形成待測組件；
將所述網絡分析儀的輸出端連接至同軸電纜的一端，并將同軸電纜的另一端連接至待測組件中的陰頭轉陰頭的射頻同軸連接器上，并將所述網絡分析儀的輸出端連接至計算機上；
利用網絡分析儀對待測組件進行時域反射測試得到待測組件的反射電壓信號，并將測量的反射電壓信號輸入到計算機上；
從網絡分析儀獲取待測組件的反射電壓信號，并檢測反射電壓信號的波峰值是否超過標準電壓；
當反射電壓信號的波峰值超過標準電壓時，利用二維坐標系建立反射電壓和時間之間的時域曲線圖；
利用時間距離坐標轉化公式將時域曲線圖中的橫坐標時間軸轉化為橫坐標距離軸；
將反射電壓信號的波峰值對應橫坐標距離軸上的距離數值作為待測組件中陽頭轉陰頭的射頻同軸連接器的故障位置。
7.如權利要求6所述的射頻同軸連接器的時域反射單端測試方法，其特征在于，所述負載電阻和同軸電纜的電阻值均為50Ω。
8.如權利要求6所述的射頻同軸連接器的時域反射單端測試方法，其特征在于，所述標準電壓是由同一類型未發生故障的陰頭轉陰頭的射頻同軸連接器、陽頭轉陰頭的射頻同軸連接器和負載電阻的電阻特性來確定。
9.如權利要求6所述的射頻同軸連接器的時域反射單端測試方法，其特征在于，所述時域曲線圖在二維坐標系中以時間作為橫坐標時間軸，并以反射電壓作為縱坐標電壓軸。
10.如權利要求9所述的射頻同軸連接器的時域反射單端測試方法，其特征在于，所述時間距離坐標轉化公式表示如下：
其中，L為橫坐標距離軸上的距離數值，V是電信號在陽頭轉陰頭的射頻同軸連接器中的傳播速度，T為橫坐標時間軸上對應的時間，C＝3.0×108m/s是光速，εr是以待測組件作為介質的介電常數。
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