[發(fā)明專利]半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的轉(zhuǎn)移方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710701036.6 | 申請日: | 2017-08-16 |
| 公開(公告)號: | CN107768297B | 公開(公告)日: | 2021-01-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳立宜;李欣薇;林師勤 | 申請(專利權(quán))人: | 美科米尚技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/683 | 分類號: | H01L21/683;H01L21/78;H01L21/67 |
| 代理公司: | 北京中譽(yù)威圣知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11279 | 代理人: | 王正茂;叢芳 |
| 地址: | 薩摩亞阿庇亞*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 結(jié)構(gòu) 轉(zhuǎn)移 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的轉(zhuǎn)移方法,包含以下步驟。首先,在承載基板上涂布粘著層。接著,在粘著層上設(shè)置半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),其中粘著層在配置之后包含粘著劑成分及界面活性劑成分。半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)包含主體及底部電極,底部電極在設(shè)置后位于主體及粘著層之間。然后,朝粘著層照射至少一個(gè)電磁波,以降低粘著層對半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的粘著力,但仍維持該半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)于該粘著層上的位置在可控制的范圍內(nèi)。其中承載基板、半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)及底部電極在紫外線與紅外線之間具有通帶。最后,在粘著層的粘著力降低后,將半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)自粘著層轉(zhuǎn)移至接收基板。本發(fā)明的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的轉(zhuǎn)移方法通過照射電磁波以降低粘著層的粘著力,使轉(zhuǎn)移更容易。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明是關(guān)于一種在成長基板及接收基板之間轉(zhuǎn)移至少一個(gè)半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的方法
背景技術(shù)
電子封裝技術(shù)正朝向進(jìn)一步地縮小邁進(jìn),其中微型元件封裝已成為當(dāng)今的重要領(lǐng)域,任何技術(shù)上的改進(jìn)皆為眾所盼望。
發(fā)明內(nèi)容
傳統(tǒng)轉(zhuǎn)移微型元件的方法是通過基板接合(Wafer Bonding)將微型元件自轉(zhuǎn)移基板轉(zhuǎn)移至接收基板。轉(zhuǎn)移方法的其中一種實(shí)施方法為直接轉(zhuǎn)移,也就是直接將微型元件陣列自轉(zhuǎn)移基板接合至接收基板,之后再將轉(zhuǎn)移基板移除。另一種實(shí)施方法為“間接轉(zhuǎn)移”。此方法包含兩次接合/剝離的步驟。在間接轉(zhuǎn)移中,轉(zhuǎn)置頭可將位于中間承載基板上的部分微型元件陣列拾起,然后再將微型元件陣列接合至接收基板,接著再把轉(zhuǎn)置頭移除。
本發(fā)明的目的在于提供一種通過照射電磁波以降低粘著層的粘著力,使轉(zhuǎn)移更容易的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的轉(zhuǎn)移方法。
依照本發(fā)明一些實(shí)施例,提供至少一個(gè)半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的轉(zhuǎn)移方法。此方法包含:在承載基板上涂布粘著層。在該粘著層上設(shè)置半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),使得半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)暫時(shí)粘附于粘著層上,其中粘著層至少在前述設(shè)置后包含至少一種粘著劑成分及至少一種界面活性劑成分。半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)包含主體及底部電極,底部電極在前述設(shè)置后位于主體及粘著層之間。朝粘著層照射至少一個(gè)第一電磁波,以降低粘著層對半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的粘著力,但仍維持半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)于粘著層上的位置在可控制的范圍內(nèi),其中承載基板及主體和底部電極的組合中的至少一個(gè)在紫外線與紅外線之間具有通帶。接著,在粘著層的粘著力降低后,將半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)自粘著層轉(zhuǎn)移至接收基板。
本發(fā)明上述實(shí)施方式通過照射至少一個(gè)電磁波,以降低粘著層對半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的粘著力。于此同時(shí),暫時(shí)粘附于粘著層上的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的位置,在進(jìn)行工藝時(shí)將會維持在可控制的范圍內(nèi),因此在粘著層的粘著力降低后,可輕易將半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)自粘著層轉(zhuǎn)移至接收基板。
附圖說明
通過參照附圖閱讀以下對實(shí)施例的詳細(xì)描述,可以更全面地理解本發(fā)明:
圖1至圖4及圖6A至圖9繪示依照本發(fā)明一實(shí)施例的至少一個(gè)半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的轉(zhuǎn)移方法的中間步驟的剖面示意圖。
圖5繪示依照本發(fā)明一實(shí)施例的經(jīng)切割工藝的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)及粘著層的放大剖面示意圖。
圖10及圖11繪示依照本發(fā)明另一實(shí)施例的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的轉(zhuǎn)移方法的中間步驟的剖面示意圖。
圖12繪示依照本發(fā)明另一實(shí)施例的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的轉(zhuǎn)移方法的中間步驟的剖面示意圖。
圖13繪示依照本發(fā)明另一實(shí)施例的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的轉(zhuǎn)移方法的中間步驟的剖面示意圖。
圖14A繪示依照本發(fā)明一實(shí)施例的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的轉(zhuǎn)移方法中當(dāng)轉(zhuǎn)置頭將要接觸半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的中間步驟的剖面示意圖。
圖14B繪示依照本發(fā)明一實(shí)施例的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的轉(zhuǎn)移方法中當(dāng)轉(zhuǎn)置頭接觸半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的中間步驟的剖面示意圖。
圖15A繪示依照本發(fā)明一實(shí)施例的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的轉(zhuǎn)移方法中當(dāng)轉(zhuǎn)置頭將要接觸半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的中間步驟的剖面示意圖。
圖15B繪示依照本發(fā)明一實(shí)施例的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的轉(zhuǎn)移方法中當(dāng)轉(zhuǎn)置頭接觸半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的中間步驟的剖面示意圖。
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- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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