[發明專利]一種ATE測試差分信號電平的方法

在審

• 申請號: 201710701801.4
• 申請日: 2017-08-16
• 公開（公告）號: CN107390113A
• 公開（公告）日: 2017-11-24
• 發明（設計）人: 顧春華;湯雪飛;季海英;顧良波;王錦
• 申請（專利權）人: 上海華嶺集成電路技術股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 上海海貝律師事務所31301
• 代理人: 范海燕

技術領域

本發明涉及信號測試領域，具體為一種ATE測試差分信號電平的方法。

背景技術

ATE是Automatic Test Equipment(自動化測試設備)的英文縮寫，是一種通過計算機控制進行器件、電路板和子系統等測試的設備，通過計算機編程取代人工勞動，自動化的完成測試序列；在一般情況下高速差分信號從上一級傳輸到下一級，為了消除傳輸線上阻抗不連續導致的信號反射，再下一級的接收端會跨接一個和傳輸線阻抗匹配的電阻，比如LVDS的100Ω(如圖1所示)，差分信號由于其適用于高速信號的傳輸，傳輸信號的差模電平都比較小，如lvds信號只有幾百個毫伏，通常在高速數字應用環境中的電信號通過同軸電纜或受控阻抗印刷電路傳輸，線路單端特性阻抗為50Ω，差分阻抗100Ω，在現有技術中是通過在差分信號的正端與負端連接電阻，高速數字訊號，主要是利用電阻來作終端匹配以降低反射。而差分訊號的終端電阻，一般都跨接在兩信號之間，但是這種方法在PCB板行增加了電阻，增加了PCB面積和成本，其次由于固定了電阻，如果要測量某些不需要終端電阻的參數，則無法實現。

發明內容

針對背景技術中存在的問題，本發明提供了一種ATE測試差分信號電平的方法。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：一種ATE測試差分信號電平的方法，包括以下步驟：

S10：將器件的差分信號的正端和負端分別接在ATE測試系統的指定通道上；

S20：設置器件差分信號輸出，預設Vt電壓為器件差分信號的輸出工模電壓，差分信號的正端和負端分別輸出相應的電壓V_SE+和V_SE-；

S30：設置變量Vt的循環語句；

S40：定義一個數據結構；

S50：測試動作的相關設置；

S60：基于循環語句最初始的Vt值，執行一次測量動作，分別得到第一對差分信號對的正端V_SE+和負端V_SE-的電壓，將值放入到數據結構中；

S70：V_SE+和V_SE-分別與Vt進行運算；

S80：判斷測試結果，若不符合則調整Vt值后再重新返回到程序設定當中，繼續測量按照步驟S70進行計算；若符合則結束運算；

作為本發明一種優選的技術方案，S30中還設置有起始常量、結束常量以及步進變量，該起始常量與結束常量分別為變量Vt的電壓改變范圍。

作為本發明一種優選的技術方案，S40中的數據結構包括差分信號正端pinname1、差分信號負端pinname2、差分信號正端測量電壓值value1與差分信號負端測量電壓值value2，并將所有要測試的差分信號對都先放入到數據結構中；

作為本發明一種優選的技術方案，S50中測量動作的相關設置包括：測量施加的電流、clamp電壓以及測量的次數；

作為本發明一種優選的技術方案，S60中的運算方式如下：

I_SE+＝(V_SE+-Vt)/50ΩI_SE-＝(Vt-V_SE+)/50Ω

作為本發明一種優選的技術方案，根據得到的I_SE+和I_SE+比較兩者的大小，如果I_SE+-I_SE-的絕對值大于一個標準，如10uA等，則調整Vt的值，調整方式為Vt＝0.5*(V_SE++V_SE-)。

作為本發明一種優選的技術方案，還包括S90步驟，S90為按照S10-S80步驟進行下一對差分信號對的測量，直到完成所有差分信號對的測試。

與現有技術相比，本發明的有益效果是：能夠快速、準確的得出需要量測差分信號滿足100Ω終端電阻條件下的輸出差模和共模電壓，而不需要借助在差分信號上實際增加100Ω的跨接電阻，增加外部電路和硬件成本，且逐一對所有差分信號對進行設置和測量，減少同時測量帶來的誤差影響。

附圖說明

圖1為現有技術中差分信號傳輸示意圖；

圖2為本發明步驟流程圖；

具體實施方式