[發(fā)明專(zhuān)利]基于漏磁信號(hào)的垂直分量的缺陷輪廓識(shí)別方法及裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710686539.0
• 申請(qǐng)日: 2017-08-11
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN107607612B
• 公開(kāi)（公告）日: 2019-11-22
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 黃松嶺;彭麗莎;趙偉;王珅;于歆杰;李世松
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 清華大學(xué)
• 主分類(lèi)號(hào): G01N27/83
• 分類(lèi)號(hào): G01N27/83
• 代理公司: 11201 北京清亦華知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)
• 代理人: 張潤(rùn)<國(guó)際申請(qǐng)>=<國(guó)際公布>=<進(jìn)入國(guó)

本發(fā)明公開(kāi)了基于漏磁信號(hào)的垂直分量的缺陷輪廓識(shí)別方法及裝置，其中，該方法包括：首先，獲取待識(shí)別缺陷的漏磁信號(hào)的垂直分量；接著，對(duì)垂直分量進(jìn)行識(shí)別，判定缺陷的各個(gè)直角的直角特征和直角位置點(diǎn)；接著，根據(jù)所述直角特征獲取所述缺陷的各個(gè)直角位置點(diǎn)的可能的直角類(lèi)型；接著，將各個(gè)可能的直角類(lèi)型在對(duì)應(yīng)的直角位置點(diǎn)進(jìn)行遍歷，確定各個(gè)直角位置點(diǎn)對(duì)應(yīng)的最佳直角類(lèi)型；最后，根據(jù)各個(gè)直角位置點(diǎn)對(duì)應(yīng)的最佳直角類(lèi)型繪制缺陷的輪廓以完成缺陷輪廓識(shí)別。該方法只需對(duì)漏磁信號(hào)的垂直分量進(jìn)行計(jì)算分析，通過(guò)判定各個(gè)直角的直角特征、在缺陷幾何拓?fù)鋱D中進(jìn)行遍歷搜尋等操作，實(shí)現(xiàn)缺陷輪廓識(shí)別，具有較好的識(shí)別效果。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及漏磁檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種基于漏磁信號(hào)的垂直分量的缺陷輪廓識(shí)別方法及裝置。

背景技術(shù)

缺陷輪廓識(shí)別是漏磁檢測(cè)技術(shù)的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，對(duì)于缺陷評(píng)估具有重要作用。漏磁信號(hào)表征為三維漏磁信號(hào)，包括水平分量、法向分量、垂直分量，其中漏磁信號(hào)的垂直分量相較于其水平分量和法向分量，信號(hào)強(qiáng)度弱且難以直觀體現(xiàn)缺陷邊界，因此很少被單獨(dú)應(yīng)用于漏磁檢測(cè)及其缺陷輪廓識(shí)別技術(shù)中。目前常用的漏磁檢測(cè)方案和缺陷識(shí)別方法大都是基于漏磁信號(hào)的水平分量、法向分量或其綜合信號(hào)開(kāi)展設(shè)計(jì)和研究的。然而漏磁信號(hào)的垂直分量對(duì)缺陷直角具有很高的檢測(cè)靈敏度，且對(duì)于不同的缺陷直角類(lèi)型，具有不同的信號(hào)特征，因此可以利用漏磁信號(hào)的垂直分量這一特性對(duì)缺陷直角類(lèi)型進(jìn)行判斷，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)缺陷輪廓識(shí)別，這對(duì)于充分挖掘和利用漏磁信號(hào)中的垂直分量信息，實(shí)現(xiàn)對(duì)缺陷直角特征的準(zhǔn)確定位和識(shí)別具有重要意義。目前尚未為利用漏磁信號(hào)的垂直分量的直角特征信息實(shí)現(xiàn)缺陷輪廓識(shí)別的方法。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的旨在至少在一定程度上解決上述的技術(shù)問(wèn)題之一。

為此，本發(fā)明的第一個(gè)目的在于提出一種基于漏磁信號(hào)的垂直分量的缺陷輪廓識(shí)別方法，首先，獲取待識(shí)別缺陷的漏磁信號(hào)的垂直分量；接著，對(duì)垂直分量進(jìn)行識(shí)別，判定缺陷的各個(gè)直角的直角特征和直角位置點(diǎn)；接著，根據(jù)所述直角特征獲取所述缺陷的各個(gè)直角位置點(diǎn)的可能的直角類(lèi)型；接著，將各個(gè)可能的直角類(lèi)型在對(duì)應(yīng)的直角位置點(diǎn)進(jìn)行遍歷，確定各個(gè)直角位置點(diǎn)對(duì)應(yīng)的最佳直角類(lèi)型；最后，根據(jù)各個(gè)直角位置點(diǎn)對(duì)應(yīng)的最佳直角類(lèi)型繪制缺陷的輪廓以完成缺陷輪廓識(shí)別。該方法只需對(duì)漏磁信號(hào)的垂直分量進(jìn)行計(jì)算分析，通過(guò)判定各個(gè)直角的直角特征、在缺陷幾何拓?fù)鋱D中進(jìn)行遍歷搜尋等操作，實(shí)現(xiàn)缺陷輪廓識(shí)別，具有較好的識(shí)別效果，且為基于三維漏磁信號(hào)的缺陷輪廓特征識(shí)別，提供了有效準(zhǔn)確的缺陷直角特征等相關(guān)信息，方法簡(jiǎn)單、缺陷直角識(shí)別率高。

本發(fā)明的第二個(gè)目的在于提出一種基于漏磁信號(hào)的垂直分量的缺陷輪廓識(shí)別裝置。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明第一方面實(shí)施例的基于漏磁信號(hào)的垂直分量的缺陷輪廓識(shí)別方法，包括：

獲取待識(shí)別缺陷的漏磁信號(hào)的垂直分量；

對(duì)所述垂直分量進(jìn)行識(shí)別，判定所述缺陷的各個(gè)直角的直角特征和直角位置點(diǎn)；

根據(jù)所述直角特征獲取所述缺陷的各個(gè)直角位置點(diǎn)的可能的直角類(lèi)型；

將各個(gè)可能的直角類(lèi)型在對(duì)應(yīng)的直角位置點(diǎn)進(jìn)行遍歷，確定各個(gè)直角位置點(diǎn)對(duì)應(yīng)的最佳直角類(lèi)型；

根據(jù)所述各個(gè)直角位置點(diǎn)對(duì)應(yīng)的最佳直角類(lèi)型繪制所述缺陷的輪廓以完成缺陷輪廓識(shí)別。

如上所述的方法，所述將各個(gè)可能的直角類(lèi)型在對(duì)應(yīng)的直角位置點(diǎn)進(jìn)行遍歷，確定各個(gè)直角位置點(diǎn)對(duì)應(yīng)的最佳直角類(lèi)型包括：

將各個(gè)直角位置點(diǎn)的可能的直角類(lèi)型進(jìn)行排列組合；

根據(jù)排列組合結(jié)果構(gòu)建缺陷幾何拓?fù)鋱D；

遍歷所述缺陷幾何拓?fù)鋱D；

在從所述缺陷幾何拓?fù)鋱D中獲取的組合結(jié)果對(duì)應(yīng)的缺陷為閉合缺陷時(shí)，停止遍歷；