[發(fā)明專利]迷你型太赫茲時(shí)域光譜測(cè)試系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710696334.0 | 申請(qǐng)日: | 2017-08-15 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107462547B | 公開(公告)日: | 2020-05-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳向前;龍明;陸堅(jiān);金建成;羅坤 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海拓領(lǐng)光電科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/3586 | 分類號(hào): | G01N21/3586 |
| 代理公司: | 上海申匯專利代理有限公司 31001 | 代理人: | 吳寶根;王晶 |
| 地址: | 201199 上海市*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 迷你型 赫茲 時(shí)域 光譜 測(cè)試 系統(tǒng) | ||
本發(fā)明涉及一種迷你型太赫茲時(shí)域光譜測(cè)試系統(tǒng),激光光源輻射的激光經(jīng)激光平面反射鏡反射后通過二分之一波片、偏振分束立方體得到相互垂直的泵浦光和探測(cè)光;泵浦光經(jīng)過第一四分之一波片、第一時(shí)間延遲模塊,再次經(jīng)過第一四分之一波片和偏振分束立方體后進(jìn)入到太赫茲發(fā)射模塊,輻射出平行的太赫茲波經(jīng)過帶樣品的測(cè)試裝置進(jìn)入太赫茲探測(cè)模塊;探測(cè)光經(jīng)過激光平面反射鏡、第二偏振分束立方體、第二四分之一波片到達(dá)第二時(shí)間延時(shí)模塊,經(jīng)反射后原路返回,再次經(jīng)過第二時(shí)間延遲模塊等進(jìn)入太赫茲探測(cè)模塊。利用不同樣品對(duì)于太赫茲波的吸收和色散特性,便可以根據(jù)測(cè)得的太赫茲信號(hào)進(jìn)行推算,得到不同待測(cè)樣品的太赫茲時(shí)域光譜信息,實(shí)現(xiàn)不同樣品的檢測(cè)功能。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種電磁波譜測(cè)試系統(tǒng),特別涉及一種迷你型太赫茲時(shí)域光譜測(cè)試系統(tǒng),屬于電磁波譜測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
在國(guó)際關(guān)系越來越緊張的21世紀(jì),對(duì)于爆炸物、違禁藥品、武器等危險(xiǎn)物品的探測(cè)越來越重要,危險(xiǎn)品檢測(cè)系統(tǒng)的發(fā)展已經(jīng)成為國(guó)防相關(guān)研究和發(fā)展項(xiàng)目的首要任務(wù)。隨著近幾十年科學(xué)和技術(shù)的迅速發(fā)展,太赫茲時(shí)域光譜技術(shù)已被證明是一種創(chuàng)新的成像技術(shù)。太赫茲波的光譜信息可以提供大多數(shù)危險(xiǎn)品和相關(guān)化合物的光學(xué)幅值和相位信息,在爆炸物、違禁藥品、武器等危險(xiǎn)物品的識(shí)別、無損檢測(cè)、細(xì)胞分子等領(lǐng)域有廣泛應(yīng)用前景。
太赫茲頻段內(nèi)擁有多種分子的轉(zhuǎn)動(dòng)或振動(dòng)能級(jí),大量的分子因?yàn)樘幱谔掌濐l段而具備很強(qiáng)的吸收和色散特性,且1 THz的光子能量?jī)H為4.1 meV,與X射線相比,太赫茲波不會(huì)造成活體組織細(xì)胞的損傷。根據(jù)太赫茲波的以上特性能夠?qū)⑻掌澆ㄓ糜诟鞣N物品的無損檢測(cè),一旦建立相關(guān)物品的太赫茲頻譜特征數(shù)據(jù)庫,檢測(cè)方式就如同識(shí)別“指紋”一樣方便。
然而傳統(tǒng)的自由空間傳播太赫茲時(shí)域光譜系統(tǒng)通常體積較為龐大、結(jié)構(gòu)復(fù)雜、成本昂貴,缺乏靈活移動(dòng)性,且激光器、光路結(jié)構(gòu)以及太赫茲發(fā)射接收器件等都需固定在工作臺(tái)上,易于受到環(huán)境擾動(dòng),對(duì)于測(cè)試對(duì)象的尺寸和形狀均有要求,透反射模式切換比較復(fù)雜,這些因素都限制了自由空間傳播太赫茲時(shí)域系統(tǒng)的實(shí)際應(yīng)用。因此,設(shè)計(jì)一款體積小,可方便切換模式,能自由移動(dòng),穩(wěn)定性強(qiáng),且具備成像功能的迷你型太赫茲時(shí)域光譜測(cè)試系統(tǒng)顯得尤為重要。因此,需要提出一種體積小,結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)潔,容易操作的迷你型太赫茲時(shí)域光譜系統(tǒng)的裝置。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是針對(duì)目前太赫茲時(shí)域系統(tǒng)通常體積較為龐大、結(jié)構(gòu)復(fù)雜、成本昂貴,缺乏靈活移動(dòng)性,易受環(huán)境影響的問題,提出了一種迷你型太赫茲時(shí)域光譜檢測(cè)系統(tǒng),該系統(tǒng)體積小,結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)潔,具有靈活移動(dòng)性,可以自由切換測(cè)試模式,信噪比高,并具備太赫茲成像功能,成像效果好,可廣泛應(yīng)用于科學(xué)研究和工業(yè)領(lǐng)域的太赫茲光譜測(cè)試及成像。
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- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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