[發明專利]碳酸鹽巖表層縫洞儲集體刻畫方法

有效

• 申請號: 201710692370.X
• 申請日: 2017-08-14
• 公開（公告）號: CN109387870B
• 公開（公告）日: 2020-06-23
• 發明（設計）人: 劉坤巖;鄔興威;司朝年;韓東;解麗慧;王萍
• 申請（專利權）人: 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司石油勘探開發研究院
• 主分類號: G01V1/30
• 分類號: G01V1/30;G01V1/50;G06F17/18
• 代理公司: 北京聿宏知識產權代理有限公司 11372
• 代理人: 吳大建;張杰

本發明公開了一種碳酸鹽巖表層縫洞儲集體刻畫方法。該方法包括計算碳酸鹽巖表層的第一深度范圍內的均方根振幅屬性和計算第二深度范圍內的相對波阻抗屬性，根據計算得到的兩種屬性建立回歸函數，根據回歸函數將一種屬性轉換成另一種屬性，并分別根據經轉換的屬性和未經轉換的屬性的值域刻畫縫洞儲集體，得到兩個縫洞儲集體數據，對兩個縫洞儲集體數據進行耦合即得到碳酸鹽巖表層縫洞儲集體的耦合數據體。本發明避免了利用均方根振幅屬性對碳酸鹽巖表層進行刻畫時出現的刻畫漏失的問題，提高了刻畫結果與實鉆井的吻合率，為剩余油挖潛、提高縫洞型油藏采收率提供了可靠依據。

技術領域

本發明涉及石油勘探地震儲層預測技術領域，尤其涉及一種碳酸鹽巖表層縫洞儲集體刻畫方法。

背景技術

表層是指碳酸鹽巖地層不整合面(T₇⁴)之下0-60米范圍內的地層。縫洞是塔河碳酸鹽巖地層油氣主要儲集空間，表層縫洞體是奧陶系油氣主要生產層段，因此表層縫洞儲集體的刻畫對于提高鉆井成功率及油藏采收率具有重要意義。

縫洞儲集體在奧陶系地層中主要表現為“串珠”狀強反射，而表層縫洞體由于距T₇⁴風化殼界面較近，位于四分之一地震反射波長(50米)附近，同時受T₇⁴強同相軸干涉影響，表層縫洞儲集體反射特征不易識別，精細刻畫更加困難

目前縫洞儲集體的刻畫方法主要有：

1.利用振幅類屬性較大值刻畫

由于常規縫洞儲集體表現為“強串珠”狀反射，“強串珠”狀反射表現為強反射振幅。而接近T₇⁴界面的表層縫洞儲集體信號與T₇⁴界面強信號之間會發生相互干涉，使得接近T₇⁴界面的縫洞儲集體表現為弱振幅反射。因此，利用振幅類屬性較大值刻畫存在表層儲集體漏失現象，使得縫洞儲集體刻畫不完整。

2.利用能量類屬性較大值刻畫

由于常規縫洞儲集體表現為“串珠”狀強能量反射，因此采用能量屬性刻畫縫洞時，需要濾除能量低值，保留反映縫洞儲集體的能量高值。而能量類屬性計算的是波形樣點振幅值的平方，犧牲了垂向分辨率，使得垂向分辨率較低，也不能準確反映表層縫洞體的空間展布。

發明內容

本發明所要解決的是現有的碳酸鹽巖表層縫洞儲集體的刻畫方法存在表層儲集體刻畫的漏失以及不能準確的反映表層縫洞體的空間展布的問題。

為了解決上述技術問題，本發明提供了一種碳酸鹽巖表層縫洞儲集體刻畫方法，包括

計算碳酸鹽巖表層的第一深度范圍內的均方根振幅屬性；

計算碳酸鹽巖表層的第二深度范圍內的相對波阻抗屬性；

建立用于將相對波阻抗屬性轉換為均方根振幅屬性的第一回歸函數和用于將均方根振幅屬性轉換為相對波阻抗屬性的第二回歸函數；

從所述均方根振幅屬性和所述相對波阻抗屬性中確定待轉換的第一屬性和不進行轉換的第二屬性，根據第一屬性從所述第一回歸函數和第二回歸函數中選擇相應的回歸函數，用于將所述第一屬性換成第二屬性，并分別根據經轉換得到的第二屬性的值域和未經轉換的第二屬性的值域開展空間縫洞儲集體刻畫，得到第一深度范圍內的第一縫洞儲集體數據和第二深度范圍內的第二縫洞儲集體數據；

對所述第一縫洞儲集體數據和所述第二縫洞儲集體數據進行空間耦合，得到所述碳酸鹽巖表層縫洞儲集體的耦合數據體；

其中，所述第一深度范圍和所述第二深度范圍指距碳酸鹽巖表層不整合面的距離范圍，所述第一深度范圍的下限為0m，所述第二深度范圍的上限為60m，所述第一深度范圍的上限大于等于第二深度范圍的下限。