[發明專利]樣本分析設備、加試劑裝置及其控制方法

有效

• 申請號: 201710703970.1
• 申請日: 2017-08-16
• 公開（公告）號: CN109406799B
• 公開（公告）日: 2022-03-04
• 發明（設計）人: 章姚輝;張明偉
• 申請（專利權）人: 北京普利生儀器有限公司
• 主分類號: G01N35/00
• 分類號: G01N35/00
• 代理公司: 華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 何平

1.一種加試劑裝置，其特征在于，包括：

驅動機構，所述驅動機 構用于輸出旋轉運動及往復升降運動；

固定架，連接于所述驅動機構，所述驅動機構帶動所述固定架做往復升降運動及旋轉運動，所述固定架包括第一固定端和第二固定端；

試劑針機構，包括第一試劑針和第二試劑針，所述第一試劑針設置于所述第一固定端上，所述第二試劑針設置于所述第二固定端上；

加熱機構，用于對所述第一試劑針與所述第二試劑針中的至少一個加熱；及

支撐架，連接并支撐所述固定架；

所述第一試劑針能夠執行吸取試劑、加熱試劑與吐出試劑操作，所述第二試劑針能夠執行吸取試劑、加熱試劑與吐出試劑操作，所述第一試劑針與所述第二試劑針中的一個執行加熱操作時，另一個可以執行吸取試劑、加熱試劑、吐出試劑操作中的一種或多種。

2.根據權利要求1所述的加試劑裝置，其特征在于，所述第一固定端與所述固定架中心之間的連線和所述第二固定端與所述固定架中心的連線的夾角范圍30°～180°。

3.根據權利要求2所述的加試劑裝置，其特征在于，所述第一固定端與所述固定架中心之間的連線和所述第二固定端與所述固定架中心連線的夾角為180°。

4.根據權利要求1至3任一項所述的加試劑裝置，其特征在于，所述加熱機構包括第一加熱部件及第二加熱部件，所述第一加熱部件用于對所述第一試劑針中的試劑加熱；所述第二加熱部件用于對所述第二試劑針中的試劑加熱。

5.根據權利要求4所述的加試劑裝置，其特征在于，所述加試劑裝置還包括控制機構，所述控制機構包括第一溫控主板及第二溫控主板，所述第一溫控主板與所述第二溫控主板分別設置于所述固定架上；

所述第一溫控主板與所述第一加熱部件電連接，用于控制所述第一加熱部件對試劑的加熱溫度；所述第二溫控主板與所述第二加熱部件電連接，用于控制所述第二加熱部件對試劑的加熱溫度。

6.根據權利要求5所述的加試劑裝置，其特征在于，所述控制機構還包括第一檢測主板及第二檢測主板，所述第一檢測主板與所述第二檢測主板均設置于所述固定架上；

所述第一檢測主板用于檢測所述第一試劑針吸取試劑的試劑瓶中的液位高度；所述第二檢測主板用于檢測所述第二試劑針吸取試劑的試劑瓶中的液位高度。

7.根據權利要求1至3任一項所述的加試劑裝置，其特征在于，所述加試劑裝置還包括清洗機構，所述清洗機構包括清洗主管、第一清洗支管及第二清洗支管；

所述第一清洗支管的一端與所述第一試劑針連通，所述第一清洗支管的另一端與所述清洗主管連通；所述第二清洗支管的一端與所述第二試劑針連通，所述第二清洗支管的另一端與所述清洗主管連通。

8.根據權利要求7所述的加試劑裝置，其特征在于，所述清洗主管上設置清洗主閥，所述第一清洗支管上設置第一清洗支閥，所述第二清洗支管上設置第二清洗支閥；其中，

所述清洗主閥及所述第一清洗支閥打開，所述第二清洗支閥關閉，以控制所述第一試劑針的清洗；

所述第一清洗支閥打開，所述清洗主閥及所述第二清洗支閥關閉，以控制所述第一試劑針吸取或吐出試劑。

9.根據權利要求8所述的加試劑裝置，其特征在于，所述清洗主閥及所述第一清洗支閥均關閉，以控制所述第一試劑針中試劑的加熱。

10.根據權利要求1所述的加試劑裝置，其特征在于，所述驅動機構包括轉軸、第一驅動組件和第二驅動組件，所述固定架設置于所述轉軸上，所述第一驅動組件安裝于所述第二驅動組件上，所述第一驅動組件與所述第二驅動組件均與所述轉軸連接，所述第一驅動組件用于驅動所述轉軸做旋轉運動，所述第二驅動組件用于驅動所述轉軸做升降運動。