[發(fā)明專利]發(fā)電機波形測量

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710686978.1
• 申請日: 2017-08-11
• 公開（公告）號: CN107765180B
• 公開（公告）日: 2021-08-10
• 發(fā)明（設(shè)計）人: I·S·弗蘭普頓;D·W·多恩
• 申請（專利權(quán)）人: 科勒公司
• 主分類號: G01R31/34
• 分類號: G01R31/34
• 代理公司: 北京邦信陽專利商標(biāo)代理有限公司 11012
• 代理人: 鄭世奇

1.一種用于迭代地分析發(fā)電機運行的方法，所述方法包括：

識別發(fā)電機波形；

在所述發(fā)電機波形上執(zhí)行離散分析；

執(zhí)行第一組波形模板與所述發(fā)電機波形的所述離散分析的結(jié)果之間的第一比較；

基于所述第一比較選擇所述第一組波形模板中的一個模板；

執(zhí)行第二組波形模板與所述發(fā)電機波形的所述離散分析的結(jié)果之間的第二比較；

基于所述第二比較選擇所述第二組波形模板中的一個模板；

基于所述第二組波形模板中的所選擇的一個模板來識別針對所述發(fā)電機波形的特征值；以及

基于來自所述第二組波形模板中的所選擇的一個模板的所述特征值計算發(fā)電機參數(shù)，其中每個波形模板與相角值相關(guān)聯(lián)，所述發(fā)電機參數(shù)包括針對所述發(fā)電機波形的功率因數(shù)、針對所述發(fā)電機波形的無功功率值、針對所述發(fā)電機波形的用戶圖表。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述特征值是相角。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述特征值是第一特征相位值，以及所述發(fā)電機波形是第一發(fā)電機波形，所述方法包括：

識別用于第二發(fā)電機波形的第二特征相位值，其中所述發(fā)電機參數(shù)基于所述第一特征相位值和所述第二特征相位值之間的差值。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述第一組波形模板中的所選擇的一個模板被包括在所述第二組波形模板中。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述第一組波形模板包括兩個波形模板或者四個波形模板。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，進一步包括：

使用波形模板的迭代序列來建立所述特征值，以提高所述特征值的精確度。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述特征值是頻率或幅度。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，進一步包括：

基于所述發(fā)電機參數(shù)確定所述發(fā)電機的輸出，其中所述特征值是幅度。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，進一步包括：

基于所述發(fā)電機參數(shù)確定所述發(fā)電機的勵磁電流。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，進一步包括：

基于所述發(fā)電機參數(shù)生成發(fā)電機并聯(lián)命令。

11.一種用于迭代地分析發(fā)電機的運行的裝置，所述裝置包括：

模板模塊，所述模板模塊被配置成生成多個波形模板；

模板比較器，所述模板比較器被配置成執(zhí)行第一組多個波形模板與發(fā)電機波形之間的第一比較，基于所述第一比較選擇所述第一組多個 波形模板中的一個模板，執(zhí)行第二組波形模板與所述發(fā)電機波形的離散分析的結(jié)果之間的第二比較，以及基于所述第二比較選擇所述第二組波形模板中的一個模板；以及

發(fā)電機命令模塊，所述發(fā)電機命令模塊被配置成基于所述第二組波形模板中的所選擇的一個模板來識別針對所述發(fā)電機波形的特征值，以及基于來自所述第二組波形模板中的所選擇的一個模板的特征值來計算發(fā)電機參數(shù)，其中每個波形模板與相角值相關(guān)聯(lián)，所述發(fā)電機參數(shù)包括針對所述發(fā)電機波形的功率因數(shù)、針對所述發(fā)電機波形的無功功率值、針對所述發(fā)電機波形的用戶圖表。