[發明專利]制作黑硅及黑硅表面鈍化層的方法有效
| 申請號: | 201710686567.2 | 申請日: | 2017-08-08 |
| 公開(公告)號: | CN107482084B | 公開(公告)日: | 2019-02-01 |
| 發明(設計)人: | 李華高;雷仁方;廖乃鏝;楊修偉;郭培 | 申請(專利權)人: | 中國電子科技集團公司第四十四研究所 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18 |
| 代理公司: | 重慶輝騰律師事務所 50215 | 代理人: | 侯懋琪;侯春樂 |
| 地址: | 400060 重慶*** | 國省代碼: | 重慶;50 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 制作 表面 鈍化 方法 | ||
1.一種制作黑硅及黑硅表面鈍化層的方法,包括硅材質的工藝片;其特征在于:所述方法包括:
1)將工藝片浸入第一溶液中,待黑硅形成后,將工藝片從第一溶液中取出;所述第一溶液為硝酸銅、過氧化氫和氫氟酸的混合溶液;工藝片浸泡過程中,采用水浴加熱方式,將第一溶液的溫度控制在25~40℃;
2)用氫氟酸溶液對黑硅進行腐蝕,待黑硅表面的自然氧化層被腐蝕掉后,將工藝片清洗干凈;
3)將工藝片浸入第二溶液中,待黑硅表面形成致密的銅膜后,將工藝片從第二溶液中取出,然后用去離子水將工藝片清洗干凈,然后對工藝片進行脫水處理;所述第二溶液為硝酸銅和氫氟酸的混合溶液;
4)在氮氣氛圍中對工藝片進行加熱,加熱溫度為200℃,加熱時間為1小時,加熱過程中,黑硅表面有銅硅生成;加熱結束后,使工藝片暴露在常溫空氣中,黑硅表面就會生長出二氧化硅鈍化層,二氧化硅鈍化層厚度滿足要求后,將工藝片浸入硝酸溶液中,將工藝片上殘留的銅去除干凈,然后將工藝片從硝酸溶液中取出,然后用去離子水將工藝片清洗干凈,然后對工藝片進行脫水處理,操作完成。
2.根據權利要求1所述的制作黑硅及黑硅表面鈍化層的方法,其特征在于:步驟1)的操作結束后,用去離子水將工藝片清洗干凈,然后將工藝片浸入第三溶液中,一定時間后將工藝片從第三溶液中取出,然后再進行步驟2)的操作;所述第三溶液為硝酸銅、氟化氫銨和過氧化氫的混合溶液。
3.根據權利要求1或2所述的制作黑硅及黑硅表面鈍化層的方法,其特征在于:在進行步驟1)的操作之前,按如下方式對工藝片進行預處理:在工藝片表面生長二氧化硅氧化層,然后用氫氟酸溶液將二氧化硅氧化層腐蝕掉。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





