[發明專利]太陽能電池漿料的干燥方法及系統在審
| 申請號: | 201710701674.8 | 申請日: | 2017-08-16 |
| 公開(公告)號: | CN107393850A | 公開(公告)日: | 2017-11-24 |
| 發明(設計)人: | 郭政;黃同陽;王旭東;蔡涔;岳晨輝 | 申請(專利權)人: | 君泰創新(北京)科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67;H01L31/18 |
| 代理公司: | 北京維澳專利代理有限公司11252 | 代理人: | 周放,姜溯洲 |
| 地址: | 100176 北京市大興區北京經*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 太陽能電池 漿料 干燥 方法 系統 | ||
技術領域
本發明涉及太陽能電池的制造方法,尤其涉及一種太陽能電池漿料的干燥方法及系統。
背景技術
光伏發電成為近年來迅速發展的清潔能源,針對異質結太陽能電池,其電極的制作是不可或缺的工序。
現有技術的電池生產過程中,電極的制作主要是將導電漿料通過絲網印刷形成所需的電極圖案,再經過熱風或紅外烘干燒結完成。
現有技術中的烘干爐和燒結爐采用單片或卡塞的方式擺放在金屬軌道上,這種爐體的體積大,熱吸收效率較低,而且成本高,電力損耗較大,設備維護成本高。
發明內容
本發明的目的是提供一種太陽能電池漿料的干燥方法及系統,以解決現有技術中的問題,提高生產效率,降低電力成本。
本發明提供了一種太陽能電池漿料的干燥方法,其中,包括如下步驟:
步驟S1、將當前電池片輸送至激光器的下方;
步驟S2、探測所述電池片的位置信息;
步驟S3、根據所述位置信息,啟動所述激光器發出激光束,以對所述電池片進行干燥。
如上所述的方法,其中,優選的是,所述步驟S3之后,所述方法還包括:
步驟S4、將所述電池片輸出,并停止所述激光器發出激光束;
步驟S5、等待下一個電池片的輸送;
重復步驟S1至步驟S5。
如上所述的方法,其中,優選的是,所述步驟S1具體包括:通過傳送帶將當前電池片輸送至激光器的下方。
如上所述的方法,其中,優選的是,所述步驟S2具體包括:通過傳感器探測所述電池片的位置信息。
如上所述的方法,其中,優選的是,所述步驟S3還包括:利用排風系統對干燥電池片的過程中產生的物質進行排放。
如上所述的方法,其中,優選的是,所述步驟S4還包括:在停止所述激光器發出激光束時,停止所述排風系統的排風操作;
所述步驟S5還包括:在下一個電池片輸送到位時,開啟所述排風系統。
如上所述的方法,其中,優選的是,利用排風系統對干燥電池片的過程中產生的物質進行排放具體包括:
控制排風系統持續開啟,利用排風系統對干燥電池片的過程中產生的物質進行排放。
本發明還提供了一種太陽能電池漿料的干燥系統,其中,包括激光器和主控制器;所述激光器用于對當前電池片進行干燥;所述主控制器用于根據所述電池片的位置信息,啟動所述激光器發出激光束,以對所述電池片進行干燥。
如上所述的系統,其中,優選的是,還包括傳送帶和傳感器,所述傳送帶用于將當前電池片輸送至激光器的下方,還用于將所述電池片輸出;
所述傳感器用于探測所述電池片的位置信息;
所述主控制器還用于當所述電池片輸出時,停止所述激光器發出激光束。
如上所述的系統,其中,優選的是,還包括排風系統,用于對干燥電池片的過程中產生的物質進行排放;
所述主控制器還用于在停止所述激光器發出激光束時,停止所述排風系統的排風操作;以及在下一個電池片輸送到位時,開啟所述排風系統;
或,所述主控制器還用于控制排風系統持續開啟。
本發明提供的太陽能電池漿料的干燥方法及系統通過控制激光器發出激光束來對電池片進行干燥,線型激光器烘干的爐體可以做的很小,與現有技術相比,節省了占地面積,進而增加了廠房的利用率。
附圖說明
圖1為本發明實施例提供的太陽能電池漿料的干燥系統的工作原理圖;
圖2為本發明實施例提供的太陽能電池漿料的干燥系統的結構簡圖;
圖3為本發明實施例提供的太陽能電池漿料的干燥方法的流程圖;
圖4為本發明又一實施例提供的太陽能電池漿料的干燥方法的流程圖。
附圖標記說明:
1-激光器 11-輸出頭 12-激光束 2-主控制器 3-電池片 4-間隙 5-傳送帶 6-傳感器 7-排風系統
具體實施方式
下面詳細描述本發明的實施例,所述實施例的示例在附圖中示出,其中自始至終相同或類似的標號表示相同或類似的元件或具有相同或類似功能的元件。下面通過參考附圖描述的實施例是示例性的,僅用于解釋本發明,而不能解釋為對本發明的限制。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





